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航空電子設(shè)備中敏感電子設(shè)備的RTCA/DO 160測(cè)試指南

上海雷卯電子 ? 2021-09-07 19:00 ? 次閱讀
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航空電子設(shè)備中敏感電子設(shè)備的RTCA/DO160測(cè)試指南

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隨著航空技術(shù)的不斷現(xiàn)代化,全球參與者和競(jìng)爭(zhēng)利益的參與,有必要為制造商、供應(yīng)商和設(shè)計(jì)師制定公認(rèn)的標(biāo)準(zhǔn),以保持高水平的安全性和性能。航空無(wú)線電技術(shù)委員會(huì)發(fā)布了這樣一個(gè)標(biāo)準(zhǔn),稱為RTCA/DO160,機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和測(cè)試程序。雷卯電子參與了一些零部件開(kāi)發(fā)者的硬件設(shè)計(jì)。

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雖然有其他標(biāo)準(zhǔn)存在,但RTCA/DO160測(cè)試被國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織(ISO-7317)、美國(guó)聯(lián)邦航空管理局(FAA)和世界各地的航空監(jiān)管機(jī)構(gòu)公認(rèn)為評(píng)估飛機(jī)設(shè)備符合性的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。

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由業(yè)內(nèi)經(jīng)過(guò)審查的成員通過(guò)同行評(píng)審和協(xié)作制定,當(dāng)前的迭代版本為G 版。RTCADO-160G 和 EUROCAEED-14 的措辭相同。

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什么是RTCA/DO160測(cè)試?

DO160詳細(xì)列出了各種類型的環(huán)境測(cè)試條件的最低標(biāo)準(zhǔn),以及機(jī)載運(yùn)輸設(shè)備的相應(yīng)測(cè)試程序——無(wú)論是輕型飛機(jī)/直升機(jī),商業(yè)大型噴氣式飛機(jī),還是軍用超音速飛機(jī)。

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該文件為測(cè)試實(shí)驗(yàn)室提供了一種(可重復(fù)的)方法,以保證航空設(shè)備在與預(yù)期飛行時(shí)的環(huán)境條件相似的環(huán)境條件下的性能。實(shí)驗(yàn)室將根據(jù)測(cè)量的不確定度和測(cè)試條件的變化來(lái)決定任何額外的測(cè)試邊界。

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通過(guò)RTCA/DO160測(cè)試

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雷卯電子收集整理了這組測(cè)試解決了任何可能擾亂飛機(jī)電子設(shè)備性能的事件。被標(biāo)記為“合格”的測(cè)試設(shè)備預(yù)計(jì)能夠承受飛行過(guò)程中經(jīng)歷的環(huán)境條件,并提供高水平的性能。

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大綱的第1-3節(jié)討論了標(biāo)準(zhǔn)的目的和適用性、文檔中使用的術(shù)語(yǔ)和測(cè)試條件。第4-26節(jié)描述了測(cè)試,總結(jié)如下。一些單獨(dú)的部分被集中在摘要中,以提高可讀性,如果它們的目的是密切相關(guān)的。

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溫度和高度(第4.0節(jié))

這些測(cè)試檢查高度和機(jī)艙壓力變化對(duì)飛機(jī)系統(tǒng)性能的影響。有多個(gè)測(cè)試類別的特定溫度和高度,以滿足不同類型的設(shè)備在飛機(jī)上發(fā)現(xiàn)。對(duì)超壓、減壓、短期高、低操作溫度的響應(yīng),以及由于海拔高度和氣壓變化引起的溫度變化進(jìn)行了研究。

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溫度變化(第5.0節(jié))

與處理操作溫度的第4節(jié)不同,這些測(cè)試檢查由極端溫度變化、熱循環(huán)或熱沖擊引起的膨脹和收縮造成的任何弱點(diǎn)。在這些試驗(yàn)中,發(fā)現(xiàn)了具有不同熱膨脹系數(shù)的材料的附著力不足。

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濕度和鹽霧(第6.0、14.0節(jié))

濕度測(cè)試檢查包含金屬、絕緣體或pcb(印刷電路板)的部件的耐潮能力和相關(guān)的腐蝕能力。

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鹽霧/噴霧測(cè)試將設(shè)備置于高鹽水環(huán)境中,觀察相關(guān)的表面腐蝕、磨損、運(yùn)動(dòng)部件堵塞、化學(xué)降解和電氣故障(如果有的話)。

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操作沖擊和碰撞安全(第7.0節(jié))

這些試驗(yàn)檢查機(jī)械沖擊對(duì)航空設(shè)備的影響。這種沖擊類似于在飛行中遭遇陣風(fēng),或滑行和著陸時(shí)遭遇的操作沖擊。碰撞安全試驗(yàn)確保在緊急著陸的情況下,相關(guān)設(shè)備不會(huì)脫離安裝裝置成為彈丸。

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振動(dòng)(8.0節(jié))

測(cè)試以確保設(shè)備在振動(dòng)期間和之后繼續(xù)可靠地運(yùn)行。測(cè)試包括頻率范圍為5hz- 2000hz的軸向和隨機(jī)振動(dòng)。

