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【虹科干貨】基本元件可靠性測(cè)試方案

虹科測(cè)試測(cè)量 ? 2023-07-07 10:09 ? 次閱讀

01

內(nèi)容摘要

本文介紹了一種基于可變形測(cè)試模塊的電感和電阻測(cè)試系統(tǒng),旨在解決傳統(tǒng)手動(dòng)測(cè)量方法存在的局限性和需求提升的問(wèn)題。

該系統(tǒng)通過(guò)引入可變形測(cè)試模塊、大規(guī)模矩陣和配套設(shè)備,實(shí)現(xiàn)了電感和電阻的大規(guī)模自動(dòng)化測(cè)試。基于可變形測(cè)試模塊的電感和電阻測(cè)試系統(tǒng)是一種創(chuàng)新的解決方案,能夠滿足電子設(shè)備制造業(yè)對(duì)大規(guī)模自動(dòng)化測(cè)試的需求。該系統(tǒng)在提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性的同時(shí),具備靈活性和適應(yīng)性,具有廣闊的應(yīng)用潛力。

我們相信,這個(gè)測(cè)試系統(tǒng)將為電子設(shè)備制造商提供可靠的測(cè)試工具,推動(dòng)生產(chǎn)效率和質(zhì)量控制的提升。

02

電感和電阻測(cè)試的需求和挑戰(zhàn)

電感和電阻作為集成電路板中常見(jiàn)的元器件,在電子設(shè)備的制造過(guò)程中發(fā)揮著重要的作用。電感用于存儲(chǔ)和傳遞能量,調(diào)節(jié)信號(hào)頻率,起到濾波和耦合等功能。電阻則用于限制電流、分壓和匹配阻抗等關(guān)鍵任務(wù)。這些元器件的質(zhì)量和可靠性直接影響著電子設(shè)備的性能和壽命。

然而,電感和電阻在生產(chǎn)和使用過(guò)程中常常面臨著一些挑戰(zhàn)和問(wèn)題。首先,傳統(tǒng)的手動(dòng)測(cè)量方法已經(jīng)無(wú)法滿足現(xiàn)代大規(guī)模生產(chǎn)的需求。手動(dòng)測(cè)量方法需要工人逐個(gè)進(jìn)行加電和測(cè)量,這在大批量生產(chǎn)中效率低下且容易出現(xiàn)誤差。此外,由于人為因素的影響,手動(dòng)測(cè)量方法的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性也存在一定的局限性。

提高電感和電阻測(cè)試的效率和準(zhǔn)確性已經(jīng)成為電子設(shè)備制造商面臨的重要挑戰(zhàn)。高效而可靠的測(cè)試方法能夠幫助廠商及時(shí)發(fā)現(xiàn)潛在的質(zhì)量問(wèn)題,提高產(chǎn)品的良品率和使用壽命。因此,尋找一種創(chuàng)新的測(cè)試系統(tǒng),能夠自動(dòng)化、快速地測(cè)試大量的電感和電阻元器件,并提供準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果,成為業(yè)界的迫切需求。這樣的測(cè)試系統(tǒng)不僅能提高生產(chǎn)效率,還可以有效降低成本并提升產(chǎn)品質(zhì)量。

在這樣的背景下,我們提出了基于可變形測(cè)試模塊的電感和電阻測(cè)試系統(tǒng),旨在解決傳統(tǒng)手動(dòng)測(cè)量方法的局限性,提高測(cè)試的效率和準(zhǔn)確性。

接下來(lái)的部分將詳細(xì)介紹該測(cè)試系統(tǒng)的原理、組成部分和優(yōu)勢(shì),以及它如何滿足電子設(shè)備制造商的需求。通過(guò)引入這個(gè)創(chuàng)新的測(cè)試系統(tǒng),我們相信能夠?yàn)殡娮釉O(shè)備制造商提供可靠的測(cè)試解決方案,推動(dòng)電感和電阻測(cè)試的進(jìn)一步發(fā)展。

03

系統(tǒng)的組成架構(gòu)

為了實(shí)現(xiàn)電感和電阻的大規(guī)模自動(dòng)化測(cè)試,我們?cè)O(shè)計(jì)了一種基于可變形測(cè)試模塊的測(cè)試系統(tǒng)。

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圖1: 基于可變形測(cè)試模塊的測(cè)試系統(tǒng)

該系統(tǒng)包括多個(gè)核心組件,包括可變形測(cè)試模塊、大規(guī)模矩陣、環(huán)境箱、可編程電源和其他附件。下面將逐個(gè)介紹這些組件及其在系統(tǒng)中的作用。

