什么是集成電路測(cè)試儀

　　集成電路測(cè)試儀是對(duì)集成電路進(jìn)行測(cè)試的專用儀器設(shè)備。集成電路測(cè)試是保證集成電路性能、質(zhì)量的關(guān)鍵手段之一。集成電路測(cè)試技術(shù)是發(fā)展集成電路產(chǎn)業(yè)的三大支撐技術(shù)之一，因此，集成電路測(cè)試儀作為一個(gè)測(cè)試門類受到很多國家的高度重視。40年來，隨著集成電路發(fā)展到第四代，集成電路測(cè)試儀也從最初測(cè)試小規(guī)模集成電路發(fā)展到測(cè)試中規(guī)模、大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路，到了八十年代，超大規(guī)模集成電路測(cè)試儀進(jìn)入全盛時(shí)期。

　　集成電路測(cè)試儀器有哪些種類

　　集成電路測(cè)試儀器有很多種類，在選擇時(shí)要根據(jù)需要從多方面衡量才能選好，否則必會(huì)顧此失彼，勞民傷財(cái)，事倍功半！鑒于集成電路本身的多樣性，導(dǎo)致了集成電路測(cè)試儀器的多樣性。

　　第一，集成電路的性能參數(shù)有直流參數(shù)、交流參數(shù)和功能（又包括靜態(tài)功能、動(dòng)態(tài)功能），因而有直流參數(shù)測(cè)試儀、交流參數(shù)測(cè)試儀、功能測(cè)試儀之分。但多數(shù)情況下，是把直流參數(shù)與功能測(cè)試組合在一起，這是典型集成電路測(cè)試儀的基本構(gòu)成方式。

　　第二，不同類別的集成電路，功能差異很大，因而需要不同的集成電路測(cè)試儀。

　　通常，集成電路分為數(shù)字集成電路、模擬集成電路和混合信號(hào)集成電路三個(gè)大類。

　　數(shù)字集成電路又包含邏輯集成電路、存儲(chǔ)器集成電路、專用集成電路（ASIC）。相應(yīng)的有邏輯集成電路測(cè)試儀、存儲(chǔ)器測(cè)試儀，以及兼有上述各種數(shù)字電路測(cè)試能力的數(shù)字集成電路測(cè)試儀。

　　模擬集成電路包括一般（大都為DC或低頻）模擬集成電路和射頻模擬集成電路兩大類。通常，射頻或微波集成電路產(chǎn)量、用途較專業(yè)化，專門儀器型號(hào)不多，一般模擬集成電路種類、用途甚廣，型號(hào)較多。且還有許多專門的測(cè)試儀，如運(yùn)算放大器測(cè)試儀、集成電源電路測(cè)試儀等。

　　混合信號(hào)集成電路是指在一塊集成電路里既含數(shù)字電路又含模擬電路，典型的如數(shù)字一模擬轉(zhuǎn)換器、模擬一數(shù)字轉(zhuǎn)換器。

　　第三，集成電路的集成度不同，測(cè)試要求不同，從性能及經(jīng)濟(jì)考慮，有不同的測(cè)試儀器供選用。典型的分為小規(guī)模集成電路（SSI）、中規(guī)模集成電路（MSI）、大規(guī)模集成電路（LSI）、超大規(guī)模集成電路（VLSI）四個(gè)級(jí)。

　　第四，集成電路研制、生產(chǎn)、使用階段測(cè)試要求不同，出于性能及經(jīng)濟(jì)要求，有不同類型的測(cè)試儀器。集成電路研究設(shè)計(jì)試制中常用的是集成電路直流參數(shù)分析儀、集成電路高違功能測(cè)試儀、集成電路綜合測(cè)試系統(tǒng)、集成電路臉證與測(cè)試儀。集成電路批量生產(chǎn)中，采用高效率型的集成電路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。

　　在電子整機(jī)廠，孺要選用一種經(jīng)濟(jì)有效的集成電路測(cè)試儀器，對(duì)購進(jìn)的集成電路進(jìn)行臉收測(cè)試。在電子產(chǎn)品的維修部門，通常需選用簡(jiǎn)易型集成電路測(cè)試儀對(duì)受懷疑的集成電路進(jìn)行簡(jiǎn)易的判別測(cè)試。

　　第五，根據(jù)上述各種場(chǎng)合下的不同測(cè)試需要，從外形上看，有大型、中型落地式的集成電路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，有中、小型臺(tái)式的集成電路測(cè)試儀以及攜帶式的簡(jiǎn)易型集成電路測(cè)試儀。

　　集成電路測(cè)試儀組成

　　集成電路測(cè)試儀的整體結(jié)構(gòu)如圖所示：

　　整個(gè)系統(tǒng)機(jī)械上采用插槽式結(jié)構(gòu)，所有系統(tǒng)板都通過系統(tǒng)插槽插到機(jī)箱背板上，機(jī)箱背板上的系統(tǒng)內(nèi)總線通過PCI接口板與計(jì)算機(jī)PCI總線相連［3］ 。機(jī)箱背板上共涉及12個(gè)插槽，其中一個(gè)用于插系統(tǒng)控制板，一個(gè)用于插電源模塊，其余10個(gè)是通用插槽，根據(jù)測(cè)試需要可以插任何一個(gè)系統(tǒng)版。被測(cè)器件DUT通過繼電器矩陣板與測(cè)試儀連接，繼電器矩陣板完成被測(cè)器件DUT與測(cè)試儀各通道之間的切換［3］ 。測(cè)試儀通過PCI總線與計(jì)算機(jī)相連，整個(gè)系統(tǒng)的控制由計(jì)算機(jī)完成。該系統(tǒng)可以一次完成兩個(gè)被測(cè)器件DUT的測(cè)試。