杭州季豐電子ESD測(cè)試業(yè)務(wù)一直深受客戶的信任和好評(píng)，實(shí)驗(yàn)室近期又對(duì)Thermo Celestron TLP（Standard TLP）測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行了升級(jí)。Celestron TLP測(cè)試系統(tǒng)是業(yè)界極為全面的TLP測(cè)試系統(tǒng)，它利用圖形來輔助系統(tǒng)設(shè)置和與DUT的連接。

在檢測(cè)運(yùn)行期間，系統(tǒng)可顯示記錄的TLP脈沖電壓和電流波形、編制的脈沖 I-V 曲線、泄漏電流測(cè)量結(jié)果以及DC I-V 曲線追蹤數(shù)據(jù)?？蛇x擇測(cè)試電壓（應(yīng)力脈沖）的范圍、脈沖極性、漏電及曲線追蹤參數(shù)，也可在采集數(shù)據(jù)后選擇和修改TLP脈沖測(cè)量窗口的位置和持續(xù)時(shí)間。

此次升級(jí)增加了10ns和1ns的脈沖上升沿濾波器模塊，加上原來的2ns，基本滿足Standard TLP測(cè)試要求，使得杭州季豐ESD業(yè)務(wù)能力更全、更快、更好地服務(wù)于杭州本地及周邊客戶。

什么是TLP?

TLP是Transmission Line Pulse，傳輸線脈沖發(fā)生器，是一種集成電路靜電放電防護(hù)技術(shù)的研究測(cè)試手段。與傳統(tǒng)的HBM、MM、CDM、IEC模型不同，傳輸線脈沖發(fā)生器發(fā)出的是靜電模擬方波，而傳統(tǒng)模式發(fā)出的則是RC-LC模式的脈沖波形，與之相對(duì)應(yīng)的，傳統(tǒng)的HBM等波形更直接地模擬了現(xiàn)實(shí)中的某種靜電形式，而TLP通過調(diào)節(jié)上升沿和脈沖寬度，間接地模擬了這些靜電脈沖形式的損傷能力和不同上升沿CLAMP觸發(fā)能力。

由于使用了方波，TLP可以通過每次施加一個(gè)脈沖，獲得一個(gè)I-V點(diǎn)的方式，一直施加不同幅值的電流直到測(cè)量泄露電流（Leakage）判定失效為止，即可獲得完整的器件在ESD過程中的I-V曲線，而這種曲線，則可以用于集成電路ESD防護(hù)設(shè)計(jì)的仿真，達(dá)到集成電路ESD防護(hù)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)目的。

TLP一般用于驗(yàn)證器件Device 特性，通常不考慮Whole Chip之ESD特性，廣泛用于IP設(shè)計(jì)公司，例如Foundry廠，其無法預(yù)知到其IP用于何處，只能針對(duì)Testing Chip做TLP仿真驗(yàn)證；其測(cè)試需要手動(dòng)搭建，只能針對(duì)性驗(yàn)證特定架構(gòu)，無法做Whole chip測(cè)試。

Celestron TLP的簡(jiǎn)易模型：

如何解讀Celestron TLP測(cè)試結(jié)果曲線：

以常見的NMOS測(cè)得的TLP曲線為列，其TLP曲線可以理解為如下圖所示，通過TLP的曲線得到的信息可以方便的為ESD保護(hù)管的設(shè)計(jì)和選型提供參考。

Celestron TLP其他具體優(yōu)勢(shì)如下：

·硅片和封裝級(jí)TLP測(cè)試

·符合ANSI STM5.5.1-2016的TLP測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

·高電流 TLP 脈沖發(fā)生器

·集成式+/-200V電源/儀表單元

·可與半自動(dòng)探針臺(tái)連接

·先進(jìn)、直觀的軟件用于控制和生成報(bào)告

·占用空間較小的工作臺(tái)

審核編輯：湯梓紅