1測試參數及測試條件

我們一般通過測量陶瓷電容器的容值C、Q值/D.F.值、絕緣電阻I.R.值來初步判斷電容的參數是否在規格范圍內，是否存在不良。

要注意的是，再精密的儀器測出的數據也只是測量值，由于存在環境，設備等多方面因素干擾，測量值只能盡可能地接近真實值。另外，隨著市場需求多樣化，陶瓷電容的種類繁多，測試條件并未完全統一，針對具體的型號的測量，請以對應規格書中標注的為準。

對于容值，Q值的測量，一般而言，我們針對不同溫度特性（TC），不同容值的產品，對應的測量條件（交流頻率&電壓）也不同。一類材質Q值較低，我們用Q值作標準，二類材質Q值較高，我們往往用其倒數D.F.值作標準。如下表：

理想的電容器電阻無限大，但是實際電容加壓后會有微小電流流過，其絕緣電阻I.R.存在有限值。

當給電容施加電壓后，會有充電電流產生，并呈指數下降，如下圖。為準確測量漏電流值，我們一般在額定電壓充電1分鐘（或2分鐘）后測量絕緣阻抗，判定標準與額定容值有關，詳見下表。

2測試設備&夾具

我們一般選用LCR電表即自動平衡電橋法測量容值和Q值，用高阻計測量IR值。工具包括：LCR電表（Keysight E4980）, 夾具（16034E, 16334A）,高阻計（Agilent 4339B）, 鑷子等。

3測試流程

01

預熱被測品

由于陶瓷材料特性，特別是高容品選用了高介電常數材料，久置后因內部晶格結構改變，容值會有所下降，此時測量會出現偏差，故需要先進行預熱。一般執行在140～150℃，持續1小時的熱處理，再放置24+/-2小時。

02

設備校準

先啟動設備電源，預熱半小時使設備穩定工作，安裝夾具。校準（Calibration）對于精確測量非常重要。先保持夾具探頭兩端距離與被測件長度一致，進行開路校準；再使夾具兩端接觸，進行短路校準。設備操作詳見對應的說明書。

03

補償

如果選用16334A等帶一定長度導線的夾具，需對應設置CABLE補償值，如1米，以減小夾具帶來的寄生參數的影響。

04

測量條件設置

根據規格書要求設置合適的交流電壓，頻率。對于容值大于1uF電容，打開ALC自動電平控制功能，使實測時被測件兩端電壓保持恒定，否則很可能測出的容值偏低。

05

參數顯示設置

有兩種電路模式顯示測量結果，一種是Cp并聯模式，一種是Cs串聯模式。一般而言，測小容值大電抗用Cp模式，測大容值用Cs模式。但對于高Q值的電容，兩者差別不大。