3.1

可變形測(cè)試模塊

可變形測(cè)試模塊是整個(gè)系統(tǒng)的核心部件,具備特殊的設(shè)計(jì)和功能。它集成了電壓和電流測(cè)試功能,并具備形狀可變的特性。可變形測(cè)試模塊能夠根據(jù)被測(cè)件的不同,靈活構(gòu)造測(cè)試拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),并實(shí)現(xiàn)電源分配和測(cè)試狀態(tài)監(jiān)測(cè)。這種可變形的特性使得測(cè)試系統(tǒng)能夠適應(yīng)不同種類(lèi)的電感和電阻元器件的測(cè)試需求。

3.2

大規(guī)模矩陣

大規(guī)模矩陣是系統(tǒng)中的另一個(gè)重要組件,它起到連接和切換的作用。該矩陣具備高度可擴(kuò)展性,能夠同時(shí)連接多個(gè)可變形測(cè)試模塊和LRC儀器。通過(guò)矩陣的切換功能,可變形測(cè)試模塊能夠輪流切換被測(cè)件到測(cè)試模式,實(shí)現(xiàn)并行的測(cè)試方式。這樣的設(shè)計(jì)大大提高了測(cè)試效率,能夠快速、準(zhǔn)確地對(duì)大量電感和電阻進(jìn)行測(cè)試。

3.3

環(huán)境箱

環(huán)境箱在系統(tǒng)中起到提供穩(wěn)定測(cè)試環(huán)境的關(guān)鍵作用。被測(cè)件放置在環(huán)境箱中進(jìn)行加熱,通過(guò)控制溫度來(lái)模擬電感和電阻的老化過(guò)程。穩(wěn)定的測(cè)試環(huán)境能夠保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性,確保被測(cè)件在一致的條件下進(jìn)行測(cè)試。

3.4

可編程電源

可編程電源為可變形測(cè)試模塊提供所需的電壓或電流輸出。通過(guò)可編程電源,我們能夠精確控制測(cè)試過(guò)程中施加在被測(cè)件上的電壓或電流,以確保測(cè)試過(guò)程的穩(wěn)定性和可控性??删幊屉娫淳邆潇`活的參數(shù)設(shè)定和調(diào)節(jié)功能,能夠滿足不同電感和電阻元器件的測(cè)試需求

3.5

其他附件

除了以上核心組件,測(cè)試系統(tǒng)還配備了其他附件,如測(cè)試接口、數(shù)據(jù)采集設(shè)備等。測(cè)試接口用于連接被測(cè)件和可變形測(cè)試模塊,確保信號(hào)的傳輸和交互。數(shù)據(jù)采集設(shè)備則用于記錄和分析測(cè)試結(jié)果,提供全面的測(cè)試數(shù)據(jù)和報(bào)告,為生產(chǎn)和質(zhì)量控制部門(mén)提供參考依據(jù)。

綜上所述,該測(cè)試系統(tǒng)的組成架構(gòu)是一個(gè)高度集成、靈活可變的系統(tǒng)它的核心是可變形測(cè)試模塊和大規(guī)模矩陣,通過(guò)配套的環(huán)境箱和可編程電源,能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)電感和電阻的大規(guī)模自動(dòng)化測(cè)試。這種組合架構(gòu)為電子設(shè)備制造商提供了高效、準(zhǔn)確的測(cè)試解決方案,將極大地推動(dòng)電感和電阻測(cè)試的發(fā)展和應(yīng)用。

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圖2: 測(cè)試系統(tǒng)實(shí)物圖

04

系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)和應(yīng)用潛力

4.1

提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性的能力

該基于可變形測(cè)試模塊的電感和電阻測(cè)試系統(tǒng)具有顯著的測(cè)試效率和準(zhǔn)確性優(yōu)勢(shì)。相比傳統(tǒng)的手動(dòng)測(cè)量方法,該系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)自動(dòng)化、快速的測(cè)試過(guò)程,大大節(jié)約了時(shí)間和人力資源。通過(guò)可編程電源和大規(guī)模矩陣的配合,可變形測(cè)試模塊能夠同時(shí)測(cè)試多個(gè)電感和電阻元器件,實(shí)現(xiàn)并行測(cè)試,從而提高了測(cè)試的吞吐量。同時(shí),系統(tǒng)能夠精確控制電壓和電流的施加,保證測(cè)試的穩(wěn)定性和可控性,提供準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果。這種高效和準(zhǔn)確的測(cè)試能力有助于快速發(fā)現(xiàn)潛在的質(zhì)量問(wèn)題,提升產(chǎn)品的良品率和使用壽命。