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防爆性(第9.0條)

這些測(cè)試確保設(shè)備不會(huì)引發(fā)或傳播火災(zāi)。如果在真空和可燃蒸汽或液體存在的情況下,設(shè)備通過(guò)了不點(diǎn)火測(cè)試,它可以通過(guò)按下按鈕或轉(zhuǎn)動(dòng)旋鈕而不點(diǎn)火。該設(shè)備還必須通過(guò)污染測(cè)試和表面溫度測(cè)試,以標(biāo)記合規(guī)。

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防水性能(10.0節(jié))

防水測(cè)試將飛機(jī)設(shè)備(不包括必須保持濕度的密封包)置于液體噴霧或冷凝水中,機(jī)組在暴露后必須繼續(xù)正常運(yùn)行。

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流體敏感性(第11.0節(jié))

這項(xiàng)測(cè)試確保設(shè)備在操作過(guò)程中接觸到可能遇到的流體時(shí)不會(huì)降解或被破壞。這包括潤(rùn)滑劑、燃料、清潔劑、除冰液等液體。

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接觸沙塵(第12.0節(jié))

測(cè)試考察了設(shè)備對(duì)吹沙和灰塵的彈性,以及這些因素可能堵塞移動(dòng)部件、污染流體、造成磨損和破壞導(dǎo)電的可能性。

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抗藥性(第13.0條)

高濕度加上溫暖的溫度創(chuàng)造了有利于真菌生長(zhǎng)的環(huán)境。這些都是飛機(jī)設(shè)備可能暴露的條件。符合標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備不會(huì)受到不利影響。

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防火及可燃性(第26.0條)

這些測(cè)試檢查位于易燃區(qū)域的設(shè)備的可燃性和耐火性能,如發(fā)動(dòng)機(jī)和飛機(jī)的其他地方。它們決定了它們對(duì)火焰?zhèn)鞑サ呢暙I(xiàn)(或缺乏)——是在被測(cè)試裝置內(nèi)點(diǎn)燃還是在裝置外點(diǎn)燃。

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結(jié)冰(24.0節(jié))

這些測(cè)試測(cè)試設(shè)備抵御自然發(fā)生的冰和霜凍的能力。這適用于位于飛機(jī)氣候控制區(qū)域以外的產(chǎn)品,或在飛機(jī)內(nèi)部,水或濕氣的存在與內(nèi)部溫度變化可能導(dǎo)致結(jié)冰的產(chǎn)品。產(chǎn)品對(duì)測(cè)試的反應(yīng)將指導(dǎo)除冰方法的選擇。

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以上各試驗(yàn)段均與環(huán)境條件有關(guān)。下面的測(cè)試與電磁兼容性和射頻測(cè)試有關(guān)。它們確保電子設(shè)備和電子元件按預(yù)期工作,并且不會(huì)產(chǎn)生干擾其他產(chǎn)品功能的干擾。

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磁效應(yīng)(第15.0節(jié))

該測(cè)試檢查觀察下的設(shè)備是否會(huì)使指南針偏轉(zhuǎn),從而干擾飛機(jī)的導(dǎo)航傳感器。響應(yīng)將決定它在平面內(nèi)的位置。

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電源輸入(第16.0節(jié))

電源輸入測(cè)試是DO-160大綱中最廣泛的。測(cè)試類型取決于設(shè)備的電源(例如,28VDC,115VAC,270VDC),并涵蓋任何影響設(shè)備輸入電源線的內(nèi)容:飛行前、飛行中和飛行后的正常、異常和緊急操作條件。其他測(cè)試檢查設(shè)備對(duì)飛機(jī)電源的影響。

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電壓尖峰(第17.0節(jié))

這些測(cè)試表明設(shè)備是否能夠承受其輸入功率產(chǎn)生的電壓尖峰。他們還闡明了它的反應(yīng)——是否一個(gè)尖峰導(dǎo)致了組件失效,絕緣擊穿,永久損壞,或任何器件性能的變化。

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音頻傳導(dǎo)磁化率-電源輸入(第18.0節(jié))

檢查設(shè)備上的電源(交流電源或直流電源)是否受到音頻干擾,設(shè)備是

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感應(yīng)信號(hào)敏感性(第19.0節(jié))

這些測(cè)試研究了由電瞬變、音頻信號(hào)和其他系統(tǒng)產(chǎn)生的工頻諧波產(chǎn)生的干擾信號(hào)(噪聲)的影響。

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射頻磁化率和射頻能量發(fā)射(第20.0、21.0節(jié))

磁化率測(cè)試確定一個(gè)設(shè)備在暴露于射頻(RF)場(chǎng)時(shí)是否能夠正常工作,無(wú)論是輻射波還是傳導(dǎo)波。

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發(fā)射測(cè)試指導(dǎo)了設(shè)備根據(jù)其在飛機(jī)中的位置所能發(fā)射的射頻能量(包括傳導(dǎo)和輻射)的上限。

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閃電誘發(fā)的瞬變磁化率/間接效應(yīng)(第22.0節(jié))

