引言
在現實世界中,微通道板探測器、微通道板光電倍增管、快速光電二極管、離散打拿極光電倍增管產生的毫伏級信號,還有心臟信號,都需要非常低幅度的脈沖來測試諸如低信號放大器之類的電子設備,或者用于其他研發設備或醫療設備的測試。
德思特TS-AWG4000任意波形發生器的垂直分辨率為16位,滿量程范圍為12Vpp 50Ohms到50Ohms:分辨率(DAC步長)為12Vpp/2^16=0.1831mV。這意味著波形振幅為3mVpp時,DAC僅使用4位。
TS-AWG5000和TS-AWG7000在50Ohms負載下的滿量程范圍為5Vpp。TS-AWG5000的分辨率是5Vpp/2^16=0.07629mV,TS-AWG7000的分辨率是5Vpp/2^14=0.305175mV。這意味著,如果使用TS-AWG5000型號生成6Vpp的波形幅度,DAC僅使用6位。
TS-PG1000脈沖發生器的滿量程為5Vpp,因此,當試圖生成極低幅度的脈沖信號時,其整個量程并未得到優化。強烈建議將TS-AWG系列波形和脈沖發生器與外部衰減器配合使用,以在極低幅度脈沖、快速上升/下降時間、最小脈沖寬度和高信號保真度等方面達到最佳性能。
使用TS-PG1000生成極低幅度脈沖
生成低電平脈沖需要使用外部衰減器來優化信噪比,并獲得最佳的整體效果。
在接下來的測試中,我們使用了一個如下面圖片所示的30dB外部衰減器。
在本文中,我們使用示波器對極低幅度的脈沖進行了多次測量。您可以在下面的圖片中看到不同的測試及結果。
[此處有多張TS-PG1000不同幅度脈沖測試的示波器截圖,分別是27mVpp、56mVpp、140mVpp幅度,均使用30dB衰減器,截圖展示了脈沖波形及示波器上的電壓、時間刻度等信息]
●TS-PG1000|脈沖波|27mVpp振幅|衰減30dB|示波器
●TS-PG1000|脈沖波|56mVpp振幅|衰減30dB|示波器
●TS-PG1000|脈沖波|140mVpp振幅|衰減30dB|示波器
使用TS-AWG4010生成極低幅度脈沖
TS-AWG-4010任意波形發生器系列在50歐姆負載下滿量程為12Vpp,因此,在這種情況下,同樣需要一個30dB的外部衰減器來獲得最佳結果。
●TS-AWG4010|脈沖波|15mVpp振幅|衰減30dB|示波器
●TS-AWG4010|脈沖波|31mVpp振幅|衰減30dB|示波器
●TS-AWG4010|脈沖波|61mVpp振幅|衰減30dB|示波器
●TS-AWG4010|脈沖波|130mVpp振幅|衰減30dB|示波器
●TS-AWG4010|脈沖波|130mVpp振幅|10nswidth|衰減30dB|示波器
使用TS-AWG5000生成極低幅度脈沖
TS-AWG5000任意波形發生器系列在50歐姆負載下滿量程為5Vpp,模擬帶寬大于2GHz,因此,同樣需要一個30dB的外部衰減器來優化信噪比。
●TS-AWG5000|脈沖波|16mVpp振幅|衰減30dB|示波器
●TS-AWG-5000|脈沖波|15mVpp振幅|衰減30dB|示波器
●TS-AWG-5000|脈沖波|30mVpp振幅|衰減30dB|示波器
●TS-AWG-5000|脈沖波|60mVpp振幅|衰減30dB|示波器
●TS-AWG-5000|脈沖波|140mVpp振幅|衰減30dB|示波器
使用TS-AWG7000生成極低幅度脈沖
TS-AWG7000任意波形發生器系列在50歐姆負載下滿量程為5Vpp,模擬帶寬大于8GHz,因此,在這種情況下,也需要一個30dB的外部衰減器來獲得最佳結果。
使用TS-AWG7000,可以獲得上升和下降時間為50ps、最小脈沖寬度約為100ps的極小幅度脈沖。
●TS-AWG-7000|脈沖波|16mVpp振幅|衰減30dB|示波器
●TS-AWG-7000|脈沖波|30mVpp振幅|衰減30dB|示波器
●TS-AWG-7000|脈沖波|60mVpp振幅|衰減30dB|示波器
●TS-AWG-7000|脈沖波|120mVpp振幅|衰減30dB|示波器
結論
TS-AWG和TS-PG系列一流的硬件架構,再結合外部衰減器,在需要生成極低幅度、快速上升/下降時間和極窄寬度脈沖時,能夠提供無與倫比的性能和高信號保真度,滿足最新的前沿研發挑戰的需求。
關于德思特
廣州德思特科技有限公司(簡稱“德思特”)正式成立于2023年,德思特科技致力于成為全球領先的AI+測試測量解決方案供應商,通過創新技術和智能高效的解決方案,推動自動駕駛、低空經濟、量子通信、6G關鍵技術、AI半導體芯片等領域的發展,賦能未來智能世界。我們的使命是引領創新,通過深刻的洞察力,提供有價值的測試測量方案和技術服務,讓測試輕而易舉。
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德思特研發部,核心成員獲得國際項目管理師PMP認證資質,并具備LabVIEW、python等多種編程語言能力,優勢能力集中于:HIL測試,半導體測試,EOL測試和質量檢測等多種系統研發集成,擁有10多個實用新型和專利授權。
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審核編輯 黃宇
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