女人自慰AV免费观看内涵网,日韩国产剧情在线观看网址,神马电影网特片网,最新一级电影欧美,在线观看亚洲欧美日韩,黄色视频在线播放免费观看,ABO涨奶期羡澄,第一导航fulione,美女主播操b

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

PCB中如何防止熱循環(huán)失效故障

PCB線路板打樣 ? 來源:上海韜放電子 ? 作者:上海韜放電子 ? 2021-01-18 11:43 ? 次閱讀

每個電子設(shè)備都有額定壽命,但是由于機(jī)械沖擊,熱沖擊和振動,仍可能會發(fā)生過早故障。熱循環(huán)只是振動的熱模擬-反復(fù)的機(jī)械應(yīng)力作用于PCB中的結(jié)構(gòu),導(dǎo)致疲勞和故障。反復(fù)進(jìn)行熱循環(huán)后,溫度升高和體積膨脹的后期會導(dǎo)致機(jī)械故障。

熱循環(huán)電阻不是可以測量的特定物理性質(zhì)。取而代之的是,它只是指電子設(shè)備承受熱循環(huán)的能力。組件必須遵守其絕對的最高溫度額定值,但是反復(fù)的熱循環(huán)會導(dǎo)致兩種PCB結(jié)構(gòu)(焊料和過孔)出現(xiàn)故障。讓我們看一下這些結(jié)構(gòu)中的每一個如何產(chǎn)生熱故障,以及如何防止熱故障。

通孔是一種結(jié)構(gòu),在反復(fù)的熱循環(huán)下容易出現(xiàn)疲勞破壞和斷裂。盡管這些結(jié)構(gòu)在極端溫度下容易斷裂,但如何防止熱循環(huán)失效是通孔的機(jī)械設(shè)計。正確的基材材料的選擇還有助于提高熱可靠性。這些點(diǎn)適用于HDI板中的高長寬比過孔和盲孔/埋孔。

就像焊球可靠性一樣,由于銅和基板的CTE值不匹配,也會導(dǎo)致熱循環(huán)失效。FR4是各向異性材料,垂直于板表面的CTE值為?70 ppm /°C;請注意,這與沿表面的CTE值(?13 ppm /°C)不同。為了進(jìn)行比較,銅的CTE值為?16 ppm /°C。這意味著,當(dāng)板加熱到高溫時,應(yīng)力主要沿著通孔的軸線承受,如下圖所示。

pIYBAGAFA8WAAY0cAAA968hEbRc841.png

由于基板的熱膨脹而在通孔上施加力

上圖顯示了在鍍通孔上的作用力,但對于盲孔或埋入式微孔也可以繪制類似的示意圖。該應(yīng)力的影響取決于通孔的幾何形狀,尤其取決于通孔的縱橫比和結(jié)構(gòu)。應(yīng)力集中的位置還取決于通孔沉積和電鍍方法,這涉及從溶液中沉積。

盲孔和埋孔微孔

盲孔在通孔的頸部附近的鍍層稍薄。這是表層上盲孔的主要斷裂點(diǎn),擴(kuò)展的基板在該處向上頂住通孔的頸部。堆疊的盲孔和掩埋微孔在堆疊的界面處容易斷裂。換句話說,掩埋通孔的頸部區(qū)域可以與其上方的通孔底部分開,從而產(chǎn)生高電阻連接或開路。

IPC最近發(fā)布了將被納入IPC 6012E標(biāo)準(zhǔn)的可靠性警告,并且在制造過程中必須評估盲孔和埋孔的可靠性問題。為確保制造過程中的可靠性,IPC-TM-650(方法2.6.27)中的標(biāo)準(zhǔn)測試方法要求測試試樣應(yīng)經(jīng)受正常的錫膏回流焊,以使其達(dá)到230°C或260°C的峰值溫度。 C連接至4線電阻探頭時,可獲得六個完整的回流曲線。只要在此重復(fù)的回流曲線期間電阻增加不超過5%,就可以認(rèn)為該板具有足夠的熱循環(huán)電阻才能投入使用。

高長寬比通孔

當(dāng)在制造過程中沉積典型的通孔或掩埋的電鍍通孔時,電鍍液會發(fā)生毛細(xì)作用。當(dāng)將板浸入電鍍液中并且銅開始沿過孔壁沉積時,表面張力會影響如何將電鍍液吸入通孔中。如果在沉積過程中未充分?jǐn)嚢韬蛿噭与婂円海瑒t由于形成彎液面,銅前驅(qū)體在通孔桶中心附近消耗得更快。

這導(dǎo)致通孔桶的中心區(qū)域的電鍍層比通孔頸部的電鍍層薄。如果通孔的縱橫比較大,則通孔內(nèi)部的銅涂層將更薄。一旦基板在高溫下膨脹,通孔的中心將承受更大的應(yīng)力集中,并且更容易破裂。

