數(shù)據(jù)可靠性是嵌入式產(chǎn)品開發(fā)中的關(guān)鍵問(wèn)題,涉及多個(gè)層面的設(shè)計(jì)和選型。從本期開始,我們將通過(guò)一系列內(nèi)容深入探討嵌入式數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的可靠性問(wèn)題。
?前言
數(shù)據(jù)可靠性是嵌入式產(chǎn)品不可回避的問(wèn)題,許多工程師為此絞盡腦汁,但仍難以找到完美的解決方案。解決數(shù)據(jù)可靠性是一個(gè)系統(tǒng)性工程,涉及元器件選型、硬件設(shè)計(jì)、系統(tǒng)設(shè)計(jì)和應(yīng)用設(shè)計(jì)等多個(gè)方面,任何一個(gè)單一的方面都無(wú)法徹底解決問(wèn)題。本期我們先來(lái)聊聊元器件選型。 ?元器件選型:存儲(chǔ)介質(zhì)的選擇
在元器件選型階段,存儲(chǔ)介質(zhì)的選擇至關(guān)重要。對(duì)于大容量存儲(chǔ),通常會(huì)選擇NAND Flash和eMMC,而小容量的EEPROM、NOR Flash以及超大容量的硬盤則不在本次討論范圍內(nèi)。1. eMMC與NAND Flash的對(duì)比NAND Flash和eMMC都是常用的存儲(chǔ)介質(zhì),但它們?cè)谛阅堋⒊杀竞涂煽啃苑矫娲嬖陲@著差異。eMMC自帶控制器,能夠?qū)崿F(xiàn)數(shù)據(jù)寫平衡,這對(duì)數(shù)據(jù)可靠性是有幫助的。如果處理器性能和成本允許,建議優(yōu)先選擇eMMC作為數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì)。如果由于處理器性能或成本限制,需要選擇NAND Flash,則需要進(jìn)行更多的區(qū)分和考量。目前,NAND Flash根據(jù)工藝和存儲(chǔ)密度可分為SLC、MLC、TLC和QLC四種類型:

圖1 SLC、MLC、TLC、QLC的詳細(xì)特性
- SLC(單層單元):每個(gè)存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)1位數(shù)據(jù),擦寫次數(shù)可達(dá)10萬(wàn)次,讀寫速度較快,成本較高。SLC NAND Flash因其高可靠性和長(zhǎng)壽命,常用于對(duì)數(shù)據(jù)可靠性要求極高的應(yīng)用。
- MLC(多層單元):每個(gè)存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)2位數(shù)據(jù),擦寫次數(shù)通常為1萬(wàn)次,讀寫速度稍慢,成本適中。MLC NAND Flash在性能和成本之間取得了較好的平衡,適用于大多數(shù)嵌入式應(yīng)用。
- TLC(三層單元):每個(gè)存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)3位數(shù)據(jù),擦寫次數(shù)約為3000次,讀寫速度較慢,成本較低。TLC NAND Flash在容量和成本上具有優(yōu)勢(shì),但可靠性相對(duì)較低,適用于對(duì)數(shù)據(jù)可靠性要求不高的應(yīng)用。
- QLC(四層單元):每個(gè)存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)4位數(shù)據(jù),擦寫次數(shù)僅為1000次,讀寫速度最慢,成本最低。QLC NAND Flash雖然容量大且成本低,但擦寫次數(shù)少,可靠性較低,建議謹(jǐn)慎使用。
為了提高數(shù)據(jù)可靠性,在滿足容量需求的前提下,建議優(yōu)先選擇SLC和MLC,謹(jǐn)慎選擇TLC,盡量避免選擇QLC。ZLG致遠(yuǎn)電子深耕嵌入式領(lǐng)域二十余年,核心板、工控板和工控主機(jī)都嚴(yán)格遵循這一選型原則,為用戶提供可靠的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)硬件基礎(chǔ)。

圖2 ZLG致遠(yuǎn)電子邊緣技術(shù)產(chǎn)品 ?未來(lái)趨勢(shì)與技術(shù)展望
隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步,一些新興的存儲(chǔ)技術(shù)逐漸進(jìn)入市場(chǎng),有望在未來(lái)取代傳統(tǒng)的NAND Flash和eMMC。例如:
- 3D XPoint:由英特爾和美光聯(lián)合開發(fā)的3D XPoint存儲(chǔ)技術(shù),具有極高的讀寫速度和耐用性,擦寫次數(shù)可達(dá)數(shù)十萬(wàn)次,適合高性能計(jì)算和數(shù)據(jù)中心應(yīng)用。
- MRAM(磁阻隨機(jī)存取存儲(chǔ)器):MRAM結(jié)合了RAM的高速讀寫能力和Flash的非易失性,具有無(wú)限的擦寫次數(shù)和極低的功耗,適用于嵌入式系統(tǒng)和物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備。
- ReRAM(阻變存儲(chǔ)器):ReRAM通過(guò)改變材料的電阻狀態(tài)來(lái)存儲(chǔ)數(shù)據(jù),具有高密度、低功耗和快速讀寫的特點(diǎn),適合高容量存儲(chǔ)應(yīng)用。
數(shù)據(jù)可靠性是嵌入式產(chǎn)品開發(fā)中的一個(gè)重要課題。從元器件選型到系統(tǒng)設(shè)計(jì),每一個(gè)環(huán)節(jié)都至關(guān)重要。ZLG致遠(yuǎn)電子始終致力于為用戶提供高質(zhì)量、高可靠性的硬件解決方案。如果您對(duì)嵌入式數(shù)據(jù)可靠性有其他建議和想法,歡迎在評(píng)論區(qū)留言討論。
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