4.2

適應(yīng)不同種類(lèi)器件的靈活性和可擴(kuò)展性

該測(cè)試系統(tǒng)具備靈活性和可擴(kuò)展性,能夠適應(yīng)不同種類(lèi)的電感和電阻元器件的測(cè)試需求。可變形測(cè)試模塊的設(shè)計(jì)使得系統(tǒng)能夠根據(jù)被測(cè)件的不同,靈活構(gòu)造測(cè)試拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),并實(shí)現(xiàn)電源分配和測(cè)試狀態(tài)監(jiān)測(cè)。這意味著在同一套系統(tǒng)中,可以測(cè)試不同種類(lèi)和規(guī)格的電感和電阻元器件,無(wú)需更換設(shè)備或重新調(diào)整測(cè)試配置。這種靈活性和可擴(kuò)展性極大地提高了測(cè)試系統(tǒng)的適應(yīng)性和效率,為電子設(shè)備制造商提供了更加便捷和經(jīng)濟(jì)的測(cè)試解決方案。

4.3

用于手機(jī)廠商質(zhì)量檢測(cè)和電子設(shè)備制造

該測(cè)試系統(tǒng)在手機(jī)廠商質(zhì)量部門(mén)和電子設(shè)備制造領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用潛力。手機(jī)作為現(xiàn)代人們生活中不可或缺的通信工具,對(duì)電感和電阻的質(zhì)量和可靠性要求非常高。通過(guò)該測(cè)試系統(tǒng),手機(jī)廠商可以對(duì)電感和電阻進(jìn)行全面的老化測(cè)試,監(jiān)測(cè)其性能和壽命。系統(tǒng)能夠在加熱加濕并持續(xù)通電的條件下加速電感和電阻的老化過(guò)程,并記錄失效時(shí)間,從而評(píng)估原材料的質(zhì)量和可靠性。這對(duì)于手機(jī)廠商來(lái)說(shuō)是至關(guān)重要的,能夠幫助他們及時(shí)發(fā)現(xiàn)潛在的質(zhì)量問(wèn)題,并采取相應(yīng)的措施,提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。

除了手機(jī)廠商,該測(cè)試系統(tǒng)也適用于其他電子設(shè)備制造領(lǐng)域,如電腦、平板、智能家居等。這些設(shè)備中同樣使用了電感和電阻元器件,對(duì)其質(zhì)量和性能要求也非常嚴(yán)格。通過(guò)該系統(tǒng)的應(yīng)用,電子設(shè)備制造商能夠快速、準(zhǔn)確地測(cè)試電感和電阻,提升產(chǎn)品質(zhì)量,減少故障率,增強(qiáng)競(jìng)爭(zhēng)力。

05

結(jié)論

本文介紹了虹科自研的基于可變形測(cè)試模塊的電感和電阻測(cè)試系統(tǒng),該系統(tǒng)旨在提高測(cè)試效率、準(zhǔn)確性,并適應(yīng)不同種類(lèi)器件的測(cè)試需求。通過(guò)可編程電源、大規(guī)模矩陣和配套的環(huán)境箱,該系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)自動(dòng)化、大規(guī)模的測(cè)試過(guò)程,并提供全面的測(cè)試數(shù)據(jù)和報(bào)告。


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圖3: 電容老化測(cè)試系統(tǒng)界面

它為電子設(shè)備制造商提供了高效、準(zhǔn)確的測(cè)試解決方案,推動(dòng)了電感和電阻測(cè)試的發(fā)展和應(yīng)用。未來(lái),我們期待該系統(tǒng)在電子設(shè)備制造領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,為行業(yè)帶來(lái)更高的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)和創(chuàng)新發(fā)展。

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    <b class='flag-5'>虹</b><b class='flag-5'>科</b><b class='flag-5'>方案</b> | 精準(zhǔn)零部件<b class='flag-5'>測(cè)試</b>!多路汽車(chē)開(kāi)關(guān)按鍵功能檢測(cè)系統(tǒng)

    PCB可靠性測(cè)試:開(kāi)啟電子穩(wěn)定之旅

    PCB 可靠性測(cè)試是確保印刷電路板質(zhì)量的一系列檢測(cè)。它主要模擬 PCB 在實(shí)際使用中面臨的各種情況。包括環(huán)境測(cè)試,像檢測(cè)其在高低溫、濕度變化等條件下是否能正常工作,避免腐蝕等問(wèn)題;還有機(jī)械測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 10-24 17:36 ?846次閱讀

    基于可靠性設(shè)計(jì)感知的EDA解決方案

    技術(shù)人員撰寫(xiě)的。本文介紹了基于多物理場(chǎng)考慮的可靠性設(shè)計(jì) (DFR) 工作流程的創(chuàng)新 EDA 解決方案,跨越了 IP 級(jí)別、芯片和封裝/PCB 級(jí)別。本文還概述了DFR增強(qiáng)的路線圖,包括早期可行分析和系統(tǒng)技術(shù)協(xié)同優(yōu)化的自動(dòng)化。
    的頭像 發(fā)表于 07-15 09:56 ?679次閱讀
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