這里有三種可能的解決方案,涉及設(shè)計和制造:

使用寬高比較小的通孔。對于更長的通孔,這僅意味著增大通孔直徑。

使用CTE值接近銅的PCB基板。對于某些設(shè)計,例如需要低損耗層壓板的高速設(shè)計,您可能需要折衷其他基板材料的性能以降低CTE值。

確保您的制造商在攪拌下使用粘度較低的鍍液,以在通孔桶和頸部中更均勻地沉積銅鍍層。

焊接可靠性

就像振動疲勞會在焊球中產(chǎn)生機(jī)械故障一樣,熱循環(huán)也會如此。當(dāng)焊點(diǎn)的溫度升高到很高的水平時,焊錫的膨脹速率比基材低,但所涉及的力很難預(yù)測。焊球中的應(yīng)力集中更容易預(yù)測,并且有限元方法(FEM)模型顯示應(yīng)力集中在焊球的頂部和底部附近,從而導(dǎo)致斷裂。

只要焊點(diǎn)足夠牢固且具有延展性,該焊點(diǎn)就能夠承受反復(fù)的熱循環(huán)。這意味著制造商需要解決任何可能影響焊點(diǎn)強(qiáng)度和延展性的因素。這些包括腐蝕,潤濕不足,焊錫不足以及只能由制造商解決的其他因素。在準(zhǔn)備進(jìn)行制造設(shè)計時,請確保制造商了解電路板上的熱環(huán)境,以防止在反復(fù)熱循環(huán)下焊點(diǎn)失效。
編輯:hfy

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • pcb
    pcb
    +關(guān)注

    關(guān)注

    4354

    文章

    23422

    瀏覽量

    406894
  • 熱循環(huán)
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    7

    瀏覽量

    1849
收藏 人收藏

    評論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    電源設(shè)計布局的熱循環(huán)

    的原理圖中所看到的那樣,出于布局目的,熱循環(huán)不容易出現(xiàn)。圖3. LT8611buck轉(zhuǎn)換器的布局,其中綠線是頂層的熱循環(huán)綠線是頂層的熱循環(huán)。交流電流流經(jīng)輸入電容器和器件的開關(guān)。圖3顯
    發(fā)表于 10-22 16:47

    失效分析方法---PCB失效分析

    分析故障樹的方法: 針對PCB/PCBA的常見板級失效現(xiàn)象,我們通過建立各種失效模式的根因故障樹,并在實(shí)戰(zhàn)
    發(fā)表于 03-10 10:42

    THR焊點(diǎn)熱循環(huán)和熱沖擊測試

    THR焊點(diǎn)熱循環(huán)和熱沖擊測試   對使用免清洗錫膏、水洗型錫膏、波峰焊互連和THR工藝制成的組件進(jìn)行壽命加速試驗(yàn),采用威布爾 分
    發(fā)表于 11-19 09:56 ?1296次閱讀

    超長壽命冷熱循環(huán)TEC模塊 ATE1-TC-31

    超長壽命冷熱循環(huán)TEC模塊 ATE1-TC-31 ATE1-TC-31系列TEC制冷片包含31對珀?duì)栙N元件,最大電壓3.9V。此系列TEC制冷片專為冷熱循環(huán)系統(tǒng)設(shè)計,在冷熱循環(huán)系統(tǒng)
    發(fā)表于 10-08 10:16 ?523次閱讀

    超長壽命冷熱循環(huán)TEC模塊 ATE1-TC-71

    超長壽命冷熱循環(huán)TEC模塊 ATE1-TC-71 ATE1-TC-71系列TEC制冷片包含71對珀?duì)栙N元件,最大電壓9.0V。此系列TEC制冷片專為冷熱循環(huán)系統(tǒng)設(shè)計,在冷熱循環(huán)系統(tǒng)
    發(fā)表于 10-08 10:29 ?466次閱讀

    超長壽命冷熱循環(huán)TEC模塊 ATE1-TC-127

    系統(tǒng),TEC制冷片在加熱到制冷的過程中會受到嚴(yán)苛的物理壓力,這使得標(biāo)準(zhǔn)TEC的壽命大幅縮短。這款熱循環(huán)TEC制冷片的使用壽命要遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于標(biāo)準(zhǔn)TEC制冷片的使用壽命。應(yīng)用領(lǐng)域:  調(diào)節(jié)目標(biāo)物體溫度,溫度
    發(fā)表于 10-08 10:31 ?760次閱讀

