您了解蘋果Logo的輪廓度控制有多嚴嗎？蘋果Logo的曲線由多段不同半徑的圓弧精密相切構(gòu)成，需確保全球所有產(chǎn)品上的Logo形態(tài)完全統(tǒng)一。當輪廓度大于0.1mm時用戶手指可感知毛刺或臺階，而大于0.05mm的輪廓偏差，就可能破壞圓弧過渡的流暢性，削弱“被咬一口”的辨識度。
因此蘋果在制造過程中對其Logo的輪廓特征實施嚴苛檢測，通過數(shù)據(jù)化檢測將感性美學(xué)轉(zhuǎn)化為可量產(chǎn)的精密工業(yè)邏輯，實現(xiàn)其設(shè)計美學(xué)、品牌價值與工業(yè)精密制造的深度綁定。

掃描點集輪廓度評價在工業(yè)檢測中面臨多重技術(shù)挑戰(zhàn)：

●測量數(shù)據(jù)多、處理難度大，通過影像測量得到的掃描點多達成千上萬個，相比常規(guī)尺寸的評價計算量巨大，而且實際產(chǎn)品表面可能有細微劃痕、加工毛刺等干擾。
●模型數(shù)學(xué)參數(shù)表征難，蘋果Logo由多段不同半徑圓弧、樣條曲線相切構(gòu)成，難以進行參數(shù)化，缺乏統(tǒng)一的數(shù)學(xué)表達。
●點集配準算法精度要求高，CAD模型與點云的精確對齊存在初始位姿敏感、局部最優(yōu)陷阱等難題。常規(guī)ICP配準計算量大，而簡化算法對圓弧過渡的結(jié)構(gòu)特別敏感，只要一個拐點沒對齊就破壞整體美感。
●誤差評定標準多樣化，輪廓度評定存在兩種算法：最小二乘和最小區(qū)域，以及兩種標準：ISO和ASME標準。
中圖儀器閃測影像測量軟件VisionX配備強大的輪廓度分析與評價模塊，實現(xiàn)輪廓度、其它GD&T及長度尺寸共同測量和分析，能高效檢測輪廓的一致性，尤其適合批量生產(chǎn)中的質(zhì)量抽檢或全檢，保障產(chǎn)品精度。

VisionX輪廓度分析模塊，不僅可以自動對比實測輪廓與理論輪廓，計算各點的偏差值，判斷是否符合設(shè)計公差，而且操作十分簡單，只需4步即可完成輪廓度評價。

1、提取輪廓。

提供三種輪廓提取方式以適用于不同的場景，確保輪廓提取快準穩(wěn)。
● 點云提取：提取樣品表面輪廓，通過算法及參數(shù)調(diào)整，過濾毛刺，準確的提取到被測邊界。

●輪廓提取：適用于大型外形輪廓的快速提取，自動尋邊提取整個區(qū)間的輪廓。
●指定點位提取：軟件根據(jù)指定文檔中的點位坐標點集提取樣品邊界上的點。
●輪廓融合工具：支持各個局部輪廓任意組合融合為整體輪廓。

2、打開輪廓度評價界面，導(dǎo)入點集和圖紙。

具有設(shè)置圖紙單位和比例尺等常規(guī)CAD編輯功能，無需第三方CAD軟件輔助。

3、選擇理論輪廓與實際提取點集配準。

只需選擇所需的理論輪廓用于配準，無需對圖紙進行繁雜的處理。支持精準點選和大范圍快速框選兩種方式。

4、點擊生成輪廓度。

根據(jù)客戶需求選擇不同的評價標準：ISO 1101或者ASME Y14.5；根據(jù)不同的工件輪廓選用不同的算法：可選擇“最小二乘法”和“最小區(qū)域法”。根據(jù)圖紙設(shè)計要求選擇不同的基準評價，支持單基準，雙基準及無基準的輪廓度評價。

同時VisionX軟件支持自動生成輪廓偏差圖和數(shù)據(jù)報告，直觀顯示超差區(qū)域，為生產(chǎn)調(diào)整（如雕刻參數(shù)、模具修正）及產(chǎn)品質(zhì)量控制提供精準數(shù)據(jù)支撐。

總結(jié)：VisionX閃測影像測量軟件及輪廓度分析模塊，在消費電子（3C）、醫(yī)療器械等行業(yè)已實現(xiàn)深度應(yīng)用，通過精密成像系統(tǒng)、綜合軟件和智能評價算法，為客戶解決輪廓度測量難題提供綜合性解決方案。