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碳化硅晶體的生長(zhǎng)原理

半導(dǎo)體封裝工程師之家 ? 2024-08-03 18:01 ? 次閱讀

碳化硅晶體的生長(zhǎng)原理

在自然界中,晶體不勝枚舉,其分布及應(yīng)用都十分廣泛。例如日常生活中隨處可見(jiàn)的鹽、糖、鉆石、雪花都是晶體;此外,半導(dǎo)體晶體、激光晶體、閃爍晶體、超硬晶體等晶體材料在工業(yè)、醫(yī)療、半導(dǎo)體及眾多科研領(lǐng)域也發(fā)揮著重要的作用。

不同晶體材料之間的結(jié)構(gòu)、性能以及制備方法不盡相同,但其共通特點(diǎn)是晶體中的原子排列規(guī)則有序,在三維空間中通過(guò)周期性堆垛,組成特定結(jié)構(gòu)的晶格,因此晶體材料的外觀通常會(huì)呈現(xiàn)出整齊規(guī)則的幾何形狀。

碳化硅單晶襯底材料(Silicon Carbide Single Crystal Substrate Materials,以下簡(jiǎn)稱(chēng)SiC襯底)也是晶體材料的一種,屬于寬禁帶半導(dǎo)體材料,具有耐高壓、耐高溫、高頻、低損耗等優(yōu)勢(shì),是制備大功率電力電子器件以及微波射頻器件的基礎(chǔ)性材料。

SiC的晶體結(jié)構(gòu)

SiC單晶是由Si和C兩種元素按照1:1化學(xué)計(jì)量比組成的Ⅳ-Ⅳ族化合物半導(dǎo)體材料,硬度僅次于金剛石。

C原子和Si原子都有4個(gè)價(jià)電子,可以形成4個(gè)共價(jià)鍵,組成SiC基本結(jié)構(gòu)單元——Si-C四面體,Si原子和C原子的配位數(shù)都是4,即每個(gè)C原子周?chē)加?個(gè)Si原子,每個(gè)Si原子周?chē)加?個(gè)C原子。

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SiC襯底作為一種晶體材料,也具有原子層周期性堆垛的特性。Si-C雙原子層沿著[0001]方向進(jìn)行堆垛,由于層與層之間的鍵能差異小,原子層之間容易產(chǎn)生不同的連接方式,這就導(dǎo)致SiC具有較多種類(lèi)的晶型。常見(jiàn)晶型有2H-SiC、3C-SiC、4H-SiC、6H-SiC、15R-SiC等,其中,按照“ABCB”順序進(jìn)行堆垛的結(jié)構(gòu)稱(chēng)為4H晶型。雖然不同晶型的SiC晶體具有相同的化學(xué)成分,但是它們的物理性質(zhì),特別是禁帶寬度、載流子遷移率等特性有較大的差別。其中,4H晶型各方面的性能更適合半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用。

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生長(zhǎng)溫度、壓力等多種因素都會(huì)影響SiC襯底的晶型穩(wěn)定性,因此想要獲得高質(zhì)量、晶型均一的單晶材料,在制備過(guò)程中必須精確控制如生長(zhǎng)溫度、生長(zhǎng)壓力、生長(zhǎng)速度等多種工藝參數(shù)。

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