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標(biāo)簽 > 測(cè)試芯片
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我們平時(shí)使用的jlink調(diào)試器就是使用JTAG接口,JTAG以前是用于測(cè)試芯片的一種通信方式,現(xiàn)在部分ARM或者DSP等都存在JTAG接口,這樣我們就可...
在 電子小幫手電路中電源開(kāi)關(guān)電路分析[1] 中介紹測(cè)量模塊電路實(shí)驗(yàn)原理的時(shí)候,對(duì)于ATmega系列的 單片機(jī)的輸出端口進(jìn)行了內(nèi)部描述[2]
第一個(gè)使用5納米制造工藝制造的測(cè)試芯片的磁帶
磁帶中沒(méi)有有源器件,這只是金屬2和金屬3的后端圖案,以及它們之間的切口,鏈接和通孔結(jié)構(gòu)。目標(biāo)晶體管是FinFET,M2和M3信息來(lái)自完整的處理器設(shè)計(jì),盡...
2019-08-09 標(biāo)簽:PCB打樣測(cè)試芯片華強(qiáng)PCB 1708 0
IC設(shè)計(jì)流程相關(guān)名詞梳理(含各流程EDA工具梳理)
對(duì)設(shè)計(jì)的功能進(jìn)行仿真驗(yàn)證,需要激勵(lì)驅(qū)動(dòng),是動(dòng)態(tài)仿真。仿真驗(yàn)證工具M(jìn)entor公司的 Modelsim, Synopsys的VCS,還有Cadence的N...
2023-05-09 標(biāo)簽:asicIC設(shè)計(jì)測(cè)試芯片 1132 0
USB端子±4KV接觸放電測(cè)試芯片損壞問(wèn)題分析
EMC測(cè)試人員反饋對(duì)USB端子的金屬外殼進(jìn)行±4KV接觸放電后系統(tǒng)無(wú)法開(kāi)機(jī),分析確認(rèn)芯片已經(jīng)損壞,造成系統(tǒng)無(wú)法正常開(kāi)機(jī)。實(shí)驗(yàn)室模擬對(duì)雙層USB端子進(jìn)行±...
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