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　　圖7 F2對F1的頻率進行追蹤設置

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　　圖8 F3對F2進行抽點和濾波設置(濾波之前先對波形進行抽點運算，可提高速度和更為平滑的進行濾波)

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　　圖9 F5對F1進行SSCTrack的設置

　　由于SSC波形的頻率比較低，約為30KHZ(周期約為33.3us)，因此對采集多大的數據量進行分析有一定的要求，如測試中一屏幕采集5個SSC波形周期的話，則總的采集時間長度約為200us，如果設置示波器采樣率為20GS/S，那么則需要采集至少4M(200us/50ps)的數據量。 上述提到的Track功能是指某一參數(如本例中的頻率)的變化范圍表示在縱軸上，由于這一參數是隨著時間的變化而變化的，因此通過Track圖可以觀察到參數隨著時間的變化情況，具體可參見力科相關的介紹文檔。如下圖10所示對時鐘周期的追蹤示意圖：

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　　圖10 時鐘周期參數的追蹤(Track)圖 四、帶有SSC(擴頻時鐘)的串行數據的眼圖測量 SSC的使用會影響到串行數據眼圖的測量效果，因此在進行信號眼圖測量驗證時需要選擇合適的鎖相環。如使用一階的FC Golden PLL測量帶有SSC的SATA眼圖結果如圖11左圖所示，眼圖觸碰到了信號模板，這是由于一階PLL不能跟蹤SSC帶來的頻率變化。采用二階PLL測量出的眼圖結果如圖11右圖所示，這使得在有SSC時能測量出有意義的眼圖結果。 有些芯片不能關閉SSC功能，那么這時候采用二階PLL的方式仍然能判斷出信號的質量。所以在有SSC時要注意串行數據眼圖的PLL設置。

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　　圖11 帶SSC的SATA信號帶分別使用一階和二階PLL設置時的眼圖測試

　　五、小結

本文簡要介紹了SSC擴頻時鐘的基本概念以及如何使用力科示波器進行信號的擴頻時鐘的測試。由于當今電路系統中的信號速率越來越高，因此EMI問題也越來越普遍，因此在最新的一些高速串行數據規范中，如USB3.0、PCIE3.0等都特別強調了SSC的測試。力科示波器中的余輝直方圖(Phistogram)和參數追蹤(track)以及SSCTrack等函數功能可以很方便的幫助用戶觀察和分析信號的SSC。