隨著5G、數據中心和智能駕駛汽車的高速發展，數據傳輸的速率越來越高。現在最熱門的Serdes PAM4技術最高速度到了112Gbps。這對高速數字芯片的設計帶來了挑戰，特別是時鐘信號的抖動分析變得越來越重要，因為到Gbps速率范圍，任何一個小的抖動都會對系統性能造成顯著影響。

舉例來說，高速串行鏈路參考時鐘的穩定度會對誤碼率有明顯影響。對于高速串行數據鏈路設計，準確測量以及區分由器件噪聲產生的隨機抖動，以及由非期望干擾產生的周期抖動，非常有助于定位抖動問題來源，提高芯片和系統的性能。

羅德與施瓦茨（以下簡稱“R&S公司”）Serdes PAM4相噪測試方案具有測試速度快，儀表操作簡便的特點。方案核心是R&S 50GHz相噪分析儀FSWP50和提供高精參考時鐘的R&S信號源SMA100B。該方案已被國內多家大型芯片設計公司選用。

R&S相噪測試方案

下圖是R&S公司提供的相噪測量方案---速率高達112Gbps的Serdes PAM4技術的相噪測量頻率在28GHz，讓我們一起來看看R&S賦能Serdes PAM4技術的成果。

技術亮點

R&S相位噪聲分析儀FSWP單表頻率覆蓋范圍高達50GHz，將高性能相位噪聲測試儀和頻譜分析儀合二為一，使用先進的數字鎖相環方法測量相位噪聲，提供互相關計算功能，可增加20dB測試動態范圍。

FSWP基于其自身極低儀表相位噪聲和高效的雜散檢測算法，適合進行分辨率要求極高。如Serdes PAM4技術中的時鐘源抖動分析，PN和AM同時測試界面如下：

R&S ADC/DAC測試

FSWP和SMA100B也可用于Serdes的ADC/DAC驗證和測試，詳細測試方案和測試項目如下：

R&S芯片測試

R&S公司是歐洲最大的測試與測量廠家，測試方案覆蓋通信、汽車和芯片測試等領域。在芯片領域致力于用高性能的芯片測試與測量解決方案迎接高速數字化帶來的挑戰，半導體/芯片測試方案主要包括射頻芯片測試、分立器件產線測試和數字芯片研發/生產測試解決方案。

未來，R&S公司會推出半導體/芯片測試系列方案，致力于推動中國半導體/芯片產業的測試發展。

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