SC2020晶體管測試系統是專為二極管、三極管、IGBT、MOSFET等?半導體分立器件?設計的?電學參數測試設備?,集成實驗室級測量精度(±0.1%)與工業級測試效率(10,000UPH)。系統通過?GJB128軍標認證?,適用于元器件生產企業的?晶圓中測/封裝成測?、科研院所的?失效分析?以及電子制造企業的?IQC來料檢驗?。
二、SC2020系統五大核心優勢解析
1. 多量程精密測試架構
?寬范圍電源系統?:2000V高壓源(±0.5%)/500A大電流源(±1%)協同工作
?納米級測量精度?:16位ADC模組實現1.5pA漏電流檢測,四線開爾文連接消除接觸電阻
?智能溫漂補償?:環境溫度波動影響<0.005%/℃
2. 自動化測試能力
?設備擴展接口?:標配Prober/Hander接口(16Bin分類),兼容Cohu/TEL等主流?分選機?
?智能分揀系統?:支持掃碼槍數據綁定,實現DMC全流程追溯
?測試效率提升?:聯動機械手工作站的測試周期≤0.3秒/器件
3. 軍工級可靠性設計
?EMC防護體系?:通過IEC61340-3-1靜電防護標準
?強化散熱結構?:連續測試溫升<15℃(@40A滿載)
?三防處理工藝?:適應濕度85%RH無凝露環境
4. 智能軟件平臺
?LabVIEW可視化系統?:支持參數分檔模板導入/導出(Excel兼容)
?實時SPC監控?:自動生成CPK過程能力分析報告
?故障自診斷系統?:81類異常狀態代碼實時提示
5. 模塊化擴展配置
?動態參數模塊?:擴展Ciss/Coss/Crss等?結電容測試?
?高低溫測試套件?:支持-55℃~175℃溫控腔體接入
?汽車電子套件?:符合AEC-Q101認證測試流程
三、技術參數對比表(關鍵指標)
功能模塊 | 量程范圍 | 分辨率 | 精度 |
---|---|---|---|
高壓源(HVS) | ±2000V | 1mV | ±0.5%FS |
大電流源(HIS) | ±500A | 1μA | ±1%FS |
柵極驅動 | 40V/100mA | 0.1mV | ±0.2%FS |
結電容測試 | 5pF-100nF | 0.01pF | ±1%+5pF |
四、典型測試場景應用
1. 功率器件量產測試
?IGBT模塊?:BVCES/VCE(sat)/開關損耗曲線
?MOSFET?:RDS(on)/Qg/Coss非線性特性
?碳化硅器件?:雙脈沖測試配套方案
2. 質量控制體系
?來料檢驗?:AQL 0.1抽檢標準實施
?失效分析?:ESD/EOS損傷定位檢測
?可靠性驗證?:HTRB/H3TRB試驗監控
3. 研發驗證平臺
器件參數配對篩選(Vth±2%分組)
溫度特性曲線掃描(-55℃~175℃)
雪崩能量測試(EAS≥5mJ)
五、行業方案及常見問題
行業解決方案
?汽車電子?:滿足ISO16750電源芯片測試需求
?光伏逆變器?:IGBT模塊動態特性評估
?工業電源?:SR MOSFET體二極管恢復測試
常見問題
Q: SC2020測試系統如何選型?
A: 根據測試電流(>100A需選配擴流板)、電壓等級(>1400V選高壓套件)、分類需求(>8Bin需擴展接口)
Q: 是否支持Ciss/Coss參數測試?
A: 需選配型號SC2020-CAP模塊(帶寬20MHz,精度±3%)
審核編輯 黃宇
-
晶體管
+關注
關注
77文章
9977瀏覽量
140617 -
半導體器件
+關注
關注
12文章
776瀏覽量
32760
發布評論請先 登錄
評論