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• 一文讀懂：移動(dòng)橋架型三坐標(biāo)，如何在多領(lǐng)域重塑生產(chǎn)質(zhì)量？2025-03-07 15:09

  

  移動(dòng)橋架型是三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)最常用的結(jié)構(gòu)。Z軸為主軸在垂直方向移動(dòng)，廂形架導(dǎo)引主軸沿水平梁在X方向移動(dòng)，水平梁垂直Z軸且被兩支柱支撐于兩端，梁與支柱形成“橋架”，橋架沿著兩個(gè)在水平面上垂直X和Z軸的導(dǎo)槽在Y軸方向移動(dòng)。梁的兩端被支撐，可得到最小的撓度，比懸臂型精度高。移動(dòng)橋架型三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是一種常見(jiàn)的精密測(cè)量設(shè)備，以下是其優(yōu)點(diǎn)、具體應(yīng)用及對(duì)企業(yè)的價(jià)值所在：一、優(yōu)

  三坐標(biāo)機(jī) 測(cè)量機(jī) 測(cè)量設(shè)備 445瀏覽量

• 精準(zhǔn)無(wú)界，光啟未來(lái)|中圖儀器邀您共赴2025慕尼黑上海光博會(huì)2025-03-04 15:46

  

  2025慕尼黑上海光博會(huì)即將開(kāi)啟！中圖儀器作為中國(guó)精密尺寸測(cè)量領(lǐng)域的創(chuàng)新標(biāo)桿，將在本次展會(huì)集中展示覆蓋微納米級(jí)到百米級(jí)尺寸的全產(chǎn)業(yè)鏈測(cè)量解決方案，以硬核科技助力工業(yè)檢測(cè)技術(shù)智能化、高效化發(fā)展。誠(chéng)邀您蒞臨展會(huì)現(xiàn)場(chǎng)，解鎖尖端測(cè)量技術(shù)與行業(yè)應(yīng)用深度融合的無(wú)限潛能！2025慕尼黑上海光博會(huì)時(shí)間：2025年3月11-13日地點(diǎn)：上海新國(guó)際博覽中心展位：E7館7336展

  儀器 光博會(huì) 慕尼黑 449瀏覽量

• 掃描電子顯微鏡（SEM）有哪些分類(lèi)？2025-03-04 10:01

  

  掃描電子顯微鏡（SEM）有多種分類(lèi)方式，具體如下：1、按電子槍種類(lèi)分類(lèi)（1）鎢絲槍掃描電鏡：使用熱鎢極電子槍?zhuān)帢O為能加熱的鎢絲。優(yōu)點(diǎn)是結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本較低、適用性強(qiáng)、維護(hù)費(fèi)用低；缺點(diǎn)是亮度有限，束斑直徑較大，分辨率相對(duì)較低，一般為6nm左右。（2）六硼化鑭掃描電鏡：用六硼化鑭陰極替代鎢絲陰極。其亮度比熱鎢絲陰極電子槍高一個(gè)數(shù)量級(jí)，可使分辨率提高到4-5nm，

  SEM 掃描電鏡 電子顯微鏡 631瀏覽量

• 掃描電子顯微鏡（SEM）類(lèi)型和原理2025-03-04 09:57

  

  掃描電子顯微鏡（SEM）原理電子槍產(chǎn)生的電子束經(jīng)聚光鏡和物鏡聚焦后，形成極細(xì)的電子束在樣品表面進(jìn)行逐點(diǎn)掃描。電子束與樣品表面相互作用，激發(fā)出二次電子、背散射電子等信號(hào)。其中二次電子對(duì)樣品表面的形貌非常敏感，這些二次電子被探測(cè)器收集，轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，再經(jīng)過(guò)處理后在顯像管或顯示屏上形成反映樣品表面形貌的三維圖像。應(yīng)用場(chǎng)景：主要用于觀察樣品的表面形貌，如材料的斷口、

  SEM 掃描電鏡 顯微鏡 電子顯微鏡 1308瀏覽量

• 精密幾何測(cè)量技術(shù)在電子芯片制造中的重要性2025-02-28 14:23

  

  精密幾何測(cè)量技術(shù)在電子芯片制造中具有極其重要的地位，主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：1、確保芯片性能-晶體管性能優(yōu)化：在芯片中，晶體管的尺寸和結(jié)構(gòu)對(duì)其性能至關(guān)重要。通過(guò)精密幾何測(cè)量技術(shù)，能夠精確測(cè)量晶體管的柵極長(zhǎng)度、寬度、氧化層厚度等幾何參數(shù)。例如，在7nm制程中，柵極氧化層厚度每減少0.1nm，漏電流可能呈指數(shù)級(jí)增加。精確測(cè)量這些參數(shù)可確保晶體管性能穩(wěn)定，如實(shí)現(xiàn)低

