電子發燒友網報道(文/李寧遠)5G的迅猛發展有目共睹，同時3GPP Rel-16引入了顯著的容量和運營增強功能，同時將5G的覆蓋范圍擴展到了新的垂直行業領域。為了幫助各大應用市場更好地了解最新5G創新技術帶來的商機和挑戰，更好把握市場脈搏，電子發燒友在2022年4月20日召開了第三屆5G技術創新研討會。

Keysight高級解決方案專家路志義分享了5G R16新特性與相關的終端測試挑戰。

R16發展路線與市場現狀

如果說第一階段的R15只是加大帶寬，提高網絡速率，那么還稱不上真正進入了5G時代，R16在R15的基礎上真正引入了完整的5G應用。R16主要關注垂直行業應用及整體系統的提升、多接入與人工智能功能應用。其重點關注的領域有增強型行動寬帶(eMBB)能力，其中包括節能、移動性、MIMO等等，另外隨著基礎網絡架構能力提升，更多的垂直應用加入了進來，涵蓋載波聚合大頻寬增強、UE定位、C-V2X、低時延高可靠(uRLLC)服務與安全、IIoT專用網絡等。

(圖源：Keysight)

在對R17的展望上，Keysight高級解決方案專家路志義指出了R17將對eMBB繼續增強，尤其在NR Light以及功耗上，同時將覆蓋更多新的垂直產業。

2022年將是5G產業發展重要的一年，尤其是R16標準下的5G產品將開始大規模商用。R16將使5G發力到更廣泛的垂直行業，助推萬物互聯時代開啟。從2021年開始，R16 eMBB芯片組到R16 eMBB終端設備已經開始商業化，R16 eMBB網絡也指日可待。從Keysight給出的對5G R16 eMBB市場需求時間表來看，隨著設備制造商對R16芯片組、終端設備測試的完成，經GCF認證的第一個R16 eMBB設備預計將于今年下半年完成認證，R16網絡部署將在下半年開始飛速發展。

同時R16的垂直拓展功能在今年開始測試，首先是與芯片組制造商的協作測試，完成后設備制造商終端設備也會開始測試。可以說2022年是R16全面鋪開的一年。

5G R16功能增強

5G R16基礎拓展功能的提升第一個體現在UE節能與提高能效上。為了降低UE的功耗，R16新增了多個用于幫助UE省電的特性，包括Wake-Up Signal、Dual CDRX Configuration、MIMO Layers adaptation等。技術的增強可以讓UE周期性地喚醒和休眠，必要時還可以靈活延長UE監聽的時間，降低時延。

第二個增強體現在DC/CA的增強上。R16擴展了對異步情況和其他載波組合的支持，通過最小化小區設置和小區激活所需的信令開銷和時延，高效、低時延的服務于小區設置等功能。而且R16會根據早期測量盡可能減少建立雙連接或載波聚合時的時延。

在MIMO、移動性、TEI上同樣做了基于R15的增強，R16增強了波束治理和CSI反饋，支持多個傳輸點到單個UE的傳輸，以及多個UE天線在上行鏈路的全功率傳輸，這些MIMO增強功效可提升速率并提升鏈路可靠性。R16工作項NR移動性增強增加了新的機制，減少了切換中斷時間并提升了可靠性。

在UR定位上，R16提供室內3米和室外10米的精度要求，而且新的定位參考信號(PRS)允許檢測到更多的鄰近傳輸點。單個單元定位采用AoA+RTT，多單元定位則有很多途徑，例如RTT、AoA/AoD、TDOA。

(圖源：Keysight)

URLLC的增強同樣十分明顯，R16 eURLLC建立在R15 URLLC基礎上大幅降低了延遲并大幅提升了可靠度。延遲的降低主要通過改進BWP、DL優先調度，再加上基于CBG的HARQ、UL配置調度以及UL提前調度。

另外，通過 2-step RACH，R16提高了現有的R15 RACH程序的效率，將4-step減少到2-step，減少了信號支出和延遲。雖然RACH信道數減少，但容量并沒有減少還提升了能效，而且2-step RACH還能支持小型無授權上行鏈路。

Keysight 5G R16 方案

Keysight的UXM5G測試應用程序市場上最全面的R&D解決方案，包括一套用于射頻和功能測試的工具，豐富的參數化支持廣泛的測試場景，支持從原型設計到系統集成和驗證。通過SCPI命令，可以輕松地自動化設置測試場景并跨網絡場景進行交互式地測試。針對無線芯片組和設備的解決方案同樣支持從早期開發到測試階段，從原型設計到系統集成和驗證。

(E7515B UXM 5G wireless test platform，Keysight)

小結

5G R16標準確立以來，一直在強化垂直產業應用，支持5G毫米波的手機和終端已經在路上，不管是毫米波技術、微基站、大規模天線技術、網絡切片，還是軟件定義無線網絡、邊緣計算和云端智能，在智慧交通、智慧城市、智慧安防、智慧工業、超高清視頻等領域，5G R16的應用創新案例已經開始普及。

原文標題：5G R16新特性與終端測試挑戰

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審核編輯：湯梓紅