在產(chǎn)業(yè)化生產(chǎn)的今天，測(cè)試程序的運(yùn)行時(shí)間直接關(guān)系到測(cè)試的成本，一般芯片規(guī)模越大，所需測(cè)試的向量就越多，測(cè)試時(shí)間也越長(zhǎng)?？紤]到生產(chǎn)成本，芯片大量生產(chǎn)時(shí)，減少整個(gè)測(cè)試程序的運(yùn)行時(shí)間是降低測(cè)試成本的關(guān)鍵（就當(dāng)今許多最先進(jìn)的集成電路而言，測(cè)試成本已占到總成本的30％ 一40％）。因此，這就需要優(yōu)化測(cè)試程序，使其既有較高的故障覆蓋率，又能夠快速、高效地測(cè)試。優(yōu)化測(cè)試程序時(shí)，減少測(cè)試時(shí)間在這方面將起到重大的作用。

　　優(yōu)化直流參數(shù)測(cè)試程序

　　HiLEVEL公司的ETs77O測(cè)試系統(tǒng)每執(zhí)行一次．set（執(zhí)行）文件，就需調(diào)用一個(gè)．tn1（向量）文件。而調(diào)用．tⅡl文件所需的執(zhí)行時(shí)間遠(yuǎn)大于調(diào)用．set文件。這樣．仃n文件容量的大小直接影響測(cè)試程序的運(yùn)行時(shí)間。因此在測(cè)試直流參數(shù)時(shí)，最好單獨(dú)調(diào)制一個(gè)測(cè)試向量，只供測(cè)試直流參數(shù)使用。此測(cè)試向量的容量越少越好，只要包含所測(cè)試管腳要求的狀態(tài)即可。這樣在調(diào)用向量文件時(shí)，可以節(jié)省時(shí)間。像82c51的功能測(cè)試有上萬條的測(cè)試向量而直流參數(shù)的測(cè)試向量只需要幾十條就可以完成全部直流參數(shù)測(cè)試（調(diào)用過萬條的向量文件需要522ms，而調(diào)用十條以內(nèi)的向量文件則只需要90ms）。

　　在測(cè)試直流參數(shù)時(shí)，減少測(cè)試時(shí)間的主導(dǎo)思想就是將串行測(cè)試方法改為并行測(cè)試方法，同時(shí)測(cè)量多個(gè)管腳的直流參數(shù)要比逐一測(cè)試單個(gè)管腳的直流參數(shù)節(jié)省時(shí)間。以82C51電路為例，在測(cè)試其數(shù)據(jù)總線的輸出高電平時(shí)，八個(gè)管腳同時(shí)測(cè)試花費(fèi)的時(shí)間為126ms，如果單獨(dú)測(cè)試每一個(gè)管腳，八個(gè)管腳全部測(cè)試完成大約需要4o0ms。但同時(shí)測(cè)量多個(gè)管腳的直流參數(shù)需要兩個(gè)條件：①每個(gè)測(cè)試管腳對(duì)應(yīng)的測(cè)試通道都具有獨(dú)立的驅(qū)動(dòng)測(cè)試能力；②合適的功能測(cè)試向量將這些管腳同時(shí)設(shè)置到一定的狀態(tài)。

　　ETS77O測(cè)試系統(tǒng)完全可以滿足條件①的要求，而條件②是對(duì)測(cè)試程序設(shè)計(jì)者提出的要求，需要在調(diào)試測(cè)試向量時(shí)，提前考慮到這一點(diǎn)。盡量使多個(gè)管腳可以停在同一狀態(tài)，82c5l測(cè)試直流參數(shù)的具體方法是將0地址寫全“0”數(shù)據(jù)，F(xiàn)F地址寫全“l(fā)”數(shù)據(jù)。這樣，在讀0地址數(shù)據(jù)時(shí)，數(shù)據(jù)總線的輸出狀態(tài)為全“O”，可以測(cè)試有關(guān)低電平的所有直流參數(shù)。在讀FF地址數(shù)據(jù)時(shí)，數(shù)據(jù)總線的輸出狀態(tài)為全“l(fā)”，可以測(cè)試有關(guān)高電平的所有直流參數(shù)。這樣在測(cè)試直流參數(shù)時(shí)，數(shù)據(jù)總線都停在同一狀態(tài)，可以同時(shí)完成對(duì)不同管腳的電參數(shù)的測(cè)試，而且測(cè)試向量只需幾條就可實(shí)現(xiàn)，這樣又可以減少調(diào)用．tn1文件的時(shí)間，一舉兩得。另外，在不同的測(cè)試系統(tǒng)上有不同的節(jié)約測(cè)試時(shí)間的方法。就目前正在使用的ETs77O測(cè)試系統(tǒng)，在測(cè)試直流參數(shù)時(shí)，還可以利用許多小細(xì)節(jié)來完善程序，減少測(cè)試時(shí)間，降低測(cè)試成本。如在測(cè)試漏電流和電源電流時(shí)，根據(jù)規(guī)范所要

