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三星要把3D NAND堆到1000層以上

旺材芯片 ? 來源:旺材芯片 ? 2023-07-04 15:42 ? 次閱讀

隨著數據時代的到來,AI、大數據、云計算等技術不斷發展,催生了更大容量固態驅動器和更快訪問時間的需求,推動了3D NAND市場的競爭。

2023年初,三星制定了開發新一代3D NAND的計劃:2024年推出的第九代3D NAND有望達到280層;第十代3D NAND有望跳過300層的區間,達到430層,預計將于2025-2026年推出。

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圖源:鎧俠

近日,三星存儲業務高管參加了電子工程師協會2023年夏季會議,表示2030年V-NAND可以疊加到1000多層。可以說,隨著三星、美光、SK海力士等存儲大廠紛紛將3D NAND層數提升至200層以上,層數之爭亦有愈演愈烈之勢。

3D NAND層數之爭

2007年,隨著2D NAND達到其規模極限,東芝率先提出了3D NAND結構概念。2013年三星則率先推出了其所謂的“V-NAND”,也就是3D NAND。

3D設計引入了多晶硅和二氧化硅的交替層,并將浮柵交換為電荷陷阱閃存 (CTF),區別在于FG將存儲器存儲在導電層中,而CTF將電荷“捕獲”在電介質層中。這種3D設計方式不僅帶來了技術性能的提升,而且還進一步控制了成本。

此后,三星不斷更新技術和擴增產業線,10年間推出了數代產品,以維護自己在NAND閃存市場的地位。其中,2020年,三星推出了176層的第七代“V-NAND”,其采用了“雙堆棧”技術,不是一次性蝕刻所有層,而是將它們分成兩部分,然后一層一層堆疊。

據悉,三星第七代V-NAND相較于與第六代的100層,其單元體積減少了35%,可以在不增加高度的情況下將層數增加到176,同時還可以降低功耗,使效率提高16%。

2022年7月,美光率先推出全球首款232層NAND。值得一提的是,美光發布的232層3D閃存芯片也采用了三星第七代一樣采用“雙堆棧”技術。即將232層分成兩部分,每個部分116層,這些層的堆疊是從一個深而窄的孔開始,通過導體和絕緣體的交替層蝕刻。然后用材料填充孔并加工形成器件的比特存儲部分。蝕刻和填充穿過所有這些層的孔的能力是該技術的關鍵限制。

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圖源:美光科技

今年5月,有消息稱,鎧俠和西部數據計劃在2023年VLSI技術和電路研討會上展示3D NAND技術創新,尋求實現8平面的3D NAND,以及超過300層的3D NAND。據提供的論文資料,為實現這一目標,兩家公司計劃采用金屬誘導橫向結晶(MILC)技術,即通過MILC技術,在超過300層的垂直存儲孔中,形成14微米長的類通心粉硅通道。據報道,這種實驗性3D NAND還利用尖端的吸鎳方法消除硅材料中的雜質和缺陷,從而提高單元陣列性能。

而三星此次又提到了2030年將出現1000層閃存,勢必引發儲存大廠在3D NAND時代的技術競賽。未來,NAND閃存堆棧層數也將猶如摩天大樓一樣越來越高。對此,三星高管表示,正因為V-NAND的存在,延續了NAND的歷史,是韓國國家創造技術和生態系統的少數成功事例。

3D NAND制造挑戰

毫無疑問,盡管3D NAND未來發展方向是堆棧添加更多的層,但NAND層數的競爭將對制造工藝和投資帶來更大的風險。

三星高管也表示,為了推動1000層的NAND技術,就像建設摩天大樓一樣,需要考慮坍塌、彎曲、斷裂等諸多穩定性問題,此外還需要克服連接孔加工工藝、最小化電池干擾、縮短層高以及擴大每層存儲容量等挑戰。

從理論上講,堆疊1000層以上的NAND是可行的,但需要解決堆棧過程中的蝕刻問題,即必須蝕刻具有非常高縱橫比的非常深的孔。盡管蝕刻技術在不斷進步,但一次性蝕刻更深的孔具有很大的挑戰,也無法提高蝕刻速度。而以沉積和蝕刻為主的工藝流程也堆棧如此多層數的話,將無法降低成本。

除了蝕刻之外,還需要用非常薄的介電層上下均勻地填充這個孔,而沉積幾納米的層并不容易,仍然具有挑戰性。

另外,在堆棧如此多的層之后,還需經過蝕刻/沉積/清潔/熱循環等工藝,比如在局部鉆孔之后,整個堆棧中會切出一個非常深的溝槽,可能會導致局部和全局壓力,相當于一個非常高的摩天大樓切成兩座之后,可能出現倒塌的現象。

還有,將如此多的材料相互疊放并切割不同的圖案,會產生全局應力并導致晶圓翹曲,將導致無法處理。

對此,三星的解決方案是創建極薄的層。不過,今年6月,東京電子(TEL)宣布,已開發出一種用于存儲芯片的通孔蝕刻技術,可用于制造 400層以上堆疊的3D NAND閃存芯片。同時,東京電子表示,該技術首次將電蝕刻應用帶入到低溫范圍中,并創造性地發明了具有極高蝕刻速率的系統。這項新技術可以在短短33分鐘內完成10微米深度的高縱橫比蝕刻,與此前的技術相比耗時大幅縮短。

當然,蝕刻工藝在一定程度上得到優化和解決,但極高層數的3D NAND還有很多技術瓶頸有待突破。

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