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標(biāo)簽 > 測(cè)試技術(shù)
測(cè)試技術(shù)闡述了測(cè)試技術(shù)的研究對(duì)象、理論基礎(chǔ)以及典型物理量的測(cè)試方法。培養(yǎng)讀者動(dòng)手能力為宗旨,著重?cái)⑹龌镜臏y(cè)試原理、信號(hào)的分析與處理方法、測(cè)試系統(tǒng)的特性以及測(cè)試技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì),并在此基礎(chǔ)上,對(duì)位移、振動(dòng)、噪聲、力、扭矩、壓力、溫度、流量等的測(cè)試分別進(jìn)行了闡述。
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互聯(lián)網(wǎng)路由交換測(cè)試技術(shù)介紹
為了滿足用戶對(duì)日益增長(zhǎng)的帶寬和業(yè)務(wù)的需求。運(yùn)營(yíng)商和設(shè)備制造商就必須對(duì)規(guī)模日益擴(kuò)大的IP承載網(wǎng)絡(luò)和日益成熟發(fā)展的路由交換技術(shù)設(shè)備進(jìn)行嚴(yán)格的測(cè)試,以保證高容...
2011-01-23 標(biāo)簽:互聯(lián)網(wǎng)測(cè)試技術(shù)路由交換 1211 0
華嶺股份全資子公司—上海華嶺申瓷集成電路有限責(zé)任公司(以下簡(jiǎn)稱:華嶺申瓷)在上海臨港舉行開業(yè)儀式。上海自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)臨港新片區(qū)管委會(huì)高科處副處長(zhǎng)吳海濤、...
2024-08-20 標(biāo)簽:集成電路半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù) 1204 0
面向界面的圖形化測(cè)試是一種常用的軟件測(cè)試方法,旨在驗(yàn)證用戶界面是否符合業(yè)務(wù)規(guī)范和用戶需求,以及驗(yàn)證應(yīng)用程序的功能是否正確響應(yīng)用戶操作,以保證應(yīng)用程序的質(zhì)...
2023-04-21 標(biāo)簽:測(cè)試技術(shù)圖形化GUI 1159 0
RFID協(xié)議一致性測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)(四)
EPC UHF Class 1 Gen 2標(biāo)準(zhǔn)RFID閱讀器協(xié)議一致性物理層測(cè)試項(xiàng)目如表5-3所示:
2012-03-28 標(biāo)簽:RFID測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試技術(shù) 1078 0
聚焦千兆光模塊和萬兆光模塊的測(cè)試技術(shù)及設(shè)備
本文主要探討了千兆光模塊和萬兆光模塊的測(cè)試技術(shù)及測(cè)試設(shè)備,讓讀者了解光模塊測(cè)試的具體方法。同時(shí),文章還對(duì)測(cè)試過程中需要注意的細(xì)節(jié)進(jìn)行了提醒和分析,讓讀者...
2023-11-06 標(biāo)簽:測(cè)試技術(shù)光模塊 1074 0
總投資1億美元,香港芯片封裝測(cè)試產(chǎn)業(yè)項(xiàng)目落戶南通開發(fā)區(qū)
近日,南通經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)委員會(huì)與香港亮鼎國(guó)際有限公司舉行簽約儀式,芯片封裝測(cè)試產(chǎn)業(yè)項(xiàng)目落戶南通開發(fā)區(qū)。
2024-08-25 標(biāo)簽:封裝測(cè)試測(cè)試技術(shù)芯片封裝 1061 0
基于導(dǎo)航接收機(jī)的DSP外設(shè)存儲(chǔ)器行進(jìn)測(cè)試技術(shù)
基于導(dǎo)航接收機(jī)的DSP外設(shè)存儲(chǔ)器行進(jìn)測(cè)試技術(shù) DSP作為電子系統(tǒng)中數(shù)字運(yùn)算的核心,所操作數(shù)據(jù)的正確性是系統(tǒng)正常運(yùn)行的基本保證。以導(dǎo)航接收機(jī)中的DSP應(yīng)...
2009-05-14 標(biāo)簽:測(cè)試技術(shù) 1043 0
PCB制作技術(shù)進(jìn)步促使測(cè)試技術(shù)革新
隨著表面貼裝器件和電路產(chǎn)品的不斷進(jìn)化,相關(guān)測(cè)試技術(shù)的要求也越來越高,“優(yōu)勝劣汰的”競(jìng)爭(zhēng)法則在PCB測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域也同樣適宜。 自從表面貼裝技術(shù)(S...
2010-10-26 標(biāo)簽:測(cè)試技術(shù)PCB制作 1007 0
展會(huì)邀請(qǐng)| Agitek安泰測(cè)試與您相約第5屆中國(guó)國(guó)際計(jì)量測(cè)試技術(shù)與設(shè)備博覽會(huì)!
? ????? 2023年5月17日至19日,第5屆中國(guó)國(guó)際計(jì)量測(cè)試技術(shù)與設(shè)備博覽會(huì)將在上海世博展覽館舉辦,西安安泰測(cè)試將攜專業(yè)測(cè)試測(cè)量設(shè)備及其測(cè)試方案...
