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電子發(fā)燒友網(wǎng)>可編程邏輯>片上可編程系統(tǒng)>低成本生產(chǎn)測(cè)試 - 片上芯片SoC挑戰(zhàn)傳統(tǒng)測(cè)試方案

低成本生產(chǎn)測(cè)試 - 片上芯片SoC挑戰(zhàn)傳統(tǒng)測(cè)試方案

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通用MCU芯片廠商多年來(lái)所面臨的最大挑戰(zhàn)就是在激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中保持差異化,高品質(zhì)及高性能及方案解決能力和完善配套開(kāi)發(fā)軟件。差異化意味著MCU微控制芯片的定義需要面對(duì)市場(chǎng)需求快速收斂。通常一顆MCU
2021-11-10 06:49:50

探討由于5納米技術(shù)以及SoC中新的額外功能而帶來(lái)的新挑戰(zhàn)

。然而,這樣做會(huì)給物理實(shí)現(xiàn)和時(shí)序/功率收斂帶來(lái)挑戰(zhàn)。特別是高速I(mǎi)P,如SerDes、DDR、PCIE在大型SoC中的集成,需要仔細(xì)的floor planning,以減少項(xiàng)目時(shí)間,并實(shí)現(xiàn)定時(shí)/功率簽收。在這
2022-11-16 14:57:43

數(shù)模混合SOC芯片的可測(cè)性方案的實(shí)現(xiàn)

實(shí)際產(chǎn)品的測(cè)試需要,提出了基于JTAG接口的,包括了上述四中測(cè)試手段的可測(cè)性設(shè)計(jì)方案。該方案經(jīng)過(guò)SMIC 0.18微米工藝流驗(yàn)證,不僅證明功能正確,而且在保證了一定的覆蓋率的條件下實(shí)現(xiàn)了較低的測(cè)試成本,是‘項(xiàng)非常實(shí)用的測(cè)試設(shè)計(jì)方案。數(shù)模混合SOC芯片的可測(cè)性方案的實(shí)現(xiàn)[hide][/hide]
2011-12-12 17:58:16

時(shí)間調(diào)度算法issue解決后續(xù)及utest測(cè)試

rt_schedule_insert_thread的根據(jù)YIELD 狀態(tài)位來(lái)判斷時(shí)間是否用完就存在問(wèn)題了。  當(dāng)時(shí)臨時(shí)給出的方案如下,社區(qū)伙伴測(cè)試后,他們的問(wèn)題不復(fù)現(xiàn),解決了。  從本質(zhì)上來(lái)看,這是修改不完整導(dǎo)致。是我的問(wèn)題,當(dāng)時(shí)認(rèn)為方案
2022-11-24 14:47:53

有什么方法可以緩解RF電路在SoC中的集成挑戰(zhàn)嗎?

有什么方法可以緩解RF電路在SoC中的集成挑戰(zhàn)嗎?
2021-06-01 07:02:10

毫米波終端技術(shù)實(shí)現(xiàn)挑戰(zhàn)測(cè)試方案

之一的毫米波技術(shù)已成為目前標(biāo)準(zhǔn)組織及產(chǎn)業(yè)鏈各方研究和討論的重點(diǎn),毫米波將會(huì)給未來(lái)5G終端的實(shí)現(xiàn)帶來(lái)諸多的技術(shù)挑戰(zhàn),同時(shí)毫米波終端的測(cè)試方案也將不同于目前的終端。本文將對(duì)毫米波頻譜劃分近況,毫米波終端技術(shù)實(shí)現(xiàn)挑戰(zhàn)測(cè)試方案進(jìn)行介紹及分析。
2021-01-08 07:49:38

用于SoC的20V輸入的20A解決方案

用于工業(yè)和汽車(chē)系統(tǒng)的先進(jìn)SoC系統(tǒng))解決方案的功率預(yù)算不斷增加。每個(gè)連續(xù)的SoC產(chǎn)品都增加了耗電設(shè)備并提高了數(shù)據(jù)處理速度。這些器件需要可靠的電源,包括0.8V的內(nèi)核,1.2V和1.1V
2018-12-26 09:17:59

第五講 SOC系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)(2)

lSOC的應(yīng)用軟件以固化形式存入存儲(chǔ)器中,是一種嵌入式軟件。ll一般情況下,SOC芯片的存儲(chǔ)器容量較小,所以對(duì)應(yīng)用軟件有比較嚴(yán)格的要求。在SOC中運(yùn)行的應(yīng)用軟件應(yīng)容積小、實(shí)時(shí)性強(qiáng)。ll為了
2017-11-13 11:01:21

