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標(biāo)簽 > 顯微鏡
在17世紀(jì),人們發(fā)現(xiàn)把兩塊凸透鏡組合起來,能明顯的提高放大能力,這種裝置就是顯微鏡的前身。第一架真正的顯微鏡,是用一片凸透鏡和一片凹透鏡重疊起來組合而成,又稱為復(fù)式顯微鏡
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在失效分析領(lǐng)域,X射線檢測(cè)和超聲波掃描顯微鏡(C-SAM)是兩種重要的無損檢測(cè)技術(shù),它們各自具有獨(dú)特的特點(diǎn)和應(yīng)用場(chǎng)景。失效分析技術(shù)對(duì)比:X射線檢測(cè)(X-...
電子背散射衍射技術(shù)(EBSD):原理、測(cè)試方法與應(yīng)用領(lǐng)域
電子背散射衍射電子背散射衍射技術(shù)(EBSD),作為一種尖端的材料分析手段,融合了掃描電子顯微鏡(SEM)的精細(xì)成像與電子衍射的晶體學(xué)分析技術(shù)。電子束與樣...
用于材料領(lǐng)域的共聚焦顯微鏡可以觀察和分析材料的微觀結(jié)構(gòu)和特征,具體包括以下幾個(gè)方面:1.金屬材料的微觀形貌:共聚焦顯微鏡可以觀察金屬材料的表面形貌,如晶...
2024-04-25 標(biāo)簽:半導(dǎo)體顯微鏡光學(xué)顯微技術(shù) 900 0
熒光顯微鏡細(xì)胞圖像檢測(cè)實(shí)戰(zhàn)
該圖像數(shù)據(jù)集是 U2OS 細(xì)胞高通量化學(xué)篩選的一部分,其中包含 200 種生物活性化合物的示例。治療效果最初是使用細(xì)胞繪畫測(cè)定(熒光顯微鏡)成像的。該數(shù)...
2024-01-07 標(biāo)簽:顯微鏡模型數(shù)據(jù)集 895 0
基于CVD生長(zhǎng)的HfS?/MoS?異質(zhì)結(jié)高性能光電探測(cè)器
這項(xiàng)研究首次提出了一種由層間激子驅(qū)動(dòng)的高性能紅外光電探測(cè)器,該紅外探測(cè)器由化學(xué)氣相沉積(CVD)生長(zhǎng)的范德華異質(zhì)結(jié)所制備。這項(xiàng)研究標(biāo)志著光電器件領(lǐng)域進(jìn)步...
新開發(fā)的原子工程技術(shù)為高k電介質(zhì)中的鐵電行為提供了令人興奮的機(jī)遇,高k電介質(zhì)是與硅相比具有高介電常數(shù)的材料。這還可以為更先進(jìn)且具有更廣泛功能或特性的CM...
返修之后可以對(duì)重新裝配的元件進(jìn)行檢查測(cè)試,檢查測(cè)試的方法包括非破壞性的檢查方法,如目視、光 學(xué)顯微鏡、電子掃描顯微鏡、超聲波掃描顯微鏡、X-Ray和一些...
FIB技術(shù)在各領(lǐng)域的應(yīng)用及其運(yùn)作機(jī)制解析
雙束聚焦離子束(FIB)系統(tǒng)概述雙束聚焦離子束(FIB)系統(tǒng)是一種集成了單束聚焦離子束和掃描電子顯微鏡(SEM)功能的高精度微納加工技術(shù)。這種系統(tǒng)通過精...
透射電子顯微鏡(TEM)的優(yōu)勢(shì)及應(yīng)用
在現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的諸多領(lǐng)域中,透射電子顯微鏡(TransmissionElectronMicroscope,TEM)以其卓越的性能和廣泛的應(yīng)用,成為了材料...
