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ISO 21498-2:2024標(biāo)準(zhǔn)解析

凌世電磁兼容 ? 來源:凌世電磁兼容 ? 作者:凌世電磁兼容 ? 2025-06-09 16:29 ? 次閱讀
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隨著電動汽車技術(shù)的飛速發(fā)展,對高壓電路系統(tǒng)及元器件的測試要求也日益嚴格。高壓零部件是電動汽車動力系統(tǒng)的重要組成部分,依據(jù)ISO 21498-2標(biāo)準(zhǔn)開發(fā)設(shè)計的先進測試設(shè)備,為高壓電性能部件的測試提供了全面解決方案。凌世自主研發(fā)的高壓電性能測試系統(tǒng),依據(jù)ISO 21498-2開發(fā)設(shè)計,應(yīng)用于電動汽車B類電路系統(tǒng)及元器件測試,同時擴展兼容LV 123及VW 80300等車廠標(biāo)準(zhǔn)高壓電性能部件的試驗要求。

ISO 21498-2 2024版與2021版區(qū)別

2024版增加了電源短路測試

2024版在紋波疊加測試時增加了電流限制值,更明確了紋波電流監(jiān)控要求

2024版取消了電池的高低溫阻抗,只明確了50mΩ阻抗要求

2024版在紋波騷擾測試時增加了5V最高等級,在紋波抗擾度時增加了6V最低等級

2024版中,人工電源網(wǎng)絡(luò)的電容變成可選項

2024版中,對于產(chǎn)生的紋波測試,增加了EMI接收機測試方法

ISO 21498-2 電氣性能測試

章節(jié) 測試項目描述 測試類型 需要用到設(shè)備
6.2 運行電壓范圍內(nèi)直流供電變化 性能測試 編程高壓電源
6.3 產(chǎn)生的電壓斜率 騷擾測試 可編程高壓電源,人工網(wǎng)絡(luò)及其它附件
6.4 電壓斜率抗擾度 性能測試 可編程高壓電源
6.5 產(chǎn)生的電壓紋波 騷擾測試 可編程高壓電源,人工網(wǎng)絡(luò),及其它附件
6.6 電壓紋波抗擾度 性能測試 可編程高壓電源,紋波疊加發(fā)生器
6.7 過電壓 性能測試 可編程高壓電源
6.8 欠電壓 性能測試 可編程高壓電源
6.9 電壓偏移 性能測試 可編程高壓電源
6.10 產(chǎn)生的拋負載電壓 騷擾測試 -----
6.11 拋負載電壓抗擾度 性能測試 可編程高壓電源

6.2 運行電壓范圍內(nèi)直流供電變化

測試目的:考察元器件在運行能力范圍內(nèi)電壓改變過程中的性能,模擬實際電池運行狀態(tài)。

wKgZPGhGm3uAB-WWAAFP1_YYgC8334.pngwKgZO2hGm3uAVqlNAAA8YePwEk8662.pngwKgZPGhGm3uAfeW_AAGsXwU6lC8863.png凌世設(shè)備連接示意圖

6.3 產(chǎn)生的電壓斜率

測試目的:評估產(chǎn)生的電壓斜率,證實其在規(guī)定的最大速率。

wKgZO2hGm3yANQj-AACWh9KYGHI237.pngwKgZPGhGm3yAH7SoAAA2a8gcGvg252.pngwKgZO2hGm32AEHzRAAHmWDsfbxU547.png凌世設(shè)備連接示意圖

6.4 電壓斜率抗擾度

測試目的:模擬電源輸入時元器件的電壓斜率變化,并驗證其承受能力。

wKgZPGhGm32AY7hEAAEpAbtTCtE287.pngwKgZO2hGm36ASCdsAAA0tYB44Dg559.png

wKgZPGhGm36AazfPAAGsXwU6lC8665.png凌世設(shè)備連接示意圖

6.5 產(chǎn)生的電壓紋波

測試目的:該測試提供了標(biāo)準(zhǔn)的試驗配置和試驗方法使電壓等級B下元器件產(chǎn)生的電壓紋波具有可比性,關(guān)注10Hz~150kHz頻段范圍內(nèi)的電壓紋波。

wKgZO2hGm3-AVi1kAACaMMAi9nQ264.pngwKgZPGhGm3-AfxzcAABYCBMDV54968.pngwKgZO2hGm3-AM1erAAHmWDsfbxU222.png凌世設(shè)備連接示意圖

6.6 電壓紋波抗擾度

測試目的:驗證在電壓等級B下疊加10Hz~150kHz紋波時元器件的穩(wěn)定運行。

wKgZPGhGm4CASFOpAAB48ftd69M049.pngwKgZO2hGm4CAc4XdAADj0_Sk4uc070.pngwKgZPGhGm4GAfUISAAG3P4ais4M568.png凌世設(shè)備連接示意圖

6.7 過電壓

測試目的:評估元器件在直流電壓超過上限運行電壓時的承受能力,驗證元器件在過壓范圍內(nèi)是否具備自我保護及承受能力。

wKgZO2hGm4GATc8rAAE4E7Gle9g890.pngwKgZPGhGm36AazfPAAGsXwU6lC8665.png凌世設(shè)備連接示意圖

6.8 欠電壓

測試目的:評估元器件在直流電壓下降至低于下限運行電壓時的承受能力,驗證被試元器件在欠壓情況下是否能夠正常運行。

wKgZPGhGm4KARFb8AAENGLDQkLw282.pngwKgZPGhGm4OACEkKAAAz-EwylW0088.pngwKgZPGhGm3uAfeW_AAGsXwU6lC8863.png凌世設(shè)備連接示意圖

6.9 電壓偏移

測試目的:用于評估當(dāng)高壓零部件與接地參之間的絕緣電阻降低時候,高壓零部件受試件的接地參考耐用性。此測試考慮到了最糟糕情況,即兩條電源線中其中一條與底盤搭接在一起。

wKgZO2hGm4OAcc4DAACwFFH34Ek558.pngwKgZPGhGm4SASZCdAAAxosrXtds016.pngwKgZPGhGm3uAfeW_AAGsXwU6lC8863.png凌世設(shè)備連接示意圖

6.10 產(chǎn)生的拋負載電壓

測試目的:驗證電壓等級B下的元器件是否有能力在拋負載情況發(fā)生時限制過電壓。由于在拋負載過程中產(chǎn)生的電壓變化率可能會影響連接到B級高壓系統(tǒng)的其他部件,電壓變化率是本測試的重要的要素,需要記錄下來。

wKgZO2hGm4SAOjisAACB-DVhJ0w537.pngwKgZPGhGm4WANu7oAAAiD9DVmOM157.pngwKgZO2hGm4WAdbFKAAGZ76i9ugg690.png凌世設(shè)備連接示意圖

6.11 拋負載電壓抗擾度

測試目的:驗證電壓等級B下的元器件是否有能力承受由于拋負載帶來的過電壓和電壓快速上升

wKgZPGhGm4aASMZwAADZPjhuEyE447.pngwKgZO2hGm4aAV9QtAABBoAC4TFQ352.png


審核編輯 黃宇

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