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上海明策科技

紅外傳感器熱學與光學性能的檢測與校準以及新材料生產過程的熱學品質監測提供專業的測試解決方案

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動態

  • 發布了文章 2023-03-28 17:38

    明策課堂 I 12-TSP紅外標準器

    明策科技12-TSP紅外標準器&紅外標準傳遞源LumaSence品牌介紹BrandIntroductionLumaSense公司技術力量雄厚,其研發全系列、寬溫度段(-40到3600℃)、多波段紅外熱像儀、紅外測溫儀和計量用黑體爐、高精度紅外標準器。很多紅外熱像儀生產廠家均采用LumaSense產品為計量標準。LumaSense依托其在紅外領域的技術優勢,為
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  • 發布了方案 2022-11-23 17:20

    【解決方案】真空爐測溫

    場景特點溫度為急劇升高,響應時間要求高;溫度測量點不確定。在R=3/8/10mm、長度10cm的規定尺寸上,燒點位置隨機且細微。材料隨溫度的升高發射率值變化不固定。功率輸入逐漸升高,增加了穩定輸出測量結果的難度。實驗的合金材質類型不限于一種,測量溫度范圍要求很寬。測量結果用于科研,需要配套軟件形成專業學術報告。一、產品描述1.產品特性IGAR6-TVSmart具有直觀的視頻模式,且接線簡單可記錄視
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  • 發布了方案 2022-11-23 17:10

    先進合金高溫熔煉測溫|解決方案

    要解決的問題發動機的汽缸、活塞、壓氣機、燃燒室、渦輪、軸和尾噴管主要部件熔煉工藝溫度監控精度要求±10度所用鈦合金、高溫合金和復合材料材料,熔點高,測溫距遠,測量熔化后鋼液的溫度要求儀器精確準確模擬信號輸出,用以控制坩堝加熱功率控制。一、產品介紹IMPACISR6Advanced紅外測溫儀1、高精度數字高溫計;2、雙色設計(可切換到單頻模式)場景上使用靈活;3、模擬輸出和數字接口;4、可調焦光學;
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  • 發布了方案 2022-11-23 17:03

    解決方案|先進合金激光焊接測溫

    前言升溫速度快,對測溫儀響應速度要求較高光路上有粉塵影響測溫一、要解決的問題激光波段一般為近紅外,若與測溫儀響應范圍相同或近似則會嚴重影響測溫結果工作臺移動容易造成晃動,c中心受激光焊接光斑大小限制,需測溫儀光斑大小≤激光加熱尺寸二、產品介紹1.IMPACIGAR12-LO紅外測溫儀。在高溫/高壓/電磁場等環境中,只放進一個測溫鏡頭,通過光纖傳輸光信號,最大程度的減少了環境的干擾項,保證測量的準確
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  • 發布了方案 2022-07-26 15:45

    半導體氧化擴散測溫

    要解決的問題測溫設備集成于設備內部,對準目標有些許困難需透視窗測溫,需考慮測溫儀響應波段一、產品描述1.產品優勢IGA6-TV為近紅外測溫波段,對于石英視窗有更高的透射率;對于金屬被測物有更高的測溫精度寬測溫量程(250-2500℃)極快響應速度(120μs)更好的重復性(0.15%+1℃)可變焦鏡頭,可調節測距(可從210至2000mm內測溫)設定內可調多種參數,滿足多種環境需求具有直觀的視頻模
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  • 發布了文章 2022-07-23 07:43

    解決方案|半導體晶體生長測溫

    場景半導體晶體生長測溫要解決的問題還原爐應用中,需多點位測溫,有的點位位置較高對準目標比較困難。升溫過程中,材料狀態可能發生變化,導致發射率隨之發生變化導致測溫失準。建議使用雙色測溫儀。直拉法應用中,一般集成于內部溫控系統,安裝空間有限。建議使用分體光纖式設備。需透視窗測量反應物。建議使用近紅外短波測溫。場景特點SCENEFEATURES01反應溫度需維持在
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  • 發布了方案 2022-07-21 13:09

    半導體紅外測溫|IMPAC紅外測溫儀解決方案

    半導體晶體生長測溫要解決的問題還原爐應用中,需多點位測溫,有的點位位置較高對準目標比較困難。需透視窗測量反應物。建議使用近紅外短波測溫。直拉法應用中,一般集成于內部溫控系統,安裝空間有限。建議使用分體光纖式設備。升溫過程中,材料狀態可能發生變化,導致發射率隨之發生變化導致測溫失準。建議使用雙色測溫儀半導體氧化擴散測溫要解決的問題測溫設備集成于設備內部,對準目標有些許困難需透視窗測溫,需考慮測溫儀響
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  • 發布了產品 2022-07-21 10:55

    半導體紅外測溫儀|impac紅外測溫儀

    產品型號:IGAR 6 Smart 測溫范圍::100-2550 °C ;250- 2550°C 子范圍::任何溫度范圍內可調范圍,最小量程50°C 發射率::0.050 到 1.000 ,0.001調節(單色模式)
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