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電流注入探頭在 BCI 測(cè)試中的應(yīng)用

深圳市華瑞高電子技術(shù)有限公司 ? 2022-05-26 14:11 ? 次閱讀

依據(jù)ISO11452-2、GB/T 17619、ECE-R 10.05、2004-104-EC等標(biāo)準(zhǔn)要求,對(duì)汽車(chē)電子零部件系統(tǒng)等車(chē)載電子設(shè)備(包括電動(dòng)汽車(chē)DC-DC模塊、車(chē)載充電機(jī)等)進(jìn)行BCI大電流注入抗擾度測(cè)試。

BCI大電流注入抗擾度測(cè)試是利用電流注入探頭通過(guò)將電流直接感應(yīng)到連接線束進(jìn)行抗擾性試驗(yàn)的一種方法。該注入探頭是由一個(gè)耦合鉗組成,被測(cè)系統(tǒng)的電纜從耦合鉗中穿過(guò),然后通過(guò)改變感應(yīng)信號(hào)的頻率進(jìn)行抗擾性試驗(yàn)。

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將電流探頭夾在未絕緣的導(dǎo)體上時(shí),一定要格外的小心,建議在組裝和拆卸測(cè)試裝置時(shí)為測(cè)試項(xiàng)目斷電。將所有穿過(guò)探頭孔的導(dǎo)體放在孔的中心位置,以提供額外的電壓擊穿保護(hù)。請(qǐng)勿使未絕緣的電流探頭連接器和電纜連接器與接地層或其他相鄰導(dǎo)體接觸,以免發(fā)生不必要的意外。

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其中,在BCI測(cè)試中使用的電流注入探頭類(lèi)似于用于軍事傳導(dǎo)發(fā)射(CE)靜止的電流探頭。電流注入探頭充當(dāng)單匝初級(jí),多匝次級(jí)變壓器,在被測(cè)電源線或信號(hào)線中放置低串聯(lián)阻抗,同時(shí)能夠?qū)⒖捎眯盘?hào)驅(qū)動(dòng)到50ohm接收器中。電流注入探頭的特征在于其傳輸阻抗ZT,即標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載的輸出電壓比,除以流經(jīng)探頭窗口區(qū)域的凈電流。

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當(dāng)電流注入探頭圍繞電源線或信號(hào)線放置時(shí),它具有類(lèi)似的芯材料,但繞組較重,可充當(dāng)多匝初級(jí)和單匝次級(jí)變壓器。因此,當(dāng)與被測(cè)電纜(CUT)串聯(lián)放置時(shí),它為磁化率信號(hào)源提供(標(biāo)稱)50歐姆負(fù)載,同時(shí)提供較低的磁化率信號(hào)源阻抗。

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大電流注入探頭所在位置距EUT的距離d如下(替代法):

d = (150 ± 10) mm
d = (450 ± 10) mm
d = (750 ± 10) mm

測(cè)試結(jié)果性能的判斷依據(jù)如下:

Class A: EUT功能或性能一直保持正常,無(wú)任何異?,F(xiàn)象。
Class B: 所有功能或性能在干擾狀態(tài)下,一個(gè)或者多個(gè)功能或者性能偏移指定的容差,但所有功能或性能在干擾移除以后能恢復(fù)到規(guī)定的容差限值以內(nèi)。并且存儲(chǔ)數(shù)據(jù)不能有任何異常現(xiàn)象。
Class C: 一個(gè)或者多個(gè)功能或性能暫時(shí)喪失,但在施加干擾之后EUT能自動(dòng)恢復(fù)到正常模式。
Class D: 一個(gè)或者多個(gè)功能或性能暫?jiǎn)适?,但在施加干擾之后通過(guò)人為的干預(yù)能自動(dòng)恢復(fù)到正常模式。
Class E: 一個(gè)或者多個(gè)功能或性能暫時(shí)喪失,并且不能自動(dòng)恢復(fù)到正常模式。

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