這些測(cè)試模擬了雷擊的特性,并確定了它們?cè)陔娐泛瓦B接元件中引起的瞬變效應(yīng)。自然發(fā)生的閃電可以誘導(dǎo)和驅(qū)動(dòng)數(shù)千安培到一個(gè)引腳連接器。當(dāng)暴露于不同的波形和持續(xù)時(shí)間時(shí),器件研究失效。該項(xiàng)目會(huì)使用到雷卯電子的雷擊三級(jí)保護(hù)方案或者超大電流藍(lán)寶寶TVS器件。AK15AK30系列TVS器件。

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閃電的直接影響(第23.0節(jié))

與閃電的誘發(fā)效應(yīng)不同,這些試驗(yàn)模擬了閃電直接擊中物體時(shí)產(chǎn)生的大電流和高電壓效應(yīng)。測(cè)試的設(shè)備主要是飛機(jī)外部的物體。

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靜電放電(第25.0條)

這些測(cè)試檢查暴露期間或暴露后的承受靜電和正常工作的能力。這涉及到在人類接觸和其他產(chǎn)生摩擦的活動(dòng)中可能會(huì)產(chǎn)生靜態(tài)電荷的物體,或者在飛機(jī)正常運(yùn)行或維護(hù)期間可以接觸到的任何物體。

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雷卯電子提供ESD防護(hù)能力30KV的器件用于保護(hù)信號(hào)線接口的靜電防護(hù)。

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電子雷管 靜電ESD測(cè)試該如何選型及測(cè)試?

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    降噪技術(shù)在電子設(shè)備的應(yīng)用

    降噪技術(shù)是通過(guò)減少或消除不需要的聲音,提高聲音質(zhì)量的技術(shù)。在電子設(shè)備,降噪技術(shù)的應(yīng)用已經(jīng)變得日益廣泛,為用戶提供了更加清晰、寧?kù)o的使用體驗(yàn)。以下是對(duì)降噪技術(shù)在電子設(shè)備應(yīng)用的分析:
    的頭像 發(fā)表于 12-18 15:01 ?1237次閱讀

    PFC在電子設(shè)備的應(yīng)用 如何選擇合適的PFC芯片

    PFC在電子設(shè)備的應(yīng)用 電源因數(shù)校正技術(shù)在電子設(shè)備的應(yīng)用主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面: 節(jié)能降耗 :通過(guò)提高功率因數(shù),PFC技術(shù)能夠減少電網(wǎng)
    的頭像 發(fā)表于 12-16 15:43 ?1342次閱讀

    介電常數(shù)對(duì)電子設(shè)備的影響

    介電常數(shù)對(duì)電子設(shè)備的影響主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面: 一、電容器性能 介電常數(shù)直接決定了電容器的電容大小。在電容器設(shè)計(jì),選用具有高介電常數(shù)的材料可以提高電容器的電容量,因?yàn)榻殡姵?shù)越大,單位面積上能夠
    的頭像 發(fā)表于 11-25 14:04 ?1711次閱讀

    ESD產(chǎn)品對(duì)于電子設(shè)備的保護(hù)

    ESD的來(lái)源多種多樣,包括人體、設(shè)備、工具和環(huán)境等。人體在活動(dòng)過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生靜電,尤其是在干燥的環(huán)境更為明顯。當(dāng)人體接觸到電子設(shè)備時(shí),靜電可能會(huì)通過(guò)接觸點(diǎn)放電,對(duì)設(shè)備造成損害。 ESD
    的頭像 發(fā)表于 11-14 11:11 ?1274次閱讀

    靜電對(duì)電子設(shè)備的影響

    電子設(shè)備在我們的日常生活扮演著越來(lái)越重要的角色,從個(gè)人電腦、智能手機(jī)到復(fù)雜的工業(yè)控制系統(tǒng)。然而,這些設(shè)備也容易受到靜電放電(ESD)的影響。靜電放電是指當(dāng)兩個(gè)表面帶有不同電荷的物體接觸時(shí),電荷迅速
    的頭像 發(fā)表于 11-05 10:14 ?3124次閱讀

    PCB板的電流及在電子設(shè)備的作用

    電子設(shè)備,PCB(印刷電路板)是連接各種電子元件的關(guān)鍵部件。PCB板的電流是指在PCB板上流動(dòng)的電能,它對(duì)電子設(shè)備的正常工作至關(guān)重要。然而,PCB板上的電流并非所有電流,它只是
    的頭像 發(fā)表于 08-15 09:36 ?1156次閱讀

    EMC與EMI測(cè)試整改:打造無(wú)干擾電子設(shè)備環(huán)境

    深圳比創(chuàng)達(dá)電子EMC|EMC與EMI測(cè)試整改:打造無(wú)干擾電子設(shè)備環(huán)境
    的頭像 發(fā)表于 06-13 10:33 ?776次閱讀
    EMC與EMI<b class='flag-5'>測(cè)試</b>整改:打造無(wú)干擾<b class='flag-5'>電子設(shè)備</b>環(huán)境