芯片(chip)，又稱微芯片（microchip），是集成電路的載體。一般而言，芯片（IC）泛指所有的半導體元器件，是在硅板上集合多種電子元器件實現某種特定功能的電路模塊。它是電子設備中最重要的部分，承擔著運算和存儲的功能。

溫度的改變對半導體的導電能力、極限電壓、極限電流以及開關特性以及開關特性等都有很大的影響。當溫度過高時元器件體積發生膨脹、擠壓，半導體芯片可能因為擠壓產生裂紋報廢。如果溫度過低，往往會造成芯片在額定工作電壓下無法打開其內部的半導體開關，導致其不能正常工作。

所以在芯片生產過程中需要對其進行冷熱沖擊試驗。一般情況下，民用芯片的正常溫度范圍是0℃-70℃，軍用芯片性能更高，正常工作溫度范圍是-55℃-125℃。

冷熱沖擊試驗箱(高低溫沖擊試驗箱)可以為電子芯片提供幾秒內溫度驟變的環境，,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害。冷熱沖擊試驗箱經常被用來做適應性試驗及對電子元器件的安全可靠性試驗和產品篩選。

宏展儀器十九年專注于可靠性環境試驗設備研發與生產，冷熱沖擊試驗箱也是主打產品之一。冷熱沖擊試驗箱分兩箱（提籃式）冷熱沖擊試驗箱和三箱（氣動式）冷熱沖擊試驗箱。滿足-70~150℃的溫度沖擊，溫度驟變時間在10秒~3分鐘內完成。更多電子產品芯片可靠性測試可以與宏展專業團隊交流溝通。