聯(lián)訊儀器文章

• 國產源表的優(yōu)勢和應用前景分析：聯(lián)訊儀器參數對比2023-07-19 16:44

  

  在電子測試和測量領域，源表是重要的工具，無法或缺。國產源表如聯(lián)訊儀器S3022F和S3012H在性能和功能方面已經能夠與進口源表相媲美。 首先，進口源表以其高精度、穩(wěn)定性和多功能性而聞名。然而，近年來，國產源表取得了顯著發(fā)展，不斷提升性能和質量。

  SMU 測量 源表 3029瀏覽量

• 新品 | 聯(lián)訊儀器全新推出低泄漏電流開關矩陣RM1010-LLC2023-05-21 08:32

  

  在半導體元器件生產研發(fā)或者半導體晶圓封測過程中需要進行電性能參數的表征，這些測量需要將精密源表(Source/MeasureUnit），LCR表（LCRMeter），數字萬用表(DigitalMulti-Meter）等多種精密儀器組成自動化測試系統(tǒng)，測量非常低的電流，皮安或更小，測試系統(tǒng)中任何漏電流的存在都會對測試結果造成很大影響。聯(lián)訊儀器低漏電流開關矩陣R

  開關矩陣 晶圓 漏電流 1299瀏覽量

• 新品 | 聯(lián)訊儀器 PXIe 精密源表S2013C，高速高精度測量！2023-05-04 17:26

  

  聯(lián)訊儀器PXIe源測量單元(SMU)集成高精度源和測量單元，可利用PXIe源測量單元構建高密度并行測試系統(tǒng)，以滿足大規(guī)模半導體集成電路的高通道密度，并增加配置的靈活性，最大化測試效率，降低測試成本。

  SMU 數字源表 測量 1061瀏覽量

• 全新升級 | DCA6201-支持單波100G PAM4及50G PON眼圖測試2023-03-28 18:06

  

  聯(lián)訊儀器DCA6201采樣示波器最多支持4路53Gbaud PAM4 眼圖測試，結構緊湊，成本低，測試速度快，適合400G / 800G 光模塊的研發(fā)和批量生產

  DCA pam4 示波器 2202瀏覽量

• 新品 ┃ 聯(lián)訊儀器全新推出200V PXIe 精密源表S2012C2023-01-30 14:32

  

  聯(lián)訊儀器全新推出PXIe精密電源/測量單元S2012C。其最小測量分辨率達10fA/100nV，輸出電壓高達±200V。

  SMU 數字源表 1443瀏覽量

• 聯(lián)訊儀器 | 推出25G/50G突發(fā)誤碼儀2022-12-04 09:18

  

  聯(lián)訊rBT2250突發(fā)誤碼儀隨著10GPON網絡部署和實施，下一代50GPON網絡的標準也已經完善：2018年，ITU/FSAN啟動了基于單波長50GPON標準的制定工作，命名為G.HSP（G.HigherSpeedPON）。2019年，50GPON的總體需求G.9804.1發(fā)布，明確了單波長TDMPON架構，以及上下行速率組合，此外，50GPON需要滿足與

  PON 儀器 誤碼儀 1356瀏覽量

• 聯(lián)訊儀器 | CoC全自動測試系統(tǒng)CT62012022-12-02 09:17

  

  “半導體激光器通常根據老化前（Pre-BurnIn）及老化后（PostBurn-In）測量的一個或多個關鍵運行參數的變化進行篩選，剔除早期失效，提高產品可靠性，這些參數通常包括閾值電流，在特定工作條件下的輸出光功率，達到特定輸出光功率所需要的電流，斜線效率以及光譜特性等等。聯(lián)訊儀器CoC測試聯(lián)訊儀器全自動CoC測試系統(tǒng)CT6201，與聯(lián)訊儀器BI6201老化

  測試 激光器 激光器件 1255瀏覽量

• 聯(lián)訊儀器 | CoC老化系統(tǒng)2022-11-30 09:14

  

  “半導體激光器是光收發(fā)模塊核心器件，其穩(wěn)定性直接影響模塊的產品質量，CoC老化測試是一種有效的剔除早期CoC產品失效的篩選方法。聯(lián)訊儀器CoC老化測試設備通過控制老化溫度，老化電流，老化時長等測試條件，對老化前后的激光器功率變化，閾值變化等進行評估，將產品設計制造中的材料缺陷，加工缺陷等及早篩選出來，提高了進入后端工序的產品的可靠性！聯(lián)訊儀器CoC老化聯(lián)訊儀

  儀器 系統(tǒng) 2393瀏覽量

• 400G以太網光模塊發(fā)展及聯(lián)訊測試方案2022-11-20 09:25

  

  云計算，VR/AR，AI，5G等技術的應用對流量的需求非常大，流量的爆炸性增長需要更高的帶寬，其中數據中心網絡傳輸距離通常較短，但是對帶寬需求更大。目前，數據中心不同機房間的互聯(lián)以及多個數據中心之間的互聯(lián)場景正逐步向400G甚至800G光模塊演進。400G以太網相關標準發(fā)展IEEE802.3工作組主要側重以太網物理接口的標準化工作，截止到目前已經發(fā)布了一系列

  以太網 光模塊 測試 1993瀏覽量

• 聯(lián)訊儀器裸Die半導體激光器芯片測試機2022-11-20 09:23

  

  芯片良率是影響企業(yè)成本的重要因素之一，半導體激光器屬于化合物半導體，其主要材質以非常脆的砷化鎵、磷化銦為主，在其制備的各個工藝環(huán)節(jié)，良品率不高是一個普遍問題。以國外知名芯片企業(yè)為例，其生產能達到70%以上良率，但后道封裝以及最終產品嚴格判定標準等累計具有30%良率的損失。良品率不高，就需要專用的測試裝備對不良品進行篩選，國內在此領域原先一直停留在低端的Bar

  激光器 芯片 芯片測試 2116瀏覽量