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標(biāo)簽 > 芯片測試
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ATECLOUD芯片測試設(shè)備測試電源芯片持續(xù)電流的方法
連續(xù)電流(持續(xù)電流)是指元器件在工作狀態(tài)下內(nèi)部電流持續(xù)流動的狀態(tài),一般都是用于對元器件允許連續(xù)通過電流限制的一種描述。比如電源芯片允許的持續(xù)電流,就表示...
8月20-22日,第七屆全國大學(xué)生集成電路創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)大賽全國總決賽在重慶舉辦,“加速科技杯”中有26支優(yōu)秀隊伍從四百多支報名隊伍中脫穎而出,獲得總決賽各項...
電路基礎(chǔ)知識。芯片測試涉及到電子電路的測量和分析,因此需要具備扎實的電路基礎(chǔ)知識,包括電子元器件、電路分析方法等。
聯(lián)訊儀器裸Die半導(dǎo)體激光器芯片測試機(jī)
芯片良率是影響企業(yè)成本的重要因素之一,半導(dǎo)體激光器屬于化合物半導(dǎo)體,其主要材質(zhì)以非常脆的砷化鎵、磷化銦為主,在其制備的各個工藝環(huán)節(jié),良品率不高是一個普遍...
新品首秀 熱度爆表!加速科技精彩亮相SEMICON China 2023
6月29日,半導(dǎo)體行業(yè)盛會SEMICON China 2023在上海新國際博覽中心盛大啟幕,展會吸引了國內(nèi)外半導(dǎo)體領(lǐng)域的頂級技術(shù)提供商參展。加速科技作為...
在芯片測試中,分類和選擇是關(guān)鍵的步驟,以確保芯片的質(zhì)量和可靠性。根據(jù)不同的測試目標(biāo)和要求,可以采用不同的分類方法和選擇策略。
在芯片開發(fā)中,操作系統(tǒng)(OS)是一個核心組件,它負(fù)責(zé)管理硬件資源,提供API和服務(wù),使應(yīng)用程序能夠運(yùn)行。為確保操作系統(tǒng)的質(zhì)量和性能,需要進(jìn)行一系列測試和驗證。
2023-06-27 標(biāo)簽:芯片操作系統(tǒng)芯片測試 2566 0
SEMICON China 2023于6月29日-7月1日在上海新國際博覽中心隆重舉行。作為業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的半導(dǎo)體測試設(shè)備供應(yīng)商,加速科技一直致力于打造國產(chǎn)化...
ATECLOUD智能云測試平臺助力企業(yè)創(chuàng)新發(fā)展數(shù)字化轉(zhuǎn)型
在數(shù)字化時代,企業(yè)的數(shù)字化轉(zhuǎn)型已成為推動經(jīng)濟(jì)發(fā)展的重要動力。為了幫助企業(yè)更好地進(jìn)行數(shù)字化轉(zhuǎn)型,財政部和工業(yè)和信息化部聯(lián)合發(fā)布了一份報告,建議打造一批數(shù)字...
冠軍誕生!2021“創(chuàng)芯中國”集成電路創(chuàng)新挑戰(zhàn)賽芯片測試賽項(華南賽區(qū))圓滿收官
9月26日,由杭州加速科技有限公司聯(lián)合主辦的2021“創(chuàng)芯中國”集成電路創(chuàng)新挑戰(zhàn)賽芯片測試賽項(華南賽區(qū))圓滿收官。14支參賽隊伍同臺競技,大顯身手,經(jīng)...
芯片測試座是一種電子元器件,它是用來測試集成電路芯片的設(shè)備,它可以用來測試和檢查電路芯片的性能,以確保其達(dá)到規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)。
集成電路芯片的測試(ICtest)分類包括:分為晶圓測試(wafertest)、芯片測試(chiptest)和封裝測試(packagetest)。
對于大多數(shù)產(chǎn)品來說,在上市初期都是更看重它的性能,但如果想要長期發(fā)展,那么品質(zhì)必須決定產(chǎn)品的長期價值。其實這個道理很簡單,但是在我國芯片產(chǎn)業(yè)的發(fā)展中卻沒...
芯片測試治具是一種用于芯片測試的實驗室設(shè)備,可以實現(xiàn)芯片的功能測試、參數(shù)測試和性能測試,它可以幫助電子工程師驗證芯片的性能和可靠性,實現(xiàn)芯片的精確測試和優(yōu)化。
芯片從設(shè)計到成品有幾個重要環(huán)節(jié),分別是設(shè)計->流片->封裝->測試,但芯片成本構(gòu)成的比例確大不相同,一般為人力成本20%,流片40%,...
是德科技在北京舉辦【是德科技通信與芯片測試行業(yè)峰會】探討5G、B5G、6G新技術(shù)的發(fā)展與相關(guān)熱門領(lǐng)域的測試方案,并在現(xiàn)場進(jìn)行高速誤碼儀與示波器等產(chǎn)品的演...
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