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怎樣測量芯片好壞

2019年05月17日 10:03 lq 作者: 用戶評論(0

怎樣測量芯片好壞

1.?檢查供電:直接用萬用表測量VCC和GND的電平,是否符合要求。如果VCC偏離5V或3.3V過多,檢查7805或其他穩壓、濾波電路的輸出。

2.?檢查晶振……?這個我也不知道怎么檢查晶振好壞,我的方法比較土:一般是多換幾個晶振上電試試,反正石英晶振不值很多錢:)?

3.?檢查RESET引腳電平邏輯,注意所用機型是高電平復位還是低電平復位的,如果MCU一直處于反復被復位狀態,呵呵,結果不言而喻。

4.?如果設計時,程序是從擴展的外部ROM開始運行的,還需檢查EA腳。

5.?檢查MCU是否損壞或flash無法下載,最好換塊新的芯片試試。

6.?如果確定上述幾點都沒問題,按道理說硬件是應該正常運行的了(為了防止萬一,也可以寫一段較簡短的并口亮燈程序測試下最小系統)……如果測試程序運行正常。那就基本確定是控制程序的問題了,在keil里反復跟蹤調試程序,留意調用子程序后工作寄存器組、累加器、DPTR等是否為預期值。

如何判斷ic芯片的好壞

一、不在路檢測

這種方法是在ic未焊入電路時進行的,一般情況下可用萬用表測量各引腳對應于接地引腳之間的正、反向電阻值,并和完好的ic進行 較。

二、在路檢測

這是一種通過萬用表檢測ic各引腳在路(ic在電路中)直流電阻、對地交直流電壓以及總工作電流的檢測方法。這種方法克服了代換試驗法需要有可代換ic的局限性和拆卸ic的麻煩,是檢測ic最常用和實用的方法。

2.直流工作電壓測量

這是一種在通電情況下,用萬用表直流電壓擋對直流供電電壓、外圍元件的工作電壓進行測量;檢測ic各引腳對地直流電壓值,并與正常值相 較,進而壓縮故障范圍, 出損壞的元件。測量時要注意以下八 :

(1)萬用表要有足夠大的內阻, 少要大于被測電路電阻的10倍以上,以免造成較大的測量誤差。

(2)通常把各電位器旋到中間位置,如果是電視機,信號源要采用標準彩條信號發生器。

3)表筆或探頭要采取防滑措施。因任何瞬間短路都容易損壞ic。可采取如下方法防止表筆滑動:取一段自行車用氣門芯套在表筆尖上,并長出表筆尖約0.5mm左右,這既能使表筆尖良好地與被測試點接觸,又能有效防止打滑,即使碰上鄰近點也不會短路。

(4)當測得某一引腳電壓與正常值不符時,應根據該引腳電壓對ic正常工作有無重要影響以及其他引腳電壓的相應變化進行分析, 能判斷ic的好壞。

(5)ic引腳電壓會受外圍元器件影響。當外圍元器件發生漏電、短路、開路或變值時,或外圍電路連接的是一個阻值可變的電位器,則電位器滑動臂所處的位置不同,都會使引腳電壓發生變化。

(6)若ic各引腳電壓正常,則一般認為ic正常;若ic部分引腳電壓異常,則應從偏離正常值最大處入手,檢查外圍元件有無故障,若無故障,則ic很可能損壞。

(7)對于動態接收裝置,如電視機,在有無信號時,ic各引腳電壓是不同的。如發現引腳電壓不該變化的反而變化大,該隨信號大小和可調元件不同位置而變化的反而不變化,就可確定ic損壞。

(8)對于多種工作方式的裝置,如錄像機,在不同工作方式下,ic各引腳電壓也是不同的。

3.交流工作電壓測量法

為了掌握ic交流信號的變化情況,可以用帶有db插孔的萬用表對ic的交流工作電壓進行近似測量。檢測時萬用表置于交流電壓擋,正表筆插入db插孔;對于無db插孔的萬用表,需要在正表筆串接一只0.1~0.5μf隔直電容。該法適用于工作頻率 較低的ic,如電視機的視頻放大級、場掃描電路等。由于這些電路的固有頻率不同,波形不同,所以所測的數據是近似值,只能供參考。

4.總電流測量法

該法是通過檢測ic電源進線的總電流,來判ic好壞的一種方法。由于ic內部絕大多數為直接耦合,ic損壞時(如某一個pn結擊穿或開路)會引起后級飽和與截止,使總電流發生變化。所以通過測量總電流的方法可以判 ic的好壞。也可用測量電源通路中電阻的電壓降,用歐姆定律計算出總電流值。

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( 發表人:李倩 )

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