    超長壽命冷熱循環(huán)TEC模塊 ATE1-TC-199

    超長壽命冷熱循環(huán)TEC模塊 ATE1-TC-199 ATE1-TC-199系列TEC制冷片包含199對珀?duì)栙N元件,最大電壓27.4V。此系列TEC制冷片專為冷熱循環(huán)系統(tǒng)設(shè)計,在冷熱循環(huán)系統(tǒng)
    發(fā)表于 10-11 08:35 ?510次閱讀

    如何處理PCB故障

    當(dāng)印刷電路板出現(xiàn)故障時,您可能會面臨代價高昂且可能造成災(zāi)難性后果的后果。那么,您以后如何收拾行李呢? 了解 PCB 故障的常見原因以及可用來防止將來發(fā)生
    的頭像 發(fā)表于 11-18 19:19 ?3836次閱讀

    熱循環(huán)一體機(jī)膨脹閥故障排查方法

    熱循環(huán)一體機(jī)在運(yùn)行過程需要合理的去調(diào)節(jié),對于冷熱循環(huán)一體機(jī)膨脹閥出現(xiàn)故障的時候需要仔細(xì)排查,及時的解決問題所在。當(dāng)冷熱循環(huán)一體機(jī)中含有水
    的頭像 發(fā)表于 06-28 11:25 ?1089次閱讀

    如何查找PCB失效的原因呢?

    PCB失效的機(jī)理,必須遵守基本的原則及分析流程。一般的基本流程是,首先必須基于失效現(xiàn)象,通過信息收集、功能測試、電性能測試以及簡單的外觀檢查,確定失效部位與
    的頭像 發(fā)表于 11-09 14:35 ?1206次閱讀

    IGBT失效及壽命預(yù)測

    設(shè)計防止突發(fā)失效,設(shè)計時必須考慮所有相關(guān)因素。可以通過冗余系統(tǒng)、加強(qiáng)保護(hù)來實(shí)現(xiàn),合理選用器件和工程師的設(shè)計決定了突發(fā)失 效的風(fēng)險 2、漸變失效:器件制造商起著決定性作用,一般制造商會提供器件數(shù)據(jù)圖表,如功率
    發(fā)表于 02-24 15:08 ?3次下載
    IGBT<b class='flag-5'>失效</b>及壽命預(yù)測

    熱循環(huán)一體機(jī)膨脹閥故障排查方法

    熱循環(huán)一體機(jī)在運(yùn)行過程需要合理的去調(diào)節(jié),對于冷熱循環(huán)一體機(jī)膨脹閥出現(xiàn)故障的時候需要仔細(xì)排查,及時的解決問題所在。當(dāng)冷熱循環(huán)一體機(jī)中含有水
    的頭像 發(fā)表于 06-28 14:15 ?632次閱讀
    冷<b class='flag-5'>熱循環(huán)</b>一體機(jī)膨脹閥<b class='flag-5'>故障</b>排查方法

    熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱-環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備

      注意事項(xiàng):   1、測試過程,進(jìn)行冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱測試時,發(fā)現(xiàn)冷槽的冷排會因冷熱交換而結(jié)霜,但在除霜次數(shù)達(dá)到一定數(shù)值后,設(shè)備會自動啟動除霜功能。   2、除霜完畢后,系統(tǒng)會進(jìn)行預(yù)熱,待
    的頭像 發(fā)表于 05-10 11:00 ?751次閱讀
    冷<b class='flag-5'>熱循環(huán)</b>沖擊試驗(yàn)箱-環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備

    可靠性溫度循環(huán)試驗(yàn)至少需要幾個循環(huán)

    暴露于預(yù)設(shè)的高低溫交替的試驗(yàn)環(huán)境中所進(jìn)行的可靠性試驗(yàn)。熱循環(huán)試驗(yàn)適用于揭示評估由剪切應(yīng)力所引起的“蠕變-應(yīng)力釋放”疲勞失效機(jī)理和可靠性,在焊點(diǎn)的失效分析和評價方面應(yīng)
    的頭像 發(fā)表于 01-23 15:26 ?440次閱讀
    可靠性溫度<b class='flag-5'>循環(huán)</b>試驗(yàn)至少需要幾個<b class='flag-5'>循環(huán)</b>?

    快速熱循環(huán)試驗(yàn)箱在芯片老化試驗(yàn)的應(yīng)用

    驗(yàn)證。快速熱循環(huán)試驗(yàn)箱(Rapid Thermal Cycling Chamber)正是進(jìn)行此類測試的重要設(shè)備,廣泛應(yīng)用于芯片產(chǎn)品的可靠性評估與失效分析。
    的頭像 發(fā)表于 06-04 09:19 ?52次閱讀
    快速<b class='flag-5'>熱循環(huán)</b>試驗(yàn)箱在芯片老化試驗(yàn)<b class='flag-5'>中</b>的應(yīng)用