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揭秘:推拉力測試機儀如何助力于電子元器件引線拉力測試?

科準測控 ? 來源:科準測控 ? 作者:科準測控 ? 2025-01-14 14:30 ? 次閱讀

在當今電子科技飛速發展的時代,電子元器件作為各類電子設備的核心部件,其質量和可靠性直接關系到整個系統的穩定運行。而引線作為電子元器件中實現電氣連接的關鍵部分,其連接強度的檢測尤為重要。引線拉力測試作為評估引線連接強度的關鍵手段,對于保障電子元器件的性能和可靠性具有重要意義。本文中,科準測控的小編將為您詳細解讀電子元器件引線拉力測試的全流程,從測試的準備到實施,再到結果分析,全方位展現這一重要測試環節的每一個細節,幫助您深入了解如何確保電子元器件引線連接的牢固與可靠。

一、引線拉力

引線拉力是指在引線鍵合后,通過施加拉力來測試引線與鍵合點之間的連接強度。測試過程中,鍵合點在逐漸增大的外力作用下被破壞,測試設備記錄下破斷時的最大力值,以此評估鍵合的牢固程度。
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二、應用

引線拉力測試廣泛應用于微電子封裝領域,特別是在半導體集成電路封裝測試LED封裝測試、光電器件封裝測試、PCBA電子組裝測試、汽車電子、航空航天和軍事等領域。 以下是一些具體的應用場景:

半導體封裝:在半導體器件的生產過程中,引線鍵合是實現芯片與基板電氣連接的關鍵步驟。引線拉力測試可以確保鍵合點的強度,從而保證器件的可靠性和性能。

航空航天:在對可靠性要求極高的航空航天領域,引線鍵合的拉力值尤為重要。通過精確控制施加在樣品上的力,可以評估引線鍵合的強度和可靠性。

電子組裝:在PCB組裝過程中,引線拉力測試可以確保焊點的牢固性,防止在使用過程中出現脫焊或虛焊現象。

三、相關標準

引線拉力測試遵循多種標準,包括但不限于:

MIL-STD-883:美國軍用標準,涵蓋引線鍵合的剪切和拉伸強度測試。

JEDEC JESD22-B116:規范引線鍵合拉伸測試方法,適用于各種材料和工藝。

IPC-9701:電子封裝的可靠性標準,包含鍵合強度和疲勞測試。

IEC 60749-30:國際標準,適用于半導體器件的引線鍵合剪切測試。

四、常用檢測設備

Alpha W260推拉力測試機
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1、設備介紹

a、多功能焊接強測試儀是用于為微電子引線鍵合后引線焊接強度測試、焊點與基板表面粘接力測試及其失效分析領域的專用動態測試儀器,常見的測試有晶片推力、金球推力、金線拉力等,采用高速力值采集系統。

b、根據測試需要更換相對應的測試模組,系統自動識別模組量程。可以靈活得應用到不同產品的測試,每個工位獨立設置安全高度位及安全限速,防止誤操作對測試針頭造成損壞。且具有測試動作迅速、準確、適用面廣的特點。

c、適用于半導體IC封裝測試、LED 封裝測試、光電子器件封裝測試、PCBA電子組裝測試、汽車電子、航空航天、軍工等等。亦可用于各種電子分析及研究單位失效分析領域以及各類院校教學和研究。

2、鉤針
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3、檢測類型
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4、實測案例
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五、測試方法

步驟一、準備測試:將待測引線固定在測試設備上,確保小勾能夠穩定勾住引線。
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步驟二、設置測試參數:調整拉力施加點,使其位于內外焊點的中間位置,并確保拉力方向垂直于焊點連線。

步驟三、非破壞性測試:逐漸增加拉力,直至達到預設的標準規定值。觀察引線和焊點,若在規定拉力下未發生斷裂或脫落,表明鍵合強度合格。

步驟四、破壞性測試(如需要):繼續增加拉力,直至引線斷裂或焊點脫落。記錄此時的拉力值,該值為極限鍵合強度。

步驟五、測試完成:輕輕移開小勾,取出測試樣品,并記錄測試結果。

數據分析:根據非破壞性測試和破壞性測試的結果,評估鍵合線的質量。

步驟六、測試設備

引線拉力測試通常使用推拉力測試機,該設備具有以下特點:

多功能性:可以進行多種測試,如晶片推力測試、金球推力測試和金線拉力測試等。

高速力值采集系統:確保測試的精確性。

模塊化設計:根據測試需要更換相應的測試模塊,系統自動識別并調整到合適的量程。

安全保護:每個測試工位都設有獨立安全高度和速度限制,以防止因誤操作而損壞測試探頭。

以上就是小編介紹的有關于電子元器件引線拉力測試相關內容了,希望可以給大家帶來幫助!如果您還想了解更多關于推拉力測試機怎么使用視頻和圖解,使用步驟及注意事項、作業指導書,原理、怎么校準和使用方法視頻,推拉力測試儀操作規范、使用方法和測試視頻,焊接強度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題,歡迎您關注我們,也可以給我們私信和留言,【科準測控】小編將持續為大家分享推拉力測試機在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導體、BGA元件焊點、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領域應用中可能遇到的問題及解決方案。

審核編輯 黃宇

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