器件的I-V功能測(cè)試和特征分析是實(shí)驗(yàn)過程中經(jīng)常需要測(cè)試的參數(shù)之一，一般我們用到源表進(jìn)行IV參數(shù)的測(cè)試，如果需要對(duì)測(cè)試的數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)IV曲線圖顯示及保存，可以用到源表測(cè)試軟件NS-SourceMeter。本篇文章納米軟件Namisoft小編將為大家分享一下關(guān)于用源表測(cè)試IV參數(shù)的典型應(yīng)用及源表測(cè)試軟件。

一、各種器件的I-V功能測(cè)試和特征分析包括

1、分立和無(wú)源元件

兩端口器件——傳感器、磁盤驅(qū)動(dòng)器頭、金屬氧化物可變電阻（MOV）、二極管、齊納二極管、電容、熱敏電阻

三端口器件——小信號(hào)雙極結(jié)型晶體管（BJT）場(chǎng)效應(yīng)晶體管（FET），等等

2、簡(jiǎn)單IC器件——光學(xué)器件、驅(qū)動(dòng)器、開關(guān)、傳感器、轉(zhuǎn)換器、穩(wěn)壓器

3、集成器件——小規(guī)模集成（SSI）和大規(guī)模集成（LSI）

模擬IC

射頻集成電路（RFIC）

專用集成電路（ASIC）

片上系統(tǒng)（SOC）器件

4、光電器件，例如發(fā)光二極管（LED）、激光二極管高亮度LED（HBLED）、垂直腔面發(fā)射激光器 （VCSEL）、顯示器

5、圓片級(jí)可靠性

NBTI、TDDB、HCI、電遷移

6、太陽(yáng)能電池

7、電池

等等...

二、NS-SourceMeter源表測(cè)試軟件IV特性測(cè)試應(yīng)用案例

這里以納米NS-SourceMeter源表軟件為例，用到軟件的掃描模塊進(jìn)行IV曲線的測(cè)試演示。

◆試驗(yàn)參數(shù)設(shè)置界面

在此界面中進(jìn)行試驗(yàn)的具體參數(shù)設(shè)置，選擇接線方式（二線法、四線法），掃描模式（從起點(diǎn)到終點(diǎn)單項(xiàng)掃描、從起點(diǎn)到終點(diǎn)循環(huán)掃描、從零點(diǎn)開始循環(huán)掃描），傳感器模式、輸出測(cè)試通道（通道、輸出類型、起點(diǎn)電壓、終點(diǎn)電壓、掃描步長(zhǎng)、電流限制、測(cè)量間隔、循環(huán)間隔、循環(huán)次數(shù)），如下圖所示。

◆運(yùn)行測(cè)試界面（舉例說明）

測(cè)試內(nèi)容：伏安特性曲線（900KΩ）

測(cè)量結(jié)果：源表會(huì)根據(jù)改模塊配置，如掃描模式（從起點(diǎn)到終點(diǎn)單項(xiàng)掃描），傳感器模式（關(guān)閉），通道（CH1），輸出類型（電壓輸出），起點(diǎn)電壓（0.10V）,終點(diǎn)電壓（10.00V），掃描步長(zhǎng)（0.10）、電流限制（1.00A），測(cè)量間隔（0.01S），循環(huán)間隔（0.10S）,循環(huán)次數(shù)（1.00次）進(jìn)行掃描，如下圖所示。

源表測(cè)試軟件詳情介紹及下載地址：https://www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/642.html

審核編輯：湯梓紅