蔡司掃描電鏡Crossbeam聚焦離子束掃描電子顯微鏡

在人工智能（AI）技術(shù)日新月異的時代，其強大的發(fā)展勢能對PCB板（印制電路板）的質(zhì)量提出了更高的要求。作為AI服務(wù)器硬件架構(gòu)的關(guān)鍵組成部分，PCB板的性...

2025-05-24 標(biāo)簽：電鏡圖像電子顯微鏡離子束 123 0

透射電鏡(TEM)樣品制備方法

透射電子顯微鏡(TEM)是研究材料微觀結(jié)構(gòu)的重要工具,其樣品制備是關(guān)鍵步驟，本節(jié)旨在解讀TEM樣品的制備方法。 ? 透射電子顯微鏡(TEM)是研究材料微...

2024-11-26 標(biāo)簽：TEM透射電鏡 2173 0

進(jìn)口SEM掃描電子顯微鏡品牌推薦

說到SEM掃描電子顯微鏡的品牌推薦，蔡司代理三本精密儀器工程師可得好好跟你聊聊!這可是個技術(shù)活兒啊，選個好品牌，對于科研工作者來說，簡直就像找到了寶藏一...

2024-08-12 標(biāo)簽：顯微鏡電鏡掃描電鏡 1352 0

蔡司場發(fā)射掃描電鏡的高分辨率高效檢測

蔡司代理三本精密儀器小編介紹掃描電子顯微鏡作為最常見的電子顯微儀器之一，不僅在微觀形貌表征方面大放異彩，也在各種元素表征、晶相分析、原位測試等領(lǐng)域有著諸...

2024-07-15 標(biāo)簽：檢測電鏡掃描電鏡 893 0

德國進(jìn)口SEM掃描電子顯微鏡的應(yīng)用

有人曾經(jīng)說過："如果我想得到準(zhǔn)確的尺寸，我就把被測樣品交給SEM操作員。蔡司代理三本精密儀器小編介紹，SEM是一種儀器，人們常常想當(dāng)然地認(rèn)為它...

2024-03-20 標(biāo)簽：電子顯微鏡電鏡掃描電鏡 537 0

透射電鏡TEM測試解剖芯片結(jié)構(gòu)：深入微觀世界的技術(shù)探索

在芯片制造領(lǐng)域，透射電鏡TEM技術(shù)發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。通過TEM測試，科學(xué)家可以觀察芯片中晶體結(jié)構(gòu)的變化，分析晶體缺陷，研究材料界面結(jié)構(gòu)，從而深入了解...

2024-02-27 標(biāo)簽：芯片測試芯片結(jié)構(gòu) 1934 0

SEM掃描電子顯微鏡涂層磨損分析

在鉆孔過程中鉆頭會發(fā)生磨損，評估和量化磨損的狀況至關(guān)重要，因為鉆頭的狀態(tài)會直接影響加工孔的質(zhì)量。如何簡單、快速的獲取鉆頭的磨損狀態(tài)？如何精準(zhǔn)的定量分析鉆...

2024-01-08 標(biāo)簽：電子顯微鏡電鏡掃描電鏡 913 0

蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 500介紹

蔡司代理三本精密儀器小編獲悉，近期蔡司對中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)龔明教授進(jìn)行了采訪，談了對于蔡司場發(fā)射掃描電鏡在工作研究中的使用感受：中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)工程與材料...

2023-12-20 標(biāo)簽：電鏡圖像電鏡掃描電鏡 1296 0

蔡司熱場掃描電鏡Sigma 300電子顯微鏡

蔡司熱場掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠?qū)Ω鞣N材質(zhì)的導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附...

2023-07-26 標(biāo)簽：顯微鏡電鏡透射電鏡 1643 0

公開課 | 透射電鏡原理介紹及其在半導(dǎo)體失效分析中的應(yīng)用

此次公開課特意邀請英國曼徹斯特大學(xué)材料學(xué)博士、廣電計量半導(dǎo)體技術(shù)副經(jīng)理劉辰作為講師。屆時，報名用戶不僅能免費參與課程，聽課期間還有超強的技術(shù)專家團(tuán)隊為大...

2023-03-20 標(biāo)簽：芯片半導(dǎo)體TEM 1373 0

芯片透射電鏡測試—競品分析

芯片透射電鏡測試，量子阱 位錯，膜厚分析，芯片解剖

2022-05-12 標(biāo)簽：芯片透射電鏡 859 0