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提升QFN封裝可靠性的關鍵:附推拉力測試機檢測方案

科準測控 ? 來源:科準測控 ? 作者:科準測控 ? 2025-05-08 10:25 ? 次閱讀
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近期,公司出貨了一臺推拉力測試機,是專門用于進行QFN封裝可靠性測試。在現代電子制造領域,QFN(Quad Flat No-leads)封裝因其體積小、散熱性能優異和電氣性能突出等優勢,被廣泛應用于各類集成電路中。然而,QFN封裝的可靠性直接影響到電子產品的長期穩定性和使用壽命。為確保QFN封裝焊點的機械強度和焊接質量,推拉力測試成為不可或缺的檢測手段。
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科準測控小編為您詳細介紹如何利用Alpha W260推拉力測試機進行QFN封裝的可靠性測試。本文將涵蓋測試原理、相關標準、儀器特點以及詳細的測試流程,幫助工程師和質檢人員更好地評估QFN封裝的可靠性,確保產品符合行業要求。

一、測試原理

推拉力測試(Push-Pull Test)是一種用于評估電子元器件焊點或引線機械強度的測試方法。在QFN封裝測試中,主要通過施加垂直或水平方向的力,測量焊點或芯片與基板之間的結合強度。測試結果可用于判斷焊接工藝是否合格,是否存在虛焊、冷焊或焊點開裂等缺陷。

1、推力測試(Shear Test):使用測試探針對QFN封裝的側面施加推力,直至焊點斷裂,記錄最大推力值。

2、拉力測試(Pull Test):適用于評估芯片與基板之間的粘接強度,通常使用膠粘或專用夾具進行垂直拉力測試。

二、測試標準

QFN封裝的推拉力測試需遵循相關國際或行業標準,常見的標準包括:

IPC/JEDEC J-STD-020:非氣密性表面貼裝器件的可靠性測試標準。

IPC-9701:表面貼裝焊點的機械性能測試標準。

MIL-STD-883:微電子器件可靠性測試方法,適用于高可靠性應用場景。

JESD22-B117:焊球剪切測試標準,適用于QFN等無鉛封裝測試。

測試參數的設定(如測試速度、測試位置、力值范圍等)需根據具體封裝尺寸和材料進行調整。

三、測試儀器

1、Alpha W260推拉力測試機
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A、設備介紹

Alpha-W260自動推拉力測試機用于為微電子引線鍵合后引線焊接強度測試、焊點與基板表面粘接力測試及其失效分析領域的專用動態測試儀器,常見的測試有晶片推力、金球推力、金線拉力等,采用高速力值采集系統。根據測試需要更換相對應的測試模組,系統自動識別模組,并自由切換量程。

B、推刀或鉤針
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C、常用工裝夾具
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四、測試流程

步驟一、樣品準備

選取待測QFN封裝樣品,確保表面清潔,無氧化或污染。

根據測試需求,選擇推力或拉力測試模式。

步驟二、設備校準

開機預熱,進行力傳感器和位移校準,確保測試精度。

步驟三、測試參數設置

測試模式:選擇推力(Shear)或拉力(Pull)模式。

測試速度:通常設定為0.1~1.0 mm/s,具體依據標準或工藝要求。

測試位置:調整探針或夾具位置,確保對準QFN焊點或芯片邊緣。

步驟四、執行測試

啟動測試程序,探針或夾具按設定參數施加力,直至焊點斷裂。

設備自動記錄最大力值、斷裂曲線等數據。

步驟五、數據分析

檢查力-位移曲線,判斷焊點斷裂模式(如界面斷裂、焊料斷裂等)。

對比標準值,評估焊接質量是否合格。

步驟六、測試報告生成

導出測試數據,生成包含力值、斷裂模式、合格判定的完整報告。

五、結論

QFN封裝的可靠性直接影響電子產品的長期穩定性,而推拉力測試是評估其焊接質量的重要手段。Alpha W260推拉力測試機憑借高精度、多功能和智能化特點,為QFN封裝的可靠性測試提供了高效、準確的解決方案。通過科學的測試流程和嚴格的標準執行,可有效提升產品質量,降低失效風險。

以上就是小編介紹的有關QFN 封裝可靠性測試相關內容了,希望可以給大家帶來幫助!如果您還想了解更多關于鍵合絲拉力測試、金絲鍵合拉力標準、鍵合拉力測試儀和金絲鍵合拉力標準,推拉力測試機怎么使用視頻和圖解,使用步驟及注意事項、作業指導書,原理、怎么校準和使用方法視頻,推拉力測試儀操作規范、使用方法和測試視頻,焊接強度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題,歡迎您關注我們,也可以給我們私信和留言,【科準測控】小編將持續為大家分享推拉力測試機在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導體、BGA元件焊點、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領域應用中可能遇到的問題及解決方案。

審核編輯 黃宇

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