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測試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì；由中文“測”與中文“試”兩個字組成的詞語。是動詞、名詞。測試行為，一般發生于為檢測特定的目標是否符合標準而采用專用的工具或者方法進行驗證，并最終得出特定的結果。
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對高速鏈路（如PCI Express）的全面表征需要對被測鏈路的發送端（Tx）和接收端（Rx）進行多差分通道的測量。由于需要在不同通道之間進行同軸連接的...
在電子技術飛速進步的今天，電子產品正變得越來越精密和復雜。電路板上的元件排布越來越密集，走線設計也越來越精細，這導致線路之間的間隔變得越來越小。為了適應...
DC-DC電源管理芯片效率測試，確保高效能與可靠性的關鍵步驟
DC-DC電源管理芯片DC-DC電源管理芯片在現代電子設備中扮演著至關重要的角色，從便攜式電子產品到工業控制系統，其應用范圍廣泛。為了確保這些設備的高效...
集成電路電磁兼容性及應對措施相關分析(三)集成電路ESD 測試與分析
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本文介紹了芯片極限能力、封裝成品及系統級測試。 本文將介紹芯片極限能力、封裝成品及系統級測試，分述如下： 極限能力測試 封裝成品測試（Final Tes...
CMMB不僅僅意味著一個標準，更意味著整個產業鏈。當CMMB如火如荼地開展運營嘗試時，一個更為重要的技術問題呈現出來：如何對CMMB各個環節進行檢測？針...
用戶在基于TSMaster軟件開發測試用例時，或需要使用TSMaster生成HTML報告時，需要使用TSMaster測試報告生成器。1Test_Repo...
晶振溫度特性測試通常會進行高達150℃的測試主要是因為以下幾個原因：1極端條件測試：在電子產品的設計和測試中，常常需要對元件在極端條件下的性能進行測試，...
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隨著電子科技的快速發展，5G通訊產品、A科技、可穿戴設備、智能電子產品(手機、手表等)以及新能源汽車等都離不開電池驅動。僅此，國內外電池廠商紛紛加碼擴產...
應對汽車器件混合信號測試的Falcon和Piranha解決方案
ATE制造商的主要考慮是VBAT上的最大電壓必須保持低于某一限定值 （通常為68 V）。在這一電壓限制之內，汽車不需要進一步的保護措施防止大電壓對人造成...
近年來，隨著半導體制程技術的不斷提升，工藝節點不斷縮小，單個芯片上有超過十億個晶體管。先進制程的發展伴隨著半導體工業對于良品率(Yield)和成本的追求...
采用高速ADC的單事件效應（SEE）：單事件瞬變（SET）2
總體而言，AD9246S在此測試中表現非常出色。測試期間記錄的樣本誤差很少，如該ADC的單事件效應測試報告表3-2所示。此外，觀察到的誤差幅度僅為ADC...
HAST是什么？在了解芯片的HAST測試之前，我們先要知道HAST是什么？HAST是HighlyAcceleratedStressTest的簡稱，中文名...
TSMaster信號比較模塊是專門針對測試而開發的一個模塊，可以對CAN，LIN，FlexRay以及系統變量等信號類型做信號測試。該模塊可以實時準確地判...
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