上海伯東某生產氦氣檢漏系統公司, 其研發的小型氦檢漏系統內部集成伯東 Pfeiffer 檢漏模塊 ASI 35 用于電子元器件檢漏. 真空模式下, 漏率 5x10-7 mbar l/s.
電子元器件檢漏系統功能
定制腔體內放入經過壓氦的電子元器件, 真空模式下, 測試元件的整體漏率值.

模塊式氦質譜檢漏儀ASI 35 主要技術參數
測試方法 | 真空模式和吸槍模式 |
真空模式下 | 3.5X10-8mbar l/s 大漏模式 |
吸槍模式下 | 1.5X10-8mbar l/s |
檢測氣體 | 4He, 3He, H2 |
初檢壓力 | 18 mbar 大漏模式 |
氦氣抽速 | 1.8 l/s 常規模式 |
啟動時間 | < 3 min |
真空接口 | DN 25 ISO-KF; DN 16 ISO-KF |
Interface | |
I/O interface | 6 個數字輸入 (所配功能可設置) |
尺寸: L × W × H | 真空模塊 279 × 264 × 197 mm |
重量 | 真空模塊 15 kg; 電子模塊 5 kg; 控制面板 1.3 kg |
通用電壓 | 90 – 240 V AC; 50/60 Hz |
最大功耗 | 300 W |
工作溫度 | 10 – 45 °C |
模塊式氦質譜檢漏儀典型應用:新能源鋰電池檢漏, 板換檢漏, 繼電器檢漏, 汽車油箱檢漏, 傳感器檢漏等行業.
汽車行業:安全氣囊, 散熱器, 燃料箱等
制冷行業:蒸發器, 壓縮機, 空調管路等
其他行業:機械零部件, 罐子, 閥門等
鑒于客戶信息保密, 若您需要進一步的了解電子元器件檢漏系統, 請聯絡上海伯東葉女士
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