任何材料都會(huì)對(duì)入射到此材料的電磁波產(chǎn)生影響，例如，部分電磁波能量會(huì)被反射回入射的方向，也有部分可能會(huì)被透射到材料的另外的表面，還有部分電磁波能量會(huì)被消耗在材料中并轉(zhuǎn)換成為其他形式的能量，例如變成熱能。

　　不同的材料對(duì)不同頻率和能量的入射電磁波可能會(huì)有不同的特性表現(xiàn)。例如，眼鏡鏡片就是我們用于對(duì)光波（很高頻率的電磁波）進(jìn)行影響的一種材料。一般的視力校正鏡片希望入射的光波能量全部從鏡片的另外一個(gè)表面透射出來(lái)，而墨鏡鏡片主要是將入射的光波消耗掉（或反射回入射方向，例如表面金屬鍍膜），不同顏色的墨鏡對(duì)不同頻率（顏色）的光波的透射消耗不同。測(cè)量目標(biāo) · 介電常數(shù)：是描述材料與電場(chǎng)相互作用的一個(gè)量。一般為復(fù)數(shù)，其實(shí)部（ε’）表征外部電場(chǎng)中存儲(chǔ)于材料中的能量，虛部（ ε’’）表征外部電場(chǎng)在材料中消耗的能量。對(duì)于不同方向的電場(chǎng)，材料的介電常數(shù)可能不同。 · 磁導(dǎo)率：是描述材料與磁場(chǎng)相互作用的一個(gè)量。一般也為復(fù)數(shù)，同樣其實(shí)部（μ’）表征外部磁場(chǎng)中存儲(chǔ)于材料中的能量，虛部（ μ’’）表征外部磁場(chǎng)在材料中消耗的能量。有些材料，例如，鐵，鈷等金屬和其合金具有磁滯特性。如果知道了材料的介電常數(shù)和磁導(dǎo)率，我們就可以計(jì)算出電磁波在材料內(nèi)部和兩種不同材料的表面的反射，損耗和透射的特性。材料的高頻測(cè)量應(yīng)用通過(guò)對(duì)材料的高頻特性測(cè)量直接推算出此材料在高頻應(yīng)用中的表現(xiàn)，例如，對(duì)材料的電磁波吸收特性的測(cè)量，我們可以推算出將此材料涂在飛機(jī)表面后飛機(jī)對(duì)雷達(dá)的隱身效果。再例如，對(duì)纖維板材料的高頻特性測(cè)量，可以推斷出此類(lèi)材料是否適于作為電路板。

　　諧振法

　　主要包括高Q 腔法、矩形腔法、微帶諧振器法、帶狀線諧振器法、超導(dǎo)腔法、介質(zhì)諧振器法、諧振腔微擾法等。標(biāo)準(zhǔn)圓柱形諧振腔高Q腔法采用TE01p模，被測(cè)樣品加工成圓片狀置入腔內(nèi)，在測(cè)得諧振腔加載前后的諧振頻率和固有品質(zhì)因數(shù)后，可得介質(zhì)材料的微波復(fù)介電常數(shù)。該方法由于利用了腔的高Q值和被測(cè)樣品重加載，測(cè)試準(zhǔn)確度較高，往往在國(guó)家計(jì)量部門(mén)作為計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)。矩形腔法由塊狀被測(cè)樣品填充矩形腔，矩形腔的橫向尺寸與介質(zhì)大小一樣，而縱向?yàn)椴糠痔畛洌ぷ髂Ｊ酵ǔＨE10p模。采用較小介電常數(shù)的被測(cè)介質(zhì)材料置入諧振腔，對(duì)腔內(nèi)場(chǎng)進(jìn)行微小的擾動(dòng)，通過(guò)對(duì)諧振頻率進(jìn)行測(cè)量，可得介質(zhì)材料的復(fù)介電常數(shù)。但微擾較大時(shí)，將會(huì)出現(xiàn)較大的測(cè)試誤差。微擾法主要有TM0n0的圓柱腔微擾法和TE10p的矩形腔微擾法。超導(dǎo)腔法是利用當(dāng)測(cè)試腔置入低溫環(huán)境下其微波表面電阻低，Q 值高的特點(diǎn)對(duì)介質(zhì)材料的復(fù)介電常數(shù)進(jìn)行測(cè)量，因?yàn)樗腝 值較常規(guī)腔高得多，所以它尤其適用于對(duì)較低損耗材料的測(cè)量。微帶諧振器法通常將被測(cè)介質(zhì)作為環(huán)狀微帶諧振器的襯底，帶狀線諧振器法通常將被測(cè)基片作為帶狀線諧振器的襯底材料，對(duì)其諧振頻率和Q 值進(jìn)行測(cè)量，可求得復(fù)介電常數(shù)。該方法十分適合用于對(duì)基片復(fù)介電常數(shù)的測(cè)量。將圓柱形高介電常數(shù)、低損耗的被測(cè)介質(zhì)置入兩金屬板之間以構(gòu)成諧振器進(jìn)行測(cè)量的方法， 其測(cè)試的準(zhǔn)確度較高。這種方法對(duì)測(cè)高介電常數(shù)的介質(zhì)材料，目前仍為最有效的方法。諧振法在測(cè)試準(zhǔn)確度方面，尤其是低耗材料的損耗測(cè)試方面，比起傳輸要好得多。但是對(duì)于高損耗介質(zhì)材料，諧振法難以找到諧振峰。測(cè)試往往是在某一個(gè)頻率點(diǎn)進(jìn)行，從而限制了它的測(cè)試頻帶。近年來(lái)，為了彌補(bǔ)它的不足，往往采用多模技術(shù)以擴(kuò)展其測(cè)試頻帶。