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信號完整性之有損傳輸線(一)

CHANBAEK ? 來源:從狒狒進化到硬件工程師 ? 作者:李曉晶(Sem.li) ? 2023-04-23 12:57 ? 次閱讀

之前的文章都在講理想傳輸線對單一信號的影響。 本主題(有損傳輸線)收集關(guān)于非理想傳輸線對信號的影響。 把非理想傳輸線稱為有損線。

現(xiàn)實中的傳輸線會帶來損耗,由此會引起信號上升邊的退化,進而帶來碼間干擾(ISI)和眼圖塌陷。 在實際傳輸線中傳播的信號,它的上升沿變長是由于信號的高頻分量衰減要比低頻分量大的多。 在頻域中分析和頻率相關(guān)的損耗比較簡單,不過最終的信號還是會在時域中呈現(xiàn)出來。

1 有損線的損耗帶來的碼間干擾

當(dāng)信號沿著實際有損傳輸線傳播時,高頻分量的幅度減小,而低頻分量的幅度保持不變。 由于這種選擇性衰減,整個系統(tǒng)的帶寬降低。

情況一:和信號位周期相比,信號上升沿的退化很小,在一個數(shù)據(jù)位周期結(jié)束時,信號就已經(jīng)穩(wěn)定。 此數(shù)據(jù)位的電壓波形和它之前一位的數(shù)據(jù)(無論之前的這個數(shù)據(jù)位是高電平、還是低電平、無論持續(xù)時間多久)相互獨立,那么它們之間不存在碼間干擾。 如圖1

poYBAGREuF-AN9OHAAi8aNvmRFk462.png

情況二:信號上升沿的退化,導(dǎo)致接收端的信號上升沿顯著增加,例如傳輸?shù)囊欢螖?shù)據(jù)是101。 即第一位數(shù)據(jù)是高電頻,中間一位數(shù)據(jù)是低電平,第三位數(shù)據(jù)又是高電平。 因為接收端信號上升沿顯著增加,導(dǎo)致中間那位的低電平?jīng)]來得及降低到最低電壓值。 這種情況下,中間一位數(shù)據(jù)的實際電平就由它自身的電平和相鄰位的電平共同決定。 這也稱為碼間干擾。 這增加了接收端分辨高低電平的難度,導(dǎo)致數(shù)據(jù)傳輸錯誤率增大。 如圖2

pYYBAGREuHmAMd_RAAskaxy1Y98942.png

描述高速信號質(zhì)量的手段之一是看信號的眼圖。 把數(shù)據(jù)流中的每一位接收數(shù)據(jù)都疊加起來,這組疊加的波形看起來就是睜開的眼睛,稱為眼圖。 通過眼圖的睜開和閉合,可以評估信號質(zhì)量。

眼睛睜開的越小,數(shù)據(jù)位傳輸錯誤率越高。

睜開的眼圖中,交叉重疊區(qū)域的水平寬度可以評估抖動。

眼圖的振鈴可以評估傳輸線阻抗的匹配程度。

下圖是一張有少許損耗的眼圖。

poYBAGREuJiAc-JxAAfqSlCHWws658.png

下圖是一張損耗很大的眼圖。

pYYBAGREuKiAOzLpAAgc_2zu7K0037.png

2 有損線的損耗是誰造成的?

在之前的文章《信號完整性之傳輸線四》中提到傳輸線的一階LC模型,它是一種無損耗模型。 只考慮了傳輸線的特性阻抗和時延,并沒有考慮傳輸線損耗帶來的信號電壓衰減。 現(xiàn)實中,當(dāng)信號沿著傳輸線傳播時,有5種因素導(dǎo)致信號在接收端出現(xiàn)能量損失。

因素一:輻射損耗

輻射損耗就是我們在EMI中常見的電磁輻射。 它在信號完整性中的總輻射損耗很小,不太影響信號完整性質(zhì)量。 不過對EMI來說,是個比較麻煩的事情。

因素二:串?dāng)_

串?dāng)_就是一條傳輸線(攻擊線)上的信號耦合到另一條傳輸線(被攻擊線)上。 串?dāng)_帶來的損耗比較重要,可以引起信號上升沿的退化。

因素三:阻抗突變

阻抗突變對傳輸線上信號的失真影響非常大,它直接引起接收信號的上升沿退化。 即使是無損耗傳輸線也會導(dǎo)致信號的上升沿退化,有損耗線就更明顯了。

因素四:導(dǎo)線損耗

它是信號路徑和返回路徑上的能量損耗,由傳輸線上串聯(lián)等效電阻引起。

因素五:介質(zhì)損耗

它是指介質(zhì)中的能量損耗,由介質(zhì)中的耗散因子引起。

導(dǎo)線損耗和介質(zhì)損耗是實際傳輸線上信號衰減的根本原因。 在FR4材質(zhì)、50R阻抗控制的傳輸線上,當(dāng)信號頻率高于1GHz時,介質(zhì)損耗比導(dǎo)線損耗大很多。

