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業內專家云集對話高端研討,打破半導體測試技術壁壘

半導體芯科技SiSC ? 來源:半導體芯科技SiSC ? 作者:半導體芯科技SiS ? 2022-08-19 16:15 ? 次閱讀

來源:半導體芯科技

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半導體制造產業鏈中,測試工序是一個十分重要的環節。后摩爾時代,在現有極限工藝制程的條件下,平面IC逐步過渡到三維,出現了異質構成、3D堆疊等先進封裝技術。隨著這些新的趨勢和變化,相應的IC制造、檢測等工藝也應與時俱進。

無論是在前道量測進行的缺陷檢查、圖案檢測等工序,還是在后道測試環節中進行的芯片電性能等測試,測試設備作為優化制程、控制良率、提高效率與降低成本的關鍵,在半導體產業中的地位日益凸顯。隨著半導體行業檢測工序的專業化和測試領域的細分,出現了面向特定器件的垂直測試機構,比如針對高速數字芯片、射頻芯片的測試服務、針對顯示器件的測試服務等。

在此背景下,全球半導體測試企業紛紛升級研發,在2022年8月25日第十三屆晶芯在線研討會上,我們將共同探討車規級芯片檢測、SLT測試、存儲芯片測試、半導體測試設備發展趨勢等話題,面對5G、大數據、人工智能等新興市場的崛起,滿足半導體企業間的測試對接需求。

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審核編輯 黃昊宇

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