2023-05-08 標(biāo)簽:計(jì)量測(cè)試技術(shù) 996 0
這些年來,由于產(chǎn)品的設(shè)計(jì)的高精度和高性能產(chǎn)品對(duì)元器件的質(zhì)量有比較高的要求,因此元器件等產(chǎn)品的高可靠性就成為人們考考慮的主要問題,處于對(duì)這種情況的考慮,基...
2012-06-11 標(biāo)簽:測(cè)試技術(shù) 990 0
電信級(jí)以太網(wǎng)測(cè)試技術(shù)研究
以太網(wǎng)作為一種快速、簡(jiǎn)單和高帶寬的局域網(wǎng),在企業(yè)網(wǎng)中已經(jīng)使用了30年以上,但是其應(yīng)用多年來一直被電信運(yùn)營(yíng)商所低估。隨著電信級(jí)以太網(wǎng)(CE)的出現(xiàn),運(yùn)營(yíng)商...
2011-01-23 標(biāo)簽:以太網(wǎng)測(cè)試技術(shù) 954 0
DEKRA德凱助力寧波成為全球供應(yīng)鏈中的關(guān)鍵參與者
10月10日,DEKRA德凱寧波分公司開業(yè)典禮成功舉辦。DEKRA德凱集團(tuán)董事會(huì)主席兼首席執(zhí)行官Stan Zurkiewicz先生、DEKRA德凱東亞及...
2023-10-11 標(biāo)簽:家用電器測(cè)試技術(shù)DEKRA 942 0
LitePoint加入O-RAN聯(lián)盟以期支持開放協(xié)同的無線接入網(wǎng)絡(luò)
O-RAN ALLIANCE 是一個(gè)全球性的社區(qū),致力于為移動(dòng)網(wǎng)絡(luò)開發(fā)和推廣開放性無線接入網(wǎng) (RAN) 產(chǎn)品與解決方案。聯(lián)盟擁有超過 300 間成員組...
2022-12-09 標(biāo)簽:無線測(cè)試技術(shù)萊特波特 905 0
2011新能源與新材料測(cè)試技術(shù)全國(guó)巡回研討會(huì)
美國(guó)吉時(shí)利(Keithley)儀器公司宣布將舉辦2011年度新能源與新材料測(cè)試技術(shù)全國(guó)巡回研討會(huì)。巡回研討會(huì)將從3月開始,在蘭州、武漢、長(zhǎng)沙、天津舉辦。
2011-03-03 標(biāo)簽:新能源2011測(cè)試技術(shù) 899 0
關(guān)于IP網(wǎng)絡(luò)測(cè)試技術(shù)與方法探討
關(guān)于IP網(wǎng)絡(luò)測(cè)試技術(shù)與方法探討 一個(gè)高品質(zhì)的網(wǎng)絡(luò)要通過業(yè)務(wù)設(shè)計(jì)和定位、網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)、設(shè)備選型、工程建設(shè)、方案驗(yàn)證和持續(xù)優(yōu)化、維護(hù)管理6個(gè)環(huán)節(jié)來保證,其中設(shè)備
2010-02-09 標(biāo)簽:IP網(wǎng)絡(luò)測(cè)試技術(shù) 869 0
40G、100G測(cè)試技術(shù)面臨的挑戰(zhàn)
如今的城域網(wǎng)在發(fā)生翻天覆地的變化。從接入層到核心層,伴隨網(wǎng)絡(luò)的全I(xiàn)P化,各種設(shè)備的更新?lián)Q代層出不窮,骨干網(wǎng)在這種新形勢(shì)下也開始“脫胎換骨”。其中最為顯...
2010-07-31 標(biāo)簽:測(cè)試技術(shù) 820 0
ST推出全球首款采用全非接觸式測(cè)試技術(shù)晶圓
意法半導(dǎo)體(STMicroelectronics,簡(jiǎn)稱ST)宣布,全球首款未使用任何接觸式探針完成裸片全部測(cè)試的半導(dǎo)體晶圓研制成功
2011-12-21 標(biāo)簽:晶圓ST測(cè)試技術(shù) 819 1
千兆光模塊和萬兆光模塊在現(xiàn)代通信設(shè)備中應(yīng)用廣泛,但其可靠性一直是光模塊廠家面臨的重要問題之一。本文將深入探討光模塊可靠性的提高方法,包括材料選擇、生產(chǎn)工...
2023-11-13 標(biāo)簽:測(cè)試技術(shù)可靠性光模塊 809 0
NI發(fā)布2011自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)展望
美國(guó)國(guó)家儀器有限公司發(fā)布了《2011自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)展望》,就影響測(cè)試測(cè)量的技術(shù)與方法發(fā)表了研究結(jié)果。
新一代信息技術(shù)掀起測(cè)試技術(shù)創(chuàng)新浪潮
第81屆中國(guó)電子展儀器展區(qū)是中國(guó)電子展的品牌展區(qū),它素以規(guī)模宏大,展商質(zhì)量較高,展學(xué)研并舉,而響譽(yù)業(yè)界。今年第81屆中國(guó)電子展上,儀器展區(qū)表現(xiàn)依然嬌好,...
2013-01-29 標(biāo)簽:中國(guó)電子展測(cè)試技術(shù) 767 0
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