　　求值的大小選擇合適的量程，即在測(cè)試程序中激活Rangs對(duì)話框，選擇合適的范圍。因?yàn)?，測(cè)試系統(tǒng)在測(cè)試漏電流和電源電流時(shí)，如果不激活Rangs對(duì)話框，系統(tǒng)默認(rèn)參考值與測(cè)量值相比較，以固定差值逐漸向測(cè)量值逼近，得出實(shí)測(cè)值。這樣很浪費(fèi)時(shí)間，如果設(shè)定了量程，系統(tǒng)根據(jù)量程設(shè)定參考值與測(cè)量值相比較，以固定差值逐漸向測(cè)量值逼近，很快就可以得出實(shí)測(cè)值。如82c5l電路的輸入高電平電流標(biāo)準(zhǔn)要求應(yīng)在±1O A，如果激活Rangs對(duì)話框，并選擇20 A這一擋，測(cè)試時(shí)花費(fèi)的測(cè)試時(shí)間大約為2O9ms，而不激活Rangs對(duì)話框，直接測(cè)試則需要花費(fèi)的測(cè)試時(shí)間約為1170ms。依此類推在測(cè)試輸人低電平電流和電源電流時(shí)同樣都激活Rangs對(duì)話框要比不激活Rangs對(duì)話框節(jié)省大量的測(cè)試時(shí)間。82C5l僅為28管腳的電路，對(duì)于上百管腳的電路而言，優(yōu)化直流參數(shù)的測(cè)試程序，減少的測(cè)試時(shí)間更為明顯，有些電路測(cè)試程序經(jīng)過優(yōu)化后，測(cè)試時(shí)間僅為優(yōu)化前的三分之一甚至更少。

　　優(yōu)化交流參數(shù)測(cè)試程序

　　目前，普遍使用的交流測(cè)試方法主要有兩種：搜索法和功能驗(yàn)證法。就兩種測(cè)試方法而言，各有優(yōu)缺點(diǎn)。利用搜索法測(cè)試交流參數(shù)簡(jiǎn)單易學(xué)，可以得到確定的參數(shù)值，但測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，適合在芯片的研制過程中使用，了解器件的具體參數(shù)值，對(duì)設(shè)計(jì)和修改工藝參數(shù)提供參考。但在大規(guī)模生產(chǎn)過程中，整個(gè)流程都相對(duì)穩(wěn)定可靠，就沒必要使用這種方法了。此時(shí)，功能驗(yàn)證法就顯示出它的優(yōu)點(diǎn)。功能驗(yàn)證法并不是真正去i貝4試和顯示器件的交流參數(shù)，而是采用定時(shí)判別的方法來確定交流參數(shù)是否在合格范圍之內(nèi)，可以理解為進(jìn)行了一次具有定時(shí)精度的高速邏輯功能測(cè)試。這樣在功能測(cè)試的同時(shí)，就可以完成交流參數(shù)的測(cè)試，不必再逐一測(cè)試交流參數(shù)，減少了大量的測(cè)試時(shí)間，達(dá)到降低測(cè)試成本的目的。以27cl28—2O為例，講述測(cè)試交流參數(shù)的具體方法。27c128—2O讀操作的交流測(cè)試波形如圖1所示，參數(shù)如表l所示。

　　在編制功能測(cè)試程序時(shí)，按要求給出輸人、輸出值，測(cè)試頻率f=1MHz。地址輸入端采用NRz調(diào)制，延遲時(shí)間為1Ons。／cE、／OE采用R0ne調(diào)制，／cE的延遲時(shí)間為l0ns，而／OE 的延遲時(shí)間為135ns。數(shù)據(jù)輸出端的比較時(shí)間為2l0ns。在測(cè)試

　　時(shí)，／cE、／OE的測(cè)試向量一直為0，這樣經(jīng)過調(diào)制的波形與上述波形一致。在測(cè)試系統(tǒng)上對(duì)其功能進(jìn)行測(cè)試，若測(cè)試通過，則電路滿足參數(shù)手冊(cè)的要求，說明了所測(cè)值在合理范圍內(nèi)。利用搜索法測(cè)試每一項(xiàng)參數(shù)的延遲時(shí)間大約需要534ms，而27c128—20讀操作的延遲時(shí)間就有3項(xiàng)，如果使用搜索法測(cè)試以上三項(xiàng)參數(shù)，就需要l6O2ms。而使用功能驗(yàn)證法則完全省去這些測(cè)試時(shí)間。同樣寫操作的交流參數(shù)還有約l0項(xiàng)，如果同樣都使用功能驗(yàn)證法，則可以省去大量的測(cè)試時(shí)間。但功能驗(yàn)證法測(cè)試交流參數(shù)，要求測(cè)試編程人員相當(dāng)熟悉器件的功能和各種參數(shù)要求及測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試原理，才能使功能測(cè)試與交流參數(shù)測(cè)試完美結(jié)合。

　　優(yōu)化鏈接程序

　　ETS770測(cè)試系統(tǒng)在測(cè)試時(shí)，需要將每一個(gè)獨(dú)立的．set文件連接起來形成一套完整的測(cè)試程序。而將單獨(dú)的已調(diào)試通過的測(cè)試程序逐一鏈接時(shí)，也有一定的技巧。在鏈接時(shí)盡量將同一文件名的．tm文件鏈接到一起，這樣系統(tǒng)在前一級(jí)調(diào)用．tm文件后，如果文件名相同，則不用再重新調(diào)用此文件，而是直接默認(rèn)前一級(jí)文件。默認(rèn)上一級(jí)的．tHl文件測(cè)試向量有上萬條的也只需要47ms，而重新調(diào)用新的．tm文件即使是只有十條也需要90ms。

　　結(jié)束語

　　現(xiàn)代社會(huì)是個(gè)科技發(fā)展一日千里，生產(chǎn)日新月異的時(shí)代。集成電路還在按著摩爾定律的方式發(fā)展，整個(gè)測(cè)試程序的運(yùn)行時(shí)間限制著測(cè)試成本，優(yōu)化測(cè)試程序已成為迫在眉睫的問題。以上介紹的幾種優(yōu)化測(cè)試程序的方法，如果能在測(cè)試程序中同時(shí)使用，可以減少大量的測(cè)試時(shí)間，降低測(cè)試成本。