晶振全稱為晶體振蕩器，其作用在于產生原始的時鐘頻率，這個頻率經過頻率發生器的放大或縮小后就成了電腦中各種不同的總線頻率。以聲卡為例，要實現對模擬信號44.1kHz或48kHz的采樣，頻率發生器就必須提供一個44.1kHz或48kHz的時鐘頻率。如果需要對這兩種音頻同時支持的話，聲卡就需要有兩顆晶振。但是娛樂級聲卡為了降低成本，通常都采用SRC將輸出的采樣頻率固定在48kHz，但是SRC會對音質帶來損害，而且現在的娛樂級聲卡都沒有很好地解決這個問題。

　　晶振一般叫做晶體諧振器，是一種機電器件，是用電損耗很小的石英晶體經精密切割磨削并鍍上電極焊上引線做成。這種晶體有一個很重要的特性，如果給它通電，它就會產生機械振蕩，反之，如果給它機械力，它又會產生電，這種特性叫機電效應。他們有一個很重要的特點，其振蕩頻率與他們的形狀，材料，切割方向等密切相關。

　　由于石英晶體物理性能非常穩定，熱膨脹系數非常小，其振蕩頻率也非常穩定，由于控制幾何尺寸可以做到很精密，因此，其諧振頻率也很準確。根據石英晶體的機電效應，我們可以把它等效為一個電磁振蕩回路，即諧振回路。他們的機電效應是機-電-機-電。。的不斷轉換，由電感和電容組成的諧振回路是電場-磁場的不斷轉換。在電路中的應用實際上是把它當作一個高Q值的電磁諧振回路。由于石英晶體的損耗非常小，即Q值非常高，做振蕩器用時，可以產生非常穩定的振蕩，作濾波器用，可以獲得非常穩定和陡削的帶通或帶阻曲線。

　　晶振的技術指標

　　總頻差：在規定的時間內，由于規定的工作和非工作參數全部組合而引起的晶體振蕩器頻率與給定標稱頻率的最大偏差。

　　說明：總頻差包括頻率溫度穩定度、頻率老化率造成的偏差、頻率電壓特性和頻率負載特性等共同造成的最大頻差。一般只在對短期頻率穩定度關心，而對其他頻率穩定度指標不嚴格要求的場合采用。例如：精密制導雷達。

　　頻率穩定度：任何晶振，頻率不穩定是絕對的，程度不同而已。一個晶振的輸出頻率隨時間變化的曲線如圖2。圖中表現出頻率不穩定的三種因素：老化、飄移和短穩。

　　曲線1是用0.1秒測量一次的情況，表現了晶振的短穩；曲線3是用100秒測量一次的情況，表現了晶振的漂移；曲線4 是用1天一次測量的情況。表現了晶振的老化。

　　頻率溫度穩定度：在標稱電源和負載下，工作在規定溫度范圍內的不帶隱含基準溫度或帶隱含基準溫度的最大允許頻偏。

　　ft=±（fmax-fmin）/（fmax+fmin）

　　ftref ＝±MAX［｜（fmax-fref）/fref｜，｜（fmin-fref）/fref｜］

　　ft：頻率溫度穩定度（不帶隱含基準溫度）

　　ftref：頻率溫度穩定度（帶隱含基準溫度）

　　fmax ：規定溫度范圍內測得的最高頻率

　　fmin：規定溫度范圍內測得的最低頻率

　　fref：規定基準溫度測得的頻率

　　說明：采用ftref指標的晶體振蕩器其生產難度要高于采用ft指標的晶體振蕩器，故ftref指標的晶體振蕩器售價較高。

　　開機特性（頻率穩定預熱時間）：指開機后一段時間（如5分鐘）的頻率到開機后另一段時間（如1小時）的頻率的變化率。表示了晶振達到穩定的速度。這指標對經常開關的儀器如頻率計等很有用。

　　說明：在多數應用中，晶體振蕩器是長期加電的，然而在某些應用中晶體振蕩器需要頻繁的開機和關機，這時頻率穩定預熱時間指標需要被考慮到（尤其是對于在苛刻環境中使用的軍用通訊電臺，當要求頻率溫度穩定度≤±0.3ppm（-45℃～85℃），采用OCXO作為本振，頻率穩定預熱時間將不少于5分鐘，而采用MCXO只需要十幾秒鐘）。

　　頻率老化率：在恒定的環境條件下測量振蕩器頻率時，振蕩器頻率和時間之間的關系。這種長期頻率漂移是由晶體元件和振蕩器電路元件的緩慢變化造成的，因此，其頻率偏移的速率叫老化率，可用規定時限后的最大變化率（如±10ppb/天，加電72小時后），或規定的時限內最大的總頻率變化（如：±1ppm/（第一年）和±5ppm/（十年））來表示。

　　晶體老化是因為在生產晶體的時候存在應力、污染物、殘留氣體、結構工藝缺陷等問題。應力要經過一段時間的變化才能穩定，一種叫“應力補償”的晶體切割方法（SC切割法）使晶體有較好的特性。

