2018年9月19日，在南京市江北新區(qū)主辦、紫光集團(tuán)和紫光展銳承辦的主題為“芯時(shí)代·共成長(zhǎng)”的“2018中國(guó)芯片發(fā)展高峰論壇”上，紫光展銳正式發(fā)布I·C TEST品牌。經(jīng)過多年的技術(shù)積累和近30億的資金投入，紫光展銳已建立芯片研發(fā)與生產(chǎn)測(cè)試、軟件集成測(cè)試、硬件測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、客戶服務(wù)與測(cè)試的產(chǎn)品全流程的質(zhì)量保證體系，并打造一體化測(cè)試服務(wù)品牌I·C TEST。

一體化測(cè)試體系，五星級(jí)質(zhì)量保障

紫光展銳I·C TEST，由兩部分組成：I TEST代表展銳內(nèi)部的測(cè)試質(zhì)量體系(Internal)，而C TEST代表對(duì)外為客戶提供服務(wù)的測(cè)試質(zhì)量體系(Customer)。I TEST測(cè)試體系廣泛覆蓋入網(wǎng)入庫(kù)測(cè)試需求和全球外場(chǎng)驗(yàn)收，提供7*24小時(shí)迭代服務(wù)；C TEST測(cè)試體系采用客戶定制的測(cè)試系統(tǒng)，界面簡(jiǎn)潔操作簡(jiǎn)單，提供全方位安卓測(cè)試服務(wù)，當(dāng)前測(cè)試用例已超過20000，且用例還在持續(xù)更新中。

同時(shí)I·C TEST測(cè)試中心涵蓋芯片研發(fā)、生產(chǎn)、測(cè)試全流程，為客戶產(chǎn)品提供五大質(zhì)量保障：

芯片研發(fā)與生產(chǎn)測(cè)試：配備業(yè)界領(lǐng)先的芯片驗(yàn)證平臺(tái)，提供分立器件和電路芯片從晶圓級(jí)到系統(tǒng)模塊級(jí)封裝測(cè)試、芯片可靠性驗(yàn)證及失效分析，保證芯片良率在業(yè)界領(lǐng)先水平；

軟件集成測(cè)試：基于自主開發(fā)的代碼級(jí)版本迭代驗(yàn)證平臺(tái)，通過對(duì)軟件代碼變更監(jiān)控，采取“提交即驗(yàn)證”的策略，從而有效攔截缺陷、提升研發(fā)代碼的質(zhì)量和效率；

硬件測(cè)試：專注于產(chǎn)品硬件研發(fā)測(cè)試和生產(chǎn)測(cè)試，覆蓋電信號(hào)、功耗、音頻、可靠性、RF、天線等測(cè)試。通過持續(xù)的迭代和改進(jìn)，不斷提高硬件測(cè)試效率，降低測(cè)試成本，為平臺(tái)和客戶硬件項(xiàng)目提供完整的測(cè)試驗(yàn)證服務(wù)；

系統(tǒng)測(cè)試：產(chǎn)品方案量產(chǎn)前的驗(yàn)收測(cè)試，以500臺(tái)以上的樣本、對(duì)標(biāo)業(yè)界品牌商極具嚴(yán)苛的標(biāo)準(zhǔn)、對(duì)齊中國(guó)移動(dòng)等頂級(jí)運(yùn)營(yíng)商質(zhì)量要求，開展一致性、兼容性、穩(wěn)定性、性能、用戶體驗(yàn)測(cè)試，持續(xù)為客戶提供高質(zhì)量的方案平臺(tái)；

客戶服務(wù)與測(cè)試：為展銳手機(jī)設(shè)計(jì)廠商提供測(cè)試解決方案及相關(guān)服務(wù)，協(xié)助客戶完善產(chǎn)品驗(yàn)證體系以支撐量產(chǎn)風(fēng)險(xiǎn)決策，幫助客戶縮短產(chǎn)品上市周期、提升品牌競(jìng)爭(zhēng)力。

以創(chuàng)新為驅(qū)動(dòng)，以客戶為中心

憑借領(lǐng)先的技術(shù)優(yōu)勢(shì)和管理水平，紫光展銳于2016年成為中國(guó)移動(dòng)和中國(guó)聯(lián)通兩大運(yùn)營(yíng)商的創(chuàng)新聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室合作伙伴，同年獲得中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)CNAS(ISO17025)認(rèn)可，2017年成為全球認(rèn)證論壇GCF的會(huì)員，2018年被中國(guó)移動(dòng)評(píng)為B級(jí)合作實(shí)驗(yàn)室。

秉承“以客為尊，團(tuán)隊(duì)合作，勇于創(chuàng)新，客觀公正，敏捷交付”的價(jià)值觀，紫光展銳打造了一流的產(chǎn)品測(cè)試體系，通過先進(jìn)的設(shè)備、科學(xué)的檢測(cè)方法、全面的驗(yàn)證能力以及權(quán)威的認(rèn)證能力，持續(xù)為客戶提供高質(zhì)量的、全方位的芯片平臺(tái)解決方案，并為客戶提供整體測(cè)試解決方案，給客戶賦能，幫助客戶縮短產(chǎn)品上市周期，提升品牌形象，同時(shí)能夠共建從芯到云的質(zhì)量生態(tài)鏈。

紫光展銳高級(jí)副總裁兼首席工程師John Rowland表示，“非常榮幸發(fā)布I·C TEST品牌，紫光展銳憑借對(duì)芯片產(chǎn)業(yè)的深入了解以及雄厚的全球化技術(shù)支持，致力于為客戶提供先進(jìn)技術(shù)的研發(fā)以及一站式客戶服務(wù)的打造。通過全新I·C TEST品牌啟動(dòng)，我們將全面打通內(nèi)外資源，在移動(dòng)芯片領(lǐng)域與客戶攜手，為客戶提供最佳的用戶體驗(yàn)，從而與客戶實(shí)現(xiàn)共贏。”