三、測(cè)試階段可能產(chǎn)生漏測(cè)、盲點(diǎn)/問(wèn)題解決方式/看法

　　1.環(huán)狀孔破（斷路）：

　　1.1發(fā)生原因：

　　客戶只提供零件面（文字面）資料，只要求零件面測(cè)試，「獨(dú)立孔」甚至一般不要求設(shè)針測(cè)試，如果環(huán)狀孔破發(fā)生在焊錫面，即無(wú)法測(cè)出問(wèn)題點(diǎn)。

　　1.2解決方式：

　　在資料處理階段，測(cè)試孔設(shè)點(diǎn)時(shí)，改為雙面測(cè)上下設(shè)針，包括獨(dú)立孔在內(nèi)，即可有效防止問(wèn)題發(fā)生。

　　2.小孔孔破（外層線路面未覆蓋防焊漆，有連接內(nèi)層之導(dǎo)通孔）：

　　2.1發(fā)生原因：

　　（1）資料處理人員作業(yè)時(shí)疏忽并判斷錯(cuò)誤，自行刪除測(cè)試點(diǎn)。

　　（2）客戶要求不設(shè)測(cè)試點(diǎn)。

　　2.2解決方式：

　　（1）現(xiàn)今多層板的線錄設(shè)計(jì)密度，層次愈來(lái)愈高、愈復(fù)雜化，外層線路上的小孔（包括獨(dú)立孔在內(nèi)），多半與內(nèi)層某一層有連接，其功能為設(shè)計(jì)上之測(cè)試點(diǎn)或信號(hào)導(dǎo)引孔原則上皆須設(shè)測(cè)試點(diǎn)，不應(yīng)任意刪除之。

　　（2）除非客戶本身具專業(yè)能力及把握正確判斷，小孔不須設(shè)針，否則夾具外包制作時(shí)，最好不要要求刪點(diǎn)，以免不幸發(fā)生漏測(cè)而造成測(cè)試品質(zhì)問(wèn)題。

　　（3）建議客戶在制作測(cè)試夾具時(shí)，應(yīng)同時(shí)做出明確的設(shè)針?lè)绞剑岳秺A具部門或外包廠商作業(yè)，并避免不必要之錯(cuò)誤產(chǎn)生。

　　3.回路斷線：

　　3.1三條線路三個(gè)點(diǎn)即構(gòu)成一組回路。

　　3.2回路斷線問(wèn)題在一般測(cè)試上稱為盲點(diǎn)，很難直接測(cè)出問(wèn)題點(diǎn)所在，如果斷線只有一條，將無(wú)法測(cè)出其問(wèn)題點(diǎn)；如果斷線有兩條時(shí)，則可測(cè)出其問(wèn)題點(diǎn)。客戶如有要求不能有回路斷線發(fā)生，則在治具制作之資料處理時(shí)，凡是線路有經(jīng)過(guò)之中間點(diǎn)（孔），都必須設(shè)測(cè)試點(diǎn)；Plot標(biāo)出回路位置，在測(cè)試后以目視檢驗(yàn)，以克服問(wèn)題。