接下來的章節(jié),針對導(dǎo)線損耗和介質(zhì)損耗做介紹。

3 損耗來源---導(dǎo)線損耗:導(dǎo)線電阻和趨膚效應(yīng)

(一):直流時的導(dǎo)線電阻

在信號路徑和返回路徑中,信號所感受到的串聯(lián)電阻與導(dǎo)線的體電阻率和電流流過的橫截面積有關(guān)。 直流電流流過時,電流在信號導(dǎo)線中均勻分布,電阻為:

pYYBAGREuLiAEepfAAAO9WkpQR0797.png

R是傳輸線電阻,單位Ω。

p是導(dǎo)線體電阻率,單位Ω·in

L是導(dǎo)線長度,單位in

w是導(dǎo)線寬度,單位in

d是導(dǎo)線厚度,單位in

如果返回路徑是一個平面,則直流電流在整個橫截面積上鋪開,返回路徑的電阻比信號路徑電阻小很多,可以忽略不計。

(二):交流時的導(dǎo)線電阻

基于上面的公式,首先看看體電導(dǎo)率,在100GHz之前,銅和其他金屬的體電導(dǎo)率完全是個常數(shù)。 在目前的智能駕艙和ADAS設(shè)計中,可以不考慮體電導(dǎo)率對導(dǎo)線電阻的影響。

接下來就要看看銅導(dǎo)線中電流傳輸?shù)穆窂搅耍磦鬏斁€的電阻怎么被傳輸電流的橫截面積影響。 以前的文章《信號完整性之趨膚效應(yīng)》中提到,隨著信號頻率上升,由于趨膚效應(yīng)的影響,電流會在銅導(dǎo)線表面?zhèn)鞑ァ?/p>

例如PCB上的銅走線厚底為34um(即1OZ)時,當(dāng)信號頻率大于10MHZ,電流就不會在整個銅導(dǎo)線上均勻分布,而是僅在靠近銅導(dǎo)線表面?zhèn)鬏敗?如下圖是10MHz信號分別在50R阻抗控制的微帶線和帶狀線中的電流分布圖,顏色越淺的地方代表電流密度越大。

pYYBAGREuQmAMybSAARBhaBVOQs652.png

另一角度,任何頻率的高速信號,它都是一系列正弦波的集合。 這些正弦波分量都有各自相關(guān)的頻率、幅度和相位。 把這一系列正弦波疊加起來,就可以復(fù)原出原始的高速信號。

或者說要想從某高速信號的頻譜圖中得到它的時域波形,只需要將頻域中所有頻率的信號轉(zhuǎn)換成時域中正弦波的集合,并且將這些正弦波全部疊加即可。 圖3是包含10諧波的方波,圖4是包含100次諧波的方波。 可以看出包含的諧波分量越多,方波上升沿和下降沿越陡峭,方波越完整。

poYBAGREuT2AAOMqAABybJHOQbM202.png

pYYBAGREuVKADXcAAABh6bTEgKI091.png

因此某高速信號頻率分量中,頻率越高,電流流過的導(dǎo)線橫截面積就越小,電阻隨著頻率分量的升高而增加。 總之由于趨膚效應(yīng),針對大于10MHZ的信號,傳輸線中的導(dǎo)線串聯(lián)電阻隨著頻率的升高而增加。

基于趨膚效應(yīng),導(dǎo)線中的信號路徑電阻R1大約為:

pYYBAGREua6ABzoQAAAb1XfNvZw993.png

R是導(dǎo)線電阻(單位Ω)

p是導(dǎo)線體電阻率(單位 Ω·in)

L是導(dǎo)線長度(單位in)

w是導(dǎo)線寬度(單位in)

σ是趨膚深度(單位in),趨膚深度計算公式可以參考之前的文章《信號完整性之趨膚效應(yīng)》。

公式中之所以乘以0.5,是因為在一根導(dǎo)線的兩側(cè)都有電流流過,這兩側(cè)電阻相當(dāng)于并聯(lián),阻值減小一半。 如下圖所示。

另外本公式只是計算了信號路徑上的導(dǎo)線電阻。 還需要考慮返回路徑上的導(dǎo)線電阻。 如下圖,反饋路徑中電流流過面積要比信號路徑大,因此返回路徑上的導(dǎo)線電阻要比信號路徑上的導(dǎo)線電阻低。 經(jīng)驗值是,微帶線返回路徑寬度大約是信號路徑的三倍。

pYYBAGREufCAGlQTAAFEu8_NWZo796.png

即反饋路徑電阻R2

pYYBAGREug-AXrhrAAAb9H3e4Rg943.png

結(jié)合起來,整個信號和返回路徑上總的電阻為

poYBAGREuimAFF_oAAAg1KfVlWA666.png

想得到精確的導(dǎo)線電阻值,還是要使用二維場求解器仿真

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