多功能導電能力測試儀電路

多功能導電能力測試儀電路由探測電極、電阻分壓器、緩沖電路和雙色二極管組成，如圖所示。探測電極可感知被測物的電阻，根據被測物電阻的大小控制雙色發光二極管發...

2012-08-01 標簽：電路測試導電 2218 0

簡單介紹LTE測試技術的相關基礎知識

長期演進（LTE）無線網絡給測試設備供應商提出了若干挑戰。3GPP定義的LTE空中接口，在下行采用正交頻分多址（OFDMA）技術，在上行采用單載頻頻分多...

2012-07-17 標簽：測試LTE基礎知識 1689 0

測試竅門：選擇合適的示波器帶寬

帶寬是大多數工程師在選擇一款示波器時首先考慮的參數。本文將為您提供一些有用的竅門，教您如何為您的數字和模擬應用選擇合適的示波器 帶寬。但首先，我們先看看...

2012-07-12 標簽：測試示波器帶寬 5256 0

多重通訊的挑戰與測試方案

現今的個人通訊產品都傾向多重通訊功能方向發展，多重通訊裝置意指單一裝置中具備多種射頻和連結方式，如在市場熱賣的蘋果品牌 iPhone或智能手機就具備藍牙...

2012-07-04 標簽：測試無線 933 1

多標準無線電基站發射機測試

下一代基站發射機和接收機將會支持更寬的帶寬，不僅包括采用單一無線制式的多載波（MC），還包括在單一發射機路徑中的多種制式。例如，GSM、W-CDMA和L...

2012-06-21 標簽：測試無線電基站發射機 1478 0

基于802.11的高速藍牙技術測試

　　IMT-2000和802.11無線電會相互干擾，除非彼此在2.6GHz時的距離能達到8公尺左右，而在2.3GHz時的距離可達到16公尺左右。

2012-05-18 標簽：測試802.11高速藍牙技術 2987 0

實現高速串行I/O效率的嵌入式測試

　　隨著技術的進步，電子產業自身在不斷地發明創新。嵌入式系統設計師相當清楚這一點，許多人開發的應用數量甚至可以橫跨幾代電子技術和微處理器技術。

2012-05-18 標簽：測試嵌入式測試 1217 0

最新測試技術在芯片良率提高中發揮新作用

在納米設計時代，可制造性設計（DFM）方法在提高良率方面中已經占據了中心地位。為了實現更高的良率，人們在初始設計和制造過程本身采用了各種技術。由于采用了...

2012-05-10 標簽：測試芯片測試 2072 0

LED驅動器的可靠性和電磁兼容性測試方案

提高系統的可靠性的根源在于系統的設計。要使系統的元器件工作在正常狀態下，沒有過載超負荷等現象的發生，并且要有一定的余量。也可以通過設計備用 方案，使系統...

2012-05-09 標簽：LED測試LED驅動器 2825 0

為高電壓測試選擇最佳電纜

確保測試期間使用的電纜符合測試系統最大電壓額定值。在功率器件關閉狀態特性分析期間經常遇到高壓、低電流測試，要使用能夠實現這類測試所需性能的電纜。在高壓測...

2012-05-08 標簽：測試IT吉時利 1057 0

復雜RF環境下的RFID測試

隨著設備價格的下降及全球市場擴大，RFID應用正面臨飛速發展。嵌入式RFID的使用量不斷提高，隨著泛在ID中心（Ubiquitous ID Center...

2012-05-07 標簽：測試RFIDRF 1822 0

RFID測試技術分析

隨著閱讀器與標簽價格的降低和全球市場的擴大，射頻標識 RFID（以下簡稱RFID）的應用與日俱增。標簽既可由閱讀器供電（無源標簽），也可以由標簽的板上電...

2012-05-03 標簽：測試RFID 1255 0

設計早期對EMC的考慮

隨著產品復雜性和密集度的提高以及設計周期的不斷縮短，在設計周期的后期解決電磁兼容性（EMC）問題變得越來越不切合實際。在較高的頻率下，你通常用來計算EM...

2012-05-02 標簽：測試EMC 1591 0