昊衡科技推出的光纖微裂紋檢測(cè)儀,可用于光器件、光模塊、硅光芯片等器件的高精度長(zhǎng)度測(cè)量,分辨率可達(dá)1微米,是國(guó)產(chǎn)裂紋檢測(cè)儀中的佼佼者。
圖1.光纖微裂紋檢測(cè)儀
G-lens是自聚焦透鏡,一種折射率分布沿徑向漸變的柱狀光學(xué)透鏡。自聚焦透鏡的分布沿徑向逐漸減小,能夠使沿軸向傳輸?shù)墓猱a(chǎn)生連續(xù)折射,從而實(shí)現(xiàn)出射光線平滑且連續(xù)的匯聚到一點(diǎn),下面是用OLI對(duì)G-lens長(zhǎng)度的測(cè)量。
圖2. 單波長(zhǎng)漸變折射率透鏡(G-lens)與插芯耦合示意圖
端面為斜8°的單波長(zhǎng)漸變折射率透鏡(G-lens)與帶光纖的插芯耦合在一起,測(cè)量G-lens長(zhǎng)度。
圖3. 實(shí)際示意圖測(cè)試結(jié)果如圖4所示,第一個(gè)峰值為插芯與G-lens耦合面反射峰,第二個(gè)峰值為G-lens尾端反射峰,測(cè)試結(jié)果中dx=2.9mm為G-lens光程長(zhǎng)度,是在折射率為n1=1.467(設(shè)備默認(rèn)折射率)下測(cè)得,而G-lens的實(shí)際折射率為n2=1.6,則G-lens的實(shí)際長(zhǎng)度為L(zhǎng)=dx*n1/n2=2.66mm。
圖4. OLI測(cè)量結(jié)果
OLI光纖微裂紋檢測(cè)儀可以精確定位整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗,實(shí)現(xiàn)微米級(jí)光纖鏈路或光學(xué)器件的微損傷檢測(cè)。
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突破精度極限,賦能光通信未來(lái)——武漢昊衡科技OLI光纖微裂紋檢測(cè)儀引領(lǐng)行業(yè)革新

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