簡(jiǎn)單介紹SoC與SiP中芯片解密的應(yīng)用

開(kāi)始,掌握了其芯片設(shè)計(jì)技術(shù),再在高起點(diǎn)上進(jìn)行整合各個(gè)功能的IC,可最大程度地減少工程師的工作量。 芯片解密在SiP中的應(yīng)用作為替代方案,SiP 躍上整合晶片的舞臺(tái)。和 SoC 不同,它是購(gòu)買(mǎi)各家的IC
2017-06-28 15:38:06

英集芯首款無(wú)線充SoC芯片IP6808

一顆全集成SoC芯片,在無(wú)線充模塊可以做到BOM極簡(jiǎn),PCB僅有一顆主控芯片,所有功能由一顆芯片實(shí)現(xiàn)。極少的外圍件,有效降低開(kāi)發(fā)難度和成本,極大的精簡(jiǎn)了生產(chǎn)測(cè)試流程,便于產(chǎn)品的快速開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)和上市
2018-09-06 20:29:49

藍(lán)牙SoC是信息系統(tǒng)核心的芯片集成

本帖最后由 我愛(ài)方案網(wǎng) 于 2022-12-5 13:36 編輯 一、什么是藍(lán)牙SoC SoC,也即系統(tǒng)。從狹義講,這是信息系統(tǒng)核心的芯片集成,是系統(tǒng)關(guān)鍵部件在芯片的集成。從廣義
2022-12-05 13:21:29

請(qǐng)問(wèn)如何設(shè)計(jì)VLSI系統(tǒng)?

請(qǐng)問(wèn)有VLSI系統(tǒng)(SoC)設(shè)計(jì)的實(shí)用方法:綜合指南么?
2021-06-21 06:39:18

請(qǐng)問(wèn)無(wú)線充,MCU方案SOC方案,哪一個(gè)才會(huì)是無(wú)線充市場(chǎng)的主流?CS4967EF無(wú)線充電發(fā)送SOC芯片

SOC芯片都會(huì)比MCU方案好很多。 CS4967EF 電路為無(wú)線充電發(fā)送控制芯片,兼容無(wú)線充電聯(lián)盟(WPC)通訊標(biāo)準(zhǔn) 1.2,支持中功率(15W),支持多線圈充電,支持異物檢測(cè)功能,內(nèi)集成高性能 8 位 MCU,可以給符合 Qi 標(biāo)準(zhǔn)的無(wú)線充電接收終端充電。
2018-05-28 11:17:30

通用MCU呈現(xiàn)專(zhuān)用SOC化的趨勢(shì)

近幾年物聯(lián)網(wǎng)爆發(fā)式的增長(zhǎng)以及傳統(tǒng)產(chǎn)品的智能化改造對(duì)MCU提出了新需求。傳統(tǒng)MCU微控制器需要添加越來(lái)越多的外圍器件才能滿足這些新需求。例如傳感器的普遍使用對(duì)MCU微控制器的運(yùn)放、PGA和ADC都
2021-02-21 16:02:09

采用J750實(shí)現(xiàn)S698PM芯片BSD的測(cè)試

作者:*** 珠海歐比特控制工程股份有限公司摘要:S698PM芯片是一款抗輻照型的高性能、高可靠、高集成度、低功耗的多核并行處理器SoC芯片,其芯片內(nèi)部集成了豐富的外設(shè),可廣泛應(yīng)用在航空航天
2019-07-24 06:41:59

采用多相計(jì)量系統(tǒng)的0.5類(lèi)三相智能電表參考設(shè)計(jì)包含BOM,CAD文件及光繪文件

擁有 128KB 閃存以及一個(gè) 320 段 LCD 控制器,提供應(yīng)對(duì)低成本多相儀表設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)的單芯片解決方案。主要特色達(dá)到 0.5 類(lèi)精確度的低成本三相電表TI 能源庫(kù)固件可計(jì)算所有電能計(jì)量參數(shù)
2018-08-22 08:58:53

北斗/GPS時(shí)頻同步SOC芯片

AC4300時(shí)鐘SOC芯片一款可以提供面向GPS/北斗授時(shí)、IEEE 1588和同步以太網(wǎng)時(shí)鐘解決方案的高性能時(shí)頻同步SOC芯片。廣泛應(yīng)用于電信、交通、金融證券等領(lǐng)域。內(nèi)部集成多高性能鎖相環(huán)芯片
2022-08-11 16:54:29