  半導(dǎo)體晶圓 測(cè)量 電子芯片 粗糙度 442瀏覽量

• 激光跟蹤儀的檢測(cè)功能與應(yīng)用實(shí)例2025-02-24 09:48

  

  激光跟蹤儀的檢測(cè)功能及應(yīng)用實(shí)例如下：1、檢測(cè)功能-三維坐標(biāo)測(cè)量：能精確測(cè)量目標(biāo)點(diǎn)的三維坐標(biāo)，確定物體在空間中的位置和姿態(tài)，為后續(xù)的尺寸測(cè)量、形位公差檢測(cè)等提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù)。-尺寸測(cè)量：可測(cè)量物體的長(zhǎng)度、寬度、高度、直徑等尺寸參數(shù)，通過(guò)測(cè)量物體上多個(gè)特征點(diǎn)的坐標(biāo)，計(jì)算出相應(yīng)的尺寸值，檢測(cè)物體尺寸是否符合設(shè)計(jì)要求。-形位公差檢測(cè)：能檢測(cè)直線度、平面度、圓度、圓柱度、

  檢測(cè) 激光測(cè)量 激光跟蹤儀 469瀏覽量

• SEM是掃描電鏡嗎？2025-02-24 09:46

  

  SEM是掃描電鏡，英文全稱(chēng)為ScanningElectronMicroscope。以下是關(guān)于掃描電鏡的一些基本信息：1、工作原理：掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面，通過(guò)檢測(cè)電子與樣品相互作用產(chǎn)生的各種信號(hào)來(lái)獲取樣品表面微觀結(jié)構(gòu)信息的電子顯微鏡。電子槍發(fā)射出的電子束，經(jīng)過(guò)電磁透鏡聚焦和加速后，形成一束高能量的細(xì)電子束，掃描線圈控制電子束在樣品表面進(jìn)行逐行掃

  SEM 掃描電鏡 電子束 616瀏覽量

• 掃描電鏡能測(cè)定什么元素？2025-02-20 11:40

  

  掃描電鏡本身主要用于觀察樣品的微觀形貌，但與能譜儀（EDS）或波譜儀（WDS）等設(shè)備聯(lián)用后，可用于測(cè)定多種元素，具體如下：能譜儀（EDS）可測(cè)定的元素-輕元素：一般能測(cè)定原子序數(shù)大于等于4的元素，如鈹（Be）、硼（B）、碳（C）、氮（N）、氧（O）等。這些輕元素在許多材料中都廣泛存在，例如碳元素在各類(lèi)有機(jī)材料、碳納米材料中是主要組成元素；氧元素在金屬氧化物、

  SEM 掃描電鏡 測(cè)量 1261瀏覽量

• 掃描電鏡SEM是什么？2025-02-20 11:38

  

  掃描電鏡SEM（ScanningElectronMicroscope）是一種用于觀察和分析樣品微觀結(jié)構(gòu)和表面形貌的大型精密分析儀器，以下從其構(gòu)造、工作過(guò)程、應(yīng)用等方面進(jìn)行具體介紹：一、基本構(gòu)造-電子光學(xué)系統(tǒng)：由電子槍、電磁透鏡等組成，用于產(chǎn)生并會(huì)聚電子束，使電子束具有足夠的能量和強(qiáng)度，以轟擊樣品表面。電子槍發(fā)射出高能電子束，電磁透鏡則對(duì)電子束進(jìn)行聚焦和調(diào)節(jié)，

  SEM 分析儀器 掃描電鏡 1122瀏覽量

• 影響激光跟蹤儀的精度因素有哪些？2025-02-20 11:35

  

  影響激光跟蹤儀精度的因素主要有以下幾個(gè)方面：一、儀器自身因素-激光發(fā)射系統(tǒng)-激光束發(fā)散角：發(fā)散角小的激光束更集中，傳播中擴(kuò)散慢，反射光信號(hào)強(qiáng)，測(cè)距精度高；發(fā)散角過(guò)大，信號(hào)易變?nèi)酰绊懢取?激光器穩(wěn)定性：激光器的強(qiáng)度和頻率穩(wěn)定度會(huì)影響測(cè)量結(jié)果，不穩(wěn)定會(huì)使測(cè)量值波動(dòng)。-角度測(cè)量系統(tǒng)-角度編碼器精度：角度編碼器用于測(cè)量激光束的水平和垂直角度，其精度決定了目標(biāo)點(diǎn)角

  儀器 激光測(cè)量 激光跟蹤儀 678瀏覽量