普密斯光譜對焦測厚系統,雙光譜測量精度高,穩定量測各類材質

傳感器光譜傳感器在線測厚測量系統

型號： SFS系列

品牌： POMEAS(普密斯)

--- 產品參數 ---

傳感測量頭1 SFS-D8022
單邊工作距離1 22mm
傳感測量頭2 SFS-D8055
單邊工作距離2 55mm
對射測厚量程1 1mm
對射測厚量程2 1.5mm
精度1 1um
精度2 5um
采樣頻率 200~2000 Point/sec
工作溫度 5℃~40℃
電源/功耗 24V DC2A

--- 數據手冊 ---

光譜對焦測厚系統.pdf

--- 產品詳情 ---

產品簡介

——

普密斯光譜對焦測厚系統，雙光譜相比單向測量精度更高，穩定量測各類材質，測頭結構輕巧，易整合于各行業之自動化測量應用

產品優勢

——

1、穩定量測各類材質,例如金屬/陶瓷/鏡面/玻璃等；

2、適用于各種工件形貌（包含深孔/斜面/弧面）之特征尺寸量測，例如高度/段差/厚度/平面度/輪廓度等；

3、高溫高壓等嚴苛操作條件下亦能正常使用；

4、測頭結構輕巧，易整合于各行業之自動化測量應用。

應用領域

——

◆ 手機，平板，電腦等金屬機殼機加制造業
◆ PCB板，連接器，IC芯片等電子業
◆ 面板，玻璃，鋼化膜等行業
◆ 半導體晶圓，綠能，光伏等行業

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