結(jié)果發(fā)現(xiàn)，單和多標(biāo)簽測試結(jié)果對平行平面和垂直平面來說，都符合得相當(dāng)好。垂直平面測量的結(jié)果符合這樣一種情況：在標(biāo)簽-標(biāo)簽間的高度耦合是主導(dǎo)趨勢 時(shí)，當(dāng)標(biāo)簽間距小于0.4英寸時(shí)，有惡化現(xiàn)象。在垂直平面條件下的多標(biāo)簽測試是不停地讀取更多的標(biāo)簽；因標(biāo)簽間的高度耦合使位于射頻黑洞內(nèi)的標(biāo)簽得以激 活，所以可將其認(rèn)為是一個(gè)激活標(biāo)簽產(chǎn)生的結(jié)果，而非直接來自查詢器。

對指向與IA平面相同的標(biāo)簽進(jìn)行的測試，指明了對所有標(biāo)簽尺寸 和查詢器設(shè)計(jì)而言所共有的黑洞位置。如前面觀察到的，當(dāng)存在與標(biāo)簽的對稱情況時(shí)，在IA PCB導(dǎo)線附近就出現(xiàn)射頻黑洞。圖8（a）詳盡標(biāo)明了映射響應(yīng)， 當(dāng)把卡向左或右移動，使這一整列標(biāo)簽與查詢器天線導(dǎo)線具有對稱性時(shí)，可清楚顯示出射頻黑洞。隨著高度的增加，處在邊緣的標(biāo)簽逐漸落在可讀取范圍之外，此 時(shí)，可用金字塔表述該整體三維可讀取區(qū)的形狀。我們還發(fā)現(xiàn)，讀取區(qū)的大小與查詢器和標(biāo)簽的大小成正比。

當(dāng)標(biāo)簽指向與查詢器正交時(shí)， 因?yàn)闃?biāo)簽和查詢器場域正交且耦合不好，所以認(rèn)為標(biāo)簽讀取性能會變差。該方向的標(biāo)簽映射如圖8（b）所示，當(dāng)標(biāo)簽接近并與查詢器PCB導(dǎo)線平行時(shí)，標(biāo)簽讀取 效果很好，但其它地方都不好。在查詢器PCB走線附近，沒發(fā)現(xiàn)RF黑洞，與平行平面指向的對稱排列所測得結(jié)果不一樣。讀取性能是高度的函數(shù)，特別是對小標(biāo) 簽來說，性能隨高度增加而顯著惡化（相對于平面平行反應(yīng)）；這些結(jié)果證明，在此方向只能使用較大的ISO標(biāo)簽。盡管該方向的總體讀取性能表現(xiàn)不佳，但分集 系統(tǒng)的多天線設(shè)計(jì)可改善讀取性能。

如測試表明，沒有任何一個(gè)平面查詢器天線在其整個(gè)平面能實(shí)現(xiàn)百分之百的讀取率，且在查詢器附近有一個(gè)體積不小的射頻黑洞。測試結(jié)果表明，若適當(dāng)?shù)嘏挪级?個(gè)IA，則有望實(shí)現(xiàn)百分之百的讀取。測試還顯示，適當(dāng)設(shè)計(jì)的分集系統(tǒng)可在整個(gè)表面滿足百分之百的讀取性能要求，且沒有物件數(shù)量的限制。這些結(jié)果只應(yīng)用于可 能的不同標(biāo)簽/查詢器組合樣例，其中一些可能會滿足預(yù)期的性能。

與此同時(shí)，我們還研究了雙回路IA設(shè)計(jì)。很顯然，對小標(biāo)簽來說， 在大的單回路IA設(shè)計(jì)的中心普遍存在著射頻黑洞。對雙回路IA設(shè)計(jì)的建模結(jié)果表明，與同樣大小的單回路設(shè)計(jì)相比，雙回路設(shè)計(jì)在中心區(qū)的標(biāo)簽讀取效果有顯著 改進(jìn)。雖然雙回路IA尚未投放市場，但我們制造了一個(gè)并進(jìn)行了測試。結(jié)果顯示，對放置在中心區(qū)標(biāo)簽的讀取有顯著改善，但同樣遭受了在此位置對稱效應(yīng)的影 響。

分集天線

隨后將這些測試結(jié)果應(yīng)用到分集系統(tǒng)的設(shè)計(jì)，目標(biāo)是針對庫存 管理應(yīng)用實(shí)現(xiàn)百分之百的讀取率。另一個(gè)目標(biāo)是在對現(xiàn)有硬件（架子、櫥柜等）不做重大修改的條件下，提供平面設(shè)計(jì)，這樣做不會減小產(chǎn)品空間而且也美觀。該設(shè) 計(jì)還必須考慮到任何可能降低性能的因素，如包裝。我們對紙板包裝的支架和導(dǎo)管產(chǎn)品以及密封在箔襯袋內(nèi)的產(chǎn)品進(jìn)行了大量測試，還針對智能圖書架應(yīng)用，對圖書 館內(nèi)的書籍的標(biāo)記和讀取做了很多次測試。與此同時(shí)，ICD測試也在進(jìn)行中。結(jié)果發(fā)現(xiàn)，相對較大的包裝所出的問題最少，從而允許以與RFID查詢器平行的指 向使用大的ISO標(biāo)簽。

針對以支架為對象的物件級應(yīng)用來說，對其進(jìn)行標(biāo)記被認(rèn)為是適當(dāng)?shù)模驗(yàn)闃?biāo)簽實(shí)際上可盡可能近地靠近查詢器。對于支架類產(chǎn)品，標(biāo)簽如圖9（a）所示置于底部 邊緣；甚至在帶箔內(nèi)襯包裝時(shí)，仍可實(shí)現(xiàn)百分之百的讀取。對以正交指向放置的較大ISO標(biāo)簽進(jìn)行測試的結(jié)果發(fā)現(xiàn)，只有在去除鋁箔包裝后，才可實(shí)現(xiàn)百分之百的 讀取。對垂直指向放置、帶鋁箔包裝的ISO標(biāo)簽的測試結(jié)果不好，這是因?yàn)闃?biāo)簽被夾在金屬之間，從而使標(biāo)簽失調(diào)且也減弱了達(dá)到標(biāo)簽的射頻場強(qiáng)。