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標(biāo)簽 > 測(cè)試
測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語(yǔ)。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為,一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證,并最終得出特定的結(jié)果。
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筆記本電池測(cè)試軟件的使用方法和注意事項(xiàng)
筆記本電池測(cè)試軟件的使用方法和注意事項(xiàng) 筆記本除了處理能力受人們關(guān)注之外,還有一個(gè)指標(biāo)是用戶相當(dāng)關(guān)心的,那就是電池的使用時(shí)間。消
百佳泰授權(quán)成為首家TransferJet測(cè)試實(shí)驗(yàn)室
百佳泰授權(quán)成為首家TransferJet測(cè)試實(shí)驗(yàn)室 百佳泰(Allion)近期宣部已通過TransferJet Consortium授權(quán),成為Tran...
K-micro、安立公司合作開發(fā)測(cè)試方案,為10G EPON
K-micro、安立公司合作開發(fā)測(cè)試方案,為10G EPON系統(tǒng)上市鋪路 日前,K-micro公司和安立公司共同宣布開發(fā)出全球第一款測(cè)量分析10Gbp...
萬(wàn)用表附加器-相位測(cè)試儀 在現(xiàn)代電子電路中,很多方面對(duì)電路中信號(hào)的相位有較嚴(yán)格的要求,為此相位的測(cè)量就成為比較普遍的問題
2009-11-22 標(biāo)簽:測(cè)試 2321 0
層出不窮的信號(hào)發(fā)生器可有效節(jié)省測(cè)試時(shí)間
層出不窮的信號(hào)發(fā)生器可有效節(jié)省測(cè)試時(shí)間 所有電子電路和電子設(shè)備都接收輸入信號(hào),然后將其處理成新的不同的輸出信號(hào)。工程師在設(shè)計(jì)和測(cè)試電路及設(shè)備時(shí)會(huì)從哪
2009-11-05 標(biāo)簽:測(cè)試 1563 0
霍尼韋爾 TPE331發(fā)動(dòng)機(jī)測(cè)試可再生航空燃料
-- 測(cè)試發(fā)現(xiàn)使用替代燃料對(duì)發(fā)動(dòng)機(jī)和 APU 性能沒有影響,可減排15%到50% 佛羅里達(dá)州奧蘭多市2009年1...
2009-10-22 標(biāo)簽:發(fā)動(dòng)機(jī)測(cè)試航空 1936 0
新研發(fā)實(shí)驗(yàn)室單芯片,可同時(shí)執(zhí)行上千筆測(cè)試
新研發(fā)實(shí)驗(yàn)室單芯片,可同時(shí)執(zhí)行上千筆測(cè)試 美國(guó)加州大學(xué)洛杉磯分校(UCLA)的研究人員表示,他們所研發(fā)的微流體實(shí)驗(yàn)室單芯片(microfluidic ...
2009-08-11 標(biāo)簽:測(cè)試 495 0
為什么需要進(jìn)行WiMAX協(xié)議一致性測(cè)試?
頻繁掉話、“網(wǎng)絡(luò)繁忙”的信息以及斷斷續(xù)續(xù)的服務(wù),都是設(shè)備互操作性差的潛在癥狀。通常,引起這類問題的原因要么是驗(yàn)證測(cè)試不夠嚴(yán)格,要么由于沒有進(jìn)行充分的互操作性測(cè)
為什么要發(fā)展測(cè)試友好技術(shù) 過去,若某一產(chǎn)品在上一測(cè)試點(diǎn)不能測(cè)試,那么這個(gè)問題就被簡(jiǎn)單地推移到直一個(gè)測(cè)試點(diǎn)上去。如
2009-05-16 標(biāo)簽:測(cè)試 387 0
基于ISP的導(dǎo)彈測(cè)試系統(tǒng)接口電路設(shè)計(jì)?
【摘 要】 介紹了在VXI總線儀器構(gòu)成的導(dǎo)彈測(cè)試系統(tǒng)中,利用ISP器件使接口電路設(shè)計(jì)簡(jiǎn)化,并用VHDL語(yǔ)言實(shí)現(xiàn)了ISP器件的內(nèi)部邏輯,給出了設(shè)計(jì)的方法及...
2009-05-11 標(biāo)簽:測(cè)試 1198 0
根據(jù)混合信號(hào)邊界掃描測(cè)試的工作機(jī)制,提出了符合1149.4標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試方法,并用本研究室開發(fā)的混合信號(hào)邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行了測(cè)試驗(yàn)證。
2009-05-09 標(biāo)簽:測(cè)試 681 0
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的預(yù)算-Automatic Test Equip
Abstract: The complexity of electronic-device testing varies widely, ranging...
可達(dá)6GHz的高頻率MIMO測(cè)試系統(tǒng)
多輸入多輸出(MIMO)技術(shù)正在迅速流行起來(lái),以便增強(qiáng)噪聲和干擾環(huán)境中的無(wú)線電性能。為同時(shí)滿足下一代射...
2009-04-24 標(biāo)簽:測(cè)試 615 0
LTE TDD測(cè)試介紹及Rohde & Schwarz 解決
目前,在3G之后,各種通信技術(shù)將如何演進(jìn)是業(yè)界非常關(guān)注的一個(gè)焦點(diǎn),特別是對(duì)于TD-SCDMA來(lái)說,能否實(shí)現(xiàn)向下一代通信技術(shù)的平滑演進(jìn),決定了TD究竟具有...
利用先進(jìn)的校準(zhǔn)測(cè)試方法降低移動(dòng)設(shè)備的成本
利用先進(jìn)的校準(zhǔn)測(cè)試方法降低移動(dòng)設(shè)備的成本 如今消費(fèi)者利用10年前連聽都沒有聽說過的各種方式使用移動(dòng)設(shè)備已是很平常的事情了。無(wú)論是在他們喜愛
我們供測(cè)試 工裝夾具 組裝夾具 我公司是一家專業(yè)生產(chǎn)銷售各種測(cè)試治具 SMT設(shè)備(回流焊 波峰焊 等)輔料的制造企業(yè)。公司成立于1999年7月,公司不斷...
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