DE-YMS 2.0更新

自廣立微推出良率管理系統(tǒng)（DE-YMS）以來，已在超過百家設計公司、晶圓廠及封測廠中得到廣泛驗證和不斷完善，成為半導體行業(yè)公認的高效良率管理平臺。

近日，廣立微正式發(fā)布DE-YMS 2.0版本，通過全面整合半導體全流程數(shù)據(jù)，新增豐富的分析功能模塊，解決了多Die合封數(shù)據(jù)分析、物料回溯等關鍵技術難題，為半導體行業(yè)迎接新一輪技術升級和挑戰(zhàn)提供強大支持。

全流程數(shù)據(jù)采集與分析：

構建穩(wěn)定的半導體大數(shù)據(jù)中臺

DE-YMS 2.0在原有基礎上進行了全面升級，支持從芯片設計、制造、封裝到測試的全流程數(shù)據(jù)采集與分析，采用微服務架構與分布式數(shù)據(jù)庫，數(shù)據(jù)統(tǒng)計，查詢性能提升1.5~5倍。

微服務將系統(tǒng)拆分成多個獨立的服務，每個服務都可以獨立部署和升級，不僅具備更高的可靠性，還能提供更靈活的擴展和維護能力。分布式數(shù)據(jù)庫的引入，大幅提升了系統(tǒng)的可擴展性與數(shù)據(jù)處理性能，搭建起穩(wěn)定可靠的半導體大數(shù)據(jù)中臺，助力企業(yè)實現(xiàn)數(shù)據(jù)驅動的生產(chǎn)優(yōu)化。

專業(yè)看板與多場景分析：

快速識別并解決良率瓶頸

廣立微在半導體良率提升領域擁有20多年的技術積淀與豐富的實施經(jīng)驗。DE-YMS 2.0的專業(yè)看板功能，涵蓋了多種分析場景，通過深度數(shù)據(jù)挖掘與精準識別，能夠高效查找并解決生產(chǎn)流程中的各種問題，顯著提升良率分析效率。 系統(tǒng)緊跟半導體技術發(fā)展趨勢，新增了多Die合封數(shù)據(jù)分析、Fail Bit Map（FBM）分析等多個模塊，全面應對技術升級帶來的數(shù)據(jù)分析挑戰(zhàn)。

01良率分析場景：

DE-YMS 2.0提供了包括相關性、共同性、區(qū)域性等多種分析方法，靈活的數(shù)據(jù)關聯(lián)和過濾功能，通過一鍵式操作，快速定位良率瓶頸，效率提升達到十倍。

02FBM（Fail Bit Map）分析模塊：

為存儲器芯片失效分析提供精準支持，幫助設計與制造團隊識別失效模式，支持存儲產(chǎn)品與SOC產(chǎn)品存儲模塊失效分析，進行多維度失效類型統(tǒng)計與分析，優(yōu)化工藝設計，提高良率。

03多Die合封數(shù)據(jù)分析：

新增的多Die合封分析模塊對FT數(shù)據(jù)進行全鏈條追溯，提供Strip維度或wafer維度的全面數(shù)據(jù)展示，通過多個Die數(shù)據(jù)對比分析，精準鎖定良率問題根源，助力提高封裝技術的生產(chǎn)效率。

04全流程數(shù)據(jù)回溯：DE-YMS 2.0加強了全流程數(shù)據(jù)回溯能力。RMA（Return Material Authorization）模塊能夠串聯(lián)芯片的全周期數(shù)據(jù)，全面追蹤失效芯片的生產(chǎn)履歷，幫助工程師快速識別生產(chǎn)問題源，優(yōu)化流程管理，提高生產(chǎn)效率與產(chǎn)品質量。

05車規(guī)標準Ink Master：此外，DE-YMS 2.0內(nèi)置的INK Master模塊支持車規(guī)級標準，幫助工程師高效管理和監(jiān)控芯片質量，確保產(chǎn)品在高可靠性和嚴苛環(huán)境下的穩(wěn)定性，特別適用于車載電子等對質量要求極高的領域。

邁向半導體良率管理的新紀元

廣立微DE-YMS 2.0的發(fā)布不僅是半導體行業(yè)對軟件的認可，也標志著廣立微在良率管理領域的技術飛躍。憑借強大的技術創(chuàng)新能力與深厚的行業(yè)經(jīng)驗，我們將繼續(xù)致力于為全球半導體企業(yè)提供更為精準、高效的良率管理解決方案，推動半導體行業(yè)向智能化、數(shù)字化轉型邁進。

關于我們

杭州廣立微電子股份有限公司（股票代碼：301095）是領先的集成電路EDA軟件與晶圓級電性測試設備供應商，公司專注于芯片成品率提升和電性測試快速監(jiān)控技術，是國內(nèi)外多家大型集成電路制造與設計企業(yè)的重要合作伙伴。公司提供EDA軟件、電路IP、WAT電性測試設備以及與芯片成品率提升技術相結合的整套解決方案，在集成電路設計到量產(chǎn)的整個產(chǎn)品周期內(nèi)實現(xiàn)芯片性能、成品率、穩(wěn)定性的提升，成功案例覆蓋多個集成電路工藝節(jié)點。