在校準(zhǔn)射頻探針時，對校準(zhǔn)的嚴(yán)格設(shè)計需要面臨各種不同的挑戰(zhàn)。目的是確保高頻測試的準(zhǔn)確無誤，同時優(yōu)

化測試的簡便性，速度和成本。這一點變得越來越重要，例如，引入5G后，需要以更高的頻率進(jìn)行工作和測

試。基于這些要求，INGUN客戶必須在設(shè)計測試系統(tǒng)時決定哪種校準(zhǔn)/補(bǔ)償方法最適合其應(yīng)用。我們能夠提

供多種可供選擇的方法，從簡單的校準(zhǔn)到非常復(fù)雜的校準(zhǔn)，范圍十分寬泛。校準(zhǔn)越復(fù)雜，在結(jié)果越精確，在

批量測試中的測量結(jié)果也越精確。但是，并非總是需要最復(fù)雜且耗時的校準(zhǔn)過程；簡單的過程通常足以優(yōu)化

測量結(jié)果并減少誤差。除了由于不理想的校準(zhǔn)特性而導(dǎo)致的錯誤外，在校準(zhǔn)射頻探針時還會發(fā)生另外兩個錯

誤：

1.定位錯誤：當(dāng)射頻探針未與物體精確對準(zhǔn)時，會發(fā)生這種情況。

2.校準(zhǔn)路徑錯誤：在已經(jīng)執(zhí)行校準(zhǔn)后添加或刪除擴(kuò)展時，會發(fā)生這種情況。

使用適合各自應(yīng)用的正確校準(zhǔn)方法可以完全避免錯誤。