GPS產(chǎn)品測(cè)試方案

GPS產(chǎn)品測(cè)試方案傳統(tǒng)GPS測(cè)試挑戰(zhàn)• LitePoint的IQnav解決方案傳統(tǒng)的單通道GPS信號(hào)源測(cè)試方案傳統(tǒng)的單通道測(cè)試流程– 兩個(gè)階段• 信噪比(SNR)/靈敏度
2009-10-06 15:10:2736

面向芯片設(shè)計(jì)的測(cè)試新理念

面向芯片設(shè)計(jì)的測(cè)試新理念?lèi)?ài)德萬(wàn)測(cè)試(蘇州有限公司)上海分公司李金鐵 劉旸摘要:SoC 芯片的發(fā)展使集成電路測(cè)試重要性越來(lái)越明顯,傳統(tǒng)測(cè)試概念已經(jīng)不適用現(xiàn)在和
2009-12-17 14:51:3315

基于IP核的SOC中ADC的測(cè)試技術(shù)

本文簡(jiǎn)單描述了 SOC 芯片測(cè)試技術(shù)的復(fù)雜性,模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)是SOC 芯片中的重要模塊,隨著器件時(shí)鐘頻率的不斷提高,高效、準(zhǔn)確地測(cè)試ADC 的動(dòng)態(tài)參數(shù)和靜態(tài)參數(shù)是當(dāng)今SOC
2009-12-23 15:50:2113

514.手機(jī)CPU(Soc)性能排行榜,數(shù)據(jù)時(shí)間2021-04-25

系統(tǒng)移動(dòng)芯片cpu/soc
小凡發(fā)布于 2022-10-04 21:49:27

519.soc系統(tǒng)

系統(tǒng)移動(dòng)芯片cpu/soc
小凡發(fā)布于 2022-10-04 21:57:51

嵌入式測(cè)試方案及高速測(cè)試技術(shù)

嵌入式測(cè)試方案及高速測(cè)試技術(shù) 前言   目前,在許多應(yīng)用領(lǐng)域,例如處理器、移動(dòng)電話、調(diào)制解調(diào)器等產(chǎn)品,SOC技術(shù)已經(jīng)成為主要的研究方向。這類(lèi)SOC芯片
2009-11-17 17:20:07306

LTE測(cè)試挑戰(zhàn)及安捷倫解決方案

為了克服以上LTE測(cè)試挑戰(zhàn),安捷倫提出了一個(gè)完整的LTE測(cè)試解決方案,為研發(fā)型和生產(chǎn)性的終端廠家提供了兩套方案
2012-04-09 11:27:56780

SoC系統(tǒng)知識(shí)與設(shè)計(jì)測(cè)試

本專(zhuān)題為你簡(jiǎn)述片上系統(tǒng)SoC相關(guān)知識(shí)及設(shè)計(jì)測(cè)試。包括SoC定義,SoC設(shè)計(jì)流程,SoC設(shè)計(jì)的關(guān)鍵技術(shù),SoC設(shè)計(jì)范例,SoC設(shè)計(jì)測(cè)試及驗(yàn)證方法,最新SoC芯片解決方案
2012-10-12 17:57:20

Cadence解決方案助力創(chuàng)意電子20納米SoC測(cè)試芯片成功流片

光刻物理分析器成功完成20納米系統(tǒng)級(jí)芯片SoC測(cè)試芯片流片。雙方工程師通過(guò)緊密合作,運(yùn)用Cadence解決方案克服實(shí)施和可制造性設(shè)計(jì)(DFM)驗(yàn)證挑戰(zhàn),并最終完成設(shè)計(jì)。
2013-07-09 15:53:24769

泰克應(yīng)對(duì)電源測(cè)試種種挑戰(zhàn)解決方案

泰克應(yīng)對(duì)電源測(cè)試種種挑戰(zhàn)解決方案
2016-12-25 00:38:410

MIPI測(cè)試挑戰(zhàn)和解決方案的詳解

本文詳細(xì)介紹了MIPI測(cè)試挑戰(zhàn)和解決方案
2017-11-15 11:43:1727

SoC設(shè)計(jì)的可擴(kuò)展驗(yàn)證解決方案

為了充分利用系統(tǒng)級(jí)