本研究展示了利用廉價(jià)易得的家用物品,如鉛筆、攪拌機(jī)和洗滌劑,進(jìn)行石墨烯液相剝離的方法。通過創(chuàng)新性的方法,科學(xué)家們成功降低了石墨烯制備的成本,大大提高了其...
用于光學(xué)顯微鏡的新型波長(zhǎng)選擇器技術(shù)
許多光學(xué)顯微鏡應(yīng)用,特別是涉及熒光成像的應(yīng)用,需要波長(zhǎng)辨別,要么過濾寬帶照明源,要么過濾到達(dá)相機(jī)的圖像。虹科柔性波長(zhǎng)選擇器(FWS)是一種新型波長(zhǎng)濾波設(shè)...
什么是氬離子拋光儀?氬離子拋光儀是一種高精度的表面處理設(shè)備,它通過氬離子束對(duì)樣品進(jìn)行精密拋光,以揭示樣品表面的微觀結(jié)構(gòu)。這種技術(shù)在材料科學(xué)、半導(dǎo)體分析、...
在微米尺度上引導(dǎo)分子運(yùn)動(dòng)(molecular movement)有可能將光轉(zhuǎn)化為可持續(xù)能源(sustainable energy)。
2023-01-11 標(biāo)簽:顯微鏡 840 0
場(chǎng)發(fā)射電鏡(FESEM)應(yīng)用領(lǐng)域及案例分析
1?設(shè)備型號(hào)3臺(tái)和FIB聯(lián)用為雙束聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM),能夠?yàn)榭蛻籼峁I(yè)的材料分析服務(wù)。2?原理場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一種采用尖端肖特基熱場(chǎng)發(fā)...
本文采用傳統(tǒng)固相反應(yīng)工藝,在不同燒結(jié)溫度下制備了一系列CaCuTiO?(CCTO)陶瓷樣品,并對(duì)其微觀結(jié)構(gòu)以及介電和復(fù)阻抗性質(zhì)進(jìn)行了系統(tǒng)研究。研究結(jié)果表...
活細(xì)胞的“聚光燈”——前沿活細(xì)胞成像的案例分享
細(xì)胞是一切生命的基本單位,構(gòu)成了各式各樣的生命體。因此研究細(xì)胞的結(jié)構(gòu)以及內(nèi)部生命活動(dòng)過程可以幫助我們更深入地探究生命的奧秘,了解生命體是如何構(gòu)建和運(yùn)作的...
聚焦離子束(FIB)技術(shù)是一種高精度的納米加工和分析工具,廣泛應(yīng)用于微電子、材料科學(xué)和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。FIB通過將高能離子束聚焦到樣品表面,實(shí)現(xiàn)對(duì)材料的...
基于光子糾纏的自適應(yīng)光學(xué)成像技術(shù)應(yīng)用
對(duì)引導(dǎo)星的依賴給顯微鏡成像細(xì)胞和組織等不含亮點(diǎn)的樣本帶來了問題。科學(xué)家們利用圖像處理算法開發(fā)了無引導(dǎo)星的自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng),但這些系統(tǒng)可能會(huì)因結(jié)構(gòu)復(fù)雜的樣本而失效。
2024-03-11 標(biāo)簽:計(jì)算機(jī)顯微鏡光學(xué)成像 744 0
一探索微觀世界的利器掃描電子顯微鏡(SEM)在人類科技發(fā)展領(lǐng)域中扮演了至關(guān)重要的角色。它不僅極大地提高了我們對(duì)物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的認(rèn)識(shí),而且在多個(gè)領(lǐng)域內(nèi)發(fā)揮了...
蔡司EVO掃描電子顯微鏡進(jìn)行軸承清潔度檢測(cè)
INNIOGroup坐落于奧地利顏巴赫(Jenbach),是一家致力于創(chuàng)新能源生產(chǎn)和壓縮系統(tǒng)研發(fā)制造的企業(yè)。由于大型發(fā)動(dòng)機(jī)的功率不斷提高,單個(gè)組件承受的...
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