　　污染物和殘留氣體的分子會沉積在晶體片上或使晶體電極氧化，振蕩頻率越高，所用的晶體片就越薄，這種影響就越厲害。這種影響要經過一段較長的時間才能逐漸穩定，而且這種穩定隨著溫度或工作狀態的變化會有反復——使污染物在晶體表面再度集中或分散。因此，頻率低的晶振比頻率高的晶振、工作時間長的晶振比工作時間短的晶振、連續工作的晶振比斷續工作的晶振的老化率要好。

　　說明：TCXO的頻率老化率為：±0.2ppm～±2ppm（第一年）和±1ppm～±5ppm（十年）（除特殊情況，TCXO很少采用每天頻率老化率的指標，因為即使在實驗室的條件下，溫度變化引起的頻率變化也將大大超過溫度補償晶體振蕩器每天的頻率老化，因此這個指標失去了實際的意義）。OCXO的頻率老化率為：±0.5ppb～±10ppb/天（加電72小時后），±30ppb～±2ppm（第一年），±0.3ppm～±3ppm（十年）。

　　短穩：短期穩定度，觀察的時間為1毫秒、10毫秒、100毫秒、1秒、10秒。

　　晶振的輸出頻率受到內部電路的影響（晶體的Q值、元器件的噪音、電路的穩定性、工作狀態等）而產生頻譜很寬的不穩定。測量一連串的頻率值后，用阿倫方程計算。相位噪音也同樣可以反映短穩的情況（要有專用儀器測量）。

　　重現性：定義：晶振經長時間工作穩定后關機，停機一段時間t1（如24小時），開機一段時間t2（如4小時），測得頻率f1，再停機同一段時間t1，再開機同一段時間t2，測得頻率f2。重現性=（f2-f1）/f2。

　　頻率壓控范圍：將頻率控制電壓從基準電壓調到規定的終點電壓，晶體振蕩器頻率的最小峰值改變量。

　　說明：基準電壓為＋2.5V，規定終點電壓為＋0.5V和＋4.5V，壓控晶體振蕩器在＋0.5V頻率控制電壓時頻率改變量為-2ppm，在＋4.5V頻率控制電壓時頻率改變量為＋2.1ppm，則VCXO電壓控制頻率壓控范圍表示為：≥±2ppm（2.5V±2V），斜率為正，線性為+2.4%。

　　壓控頻率響應范圍：當調制頻率變化時，峰值頻偏與調制頻率之間的關系。通常用規定的調制頻率比規定的調制基準頻率低若干dB表示。

　　說明：VCXO頻率壓控范圍頻率響應為0～10kHz。

　　頻率壓控線性：與理想（直線）函數相比的輸出頻率-輸入控制電壓傳輸特性的一種量度，它以百分數表示整個范圍頻偏的可容許非線性度。

　　說明：典型的VCXO頻率壓控線性為：≤±10%，≤±20%。簡單的VCXO頻率壓控線性計算方法為（當頻率壓控極性為正極性時）：

　　頻率壓控線性＝±（（fmax-fmin）/ f0）×100%

　　fmax：VCXO在最大壓控電壓時的輸出頻率

　　fmin：VCXO在最小壓控電壓時的輸出頻率

　　f0：壓控中心電壓頻率

　　單邊帶相位噪聲￡（f）：偏離載波f處，一個相位調制邊帶的功率密度與載波功率之比。

　　輸出波形：從大類來說，輸出波形可以分為方波和正弦波兩類。

　　方波主要用于數字通信系統時鐘上，對方波主要有輸出電平、占空比、上升/下降時間、驅動能力等幾個指標要求。

　　隨著科學技術的迅猛發展，通信、雷達和高速數傳等類似系統中，需要高質量的信號源作為日趨復雜的基帶信息的載波。因為一個帶有寄生調幅及調相的載波信號（不干凈的信號）被載有信息的基帶信號調制后，這些理想狀態下不應存在的頻譜成份（載波中的寄生調制）會導致所傳輸的信號質量及數傳誤碼率明顯變壞。所以作為所傳輸信號的載體，載波信號的干凈程度（頻譜純度）對通信質量有著直接的影響。對于正弦波，通常需要提供例如諧波、噪聲和輸出功率等指標。

　　晶振的等效電氣特性

　　1、 概念

　　（1）晶片，石英晶體或晶體、晶振、石英晶體諧振器

　　從一塊石英晶體上按一定方位角切下薄片。

　　（2）晶體振蕩器

　　在封裝內部添加IC組成振蕩電路的晶體元件稱為晶體振蕩器。

　　2、晶振等效電路

　　圖1 展示了晶振等效的電路。R是ESR串聯等效阻抗，L和C分別是晶振等效電感和等效電容。Cp是晶振的伴身電容，其極性取決于晶振的極性。

　　圖2 是晶振的電抗頻譜線方程

　　根據方程，當晶振工作在串聯諧振狀態下時，電路就似一個純電阻電路，感抗等于容抗（XL=XC）。串聯諧振的頻率為：

　　當晶振工作在并聯諧振模式時，晶振表現為感性。該模式的工作頻率由晶振的負載決定。對于并聯諧振狀態的晶振，晶振制造商應該指定負載電容CL。　　在并聯諧振模式下，電抗線中fs到fa的斜線區域內，通過調整晶振的負載，如圖2，晶振都可以振蕩起來。