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±50g自測(cè)試電路圖
±50g自測(cè)試電路圖
- 電路圖(506727)
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低功耗測(cè)試矢量生成技術(shù)的研究
在集成電路內(nèi)建自測(cè)試的過(guò)程中，電路的測(cè)試功耗通常顯著高于正常模式產(chǎn)生的功耗，因此低功耗內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)已成為當(dāng)前的一個(gè)研究熱點(diǎn)。為了減少被測(cè)電路內(nèi)部節(jié)點(diǎn)的開(kāi)關(guān)翻轉(zhuǎn)活
2012-02-01 14:00:3621
21運(yùn)算放大器測(cè)試基礎(chǔ)第3部分：適用于運(yùn)算放大器測(cè)試的電路配置
在本系列的第 1 部分中，我們?yōu)榇蠹医榻B了三種運(yùn)算放大器測(cè)試電路：自測(cè)試電路、雙運(yùn)算放大器環(huán)路以及三運(yùn)算放大器環(huán)路。這些電路有助于測(cè)試失調(diào)電壓 (VOS)、共模抑制比 (CMRR)、電源抑制
2017-04-08 06:06:344796
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TMS570LS系列微控制器配置與可編程內(nèi)置自測(cè)試的概述
TMS570LS系列微控制器與可編程內(nèi)置自測(cè)試（pbist）實(shí)現(xiàn)建筑。的pbist架構(gòu)提供了一種存儲(chǔ)器BIST引擎不同的覆蓋水平在許多嵌入式內(nèi)存實(shí)例中。TMS570LS系列微控制器可分為兩類：130
2018-04-16 16:03:3812
12新的平衡電流模式模擬電路自測(cè)試方法的片上解決方案詳細(xì)說(shuō)明
仿真結(jié)果：為了評(píng)價(jià)BIC監(jiān)測(cè)儀用于新型并行模擬自測(cè)試的可行性，進(jìn)行了故障仿真。全差分電流傳送器被用作被測(cè)器件。在監(jiān)視通過(guò)/失敗輸出（圖2）的同時(shí)，將每個(gè)典型的MOS晶體管的終端故障（短路和開(kāi)路）分別
2019-11-26 16:36:300
050G SFP56光模塊助力5G網(wǎng)絡(luò)建設(shè)，實(shí)現(xiàn)高效互連方案
50G光模塊指?jìng)鬏斔俾蕿?b class="flag-6" style="color: red">50Gbps/s的光模塊,其封裝類型采用SFP56。是10G和100G以太網(wǎng)絡(luò)連接標(biāo)準(zhǔn)的重要銜接者，50Gbps每通道技術(shù)將會(huì)成為未來(lái)400Gbps以太網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)，后面
2020-07-01 17:43:114348
4348VLSI測(cè)試與可測(cè)試性設(shè)計(jì)的學(xué)習(xí)課件資料合集
VLSI測(cè)試技術(shù)導(dǎo)論， 可測(cè)試性設(shè)計(jì)， 邏輯與故障模擬，測(cè)試生成，邏輯自測(cè)試，測(cè)試壓縮，邏輯電路故障診斷，存儲(chǔ)器測(cè)試與BIST，存儲(chǔ)器診斷與BISR，邊界掃描與SOC測(cè)試，納米電路測(cè)試技術(shù)，復(fù)習(xí)及習(xí)題
2020-10-09 08:00:001
1運(yùn)算放大器測(cè)試基礎(chǔ)第3部分：可配置電路測(cè)試運(yùn)算放大器
作者：Martin Rowe — 2011 年 11 月 16 日
在本系列的第 1 部分中，我們?yōu)榇蠹医榻B了三種運(yùn)算放大器測(cè)試電路：自測(cè)試電路、雙運(yùn)算放大器環(huán)路以及三運(yùn)算放大器環(huán)路。這些電路
2021-11-23 17:41:501409
1409特蘭微電子與芯華章達(dá)成戰(zhàn)略合作 中興通訊全球首發(fā)精準(zhǔn)50G PON樣機(jī)
近日，中興通訊在2022年世界移動(dòng)通信大會(huì)上，重磅發(fā)布全球首臺(tái)精準(zhǔn)50G PON樣機(jī)，對(duì)推動(dòng)50G PON的應(yīng)用場(chǎng)景探索，以及50G PON技術(shù)發(fā)展及產(chǎn)業(yè)鏈成熟具有重要里程碑式意義。
2022-03-03 10:52:42567
567關(guān)于芯片設(shè)計(jì)的前端設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)
LBIST (Logic build-in-self test), 邏輯內(nèi)建自測(cè)試。和MBIST同理，在關(guān)鍵邏輯上加上自測(cè)試電路，看看邏輯cell有沒(méi)有工作正常。BIST總歸會(huì)在芯片里加入自測(cè)試邏輯，都是成本。
2022-08-29 15:33:302169
216925G/50G/100G技術(shù)有什么區(qū)別和聯(lián)系？
在過(guò)去十年里，10G和40G技術(shù)占據(jù)了以太網(wǎng)市場(chǎng)的大部分。但隨著用戶對(duì)高帶寬的需求以及特殊應(yīng)用的發(fā)展需求，25G/50G/100G技術(shù)越來(lái)越受用戶關(guān)注，它們憑借著能為高速率提供有效路徑，逐漸在網(wǎng)絡(luò)部署中脫穎而出。下面我們將著重介紹25G/50G/100G技術(shù)及其三者的關(guān)系。
2022-10-27 10:16:521904
1904UM2986 STM32U5系列IEC 60730自測(cè)試庫(kù)用戶指南
UM2986 STM32U5系列IEC 60730自測(cè)試庫(kù)用戶指南
2022-11-22 08:21:450
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40G/50G High Speed Ethernet Subsystem產(chǎn)品指南
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《40G/50G High Speed Ethernet Subsystem產(chǎn)品指南.pdf》資料免費(fèi)下載
2023-09-14 10:35:400
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工商網(wǎng)監(jiān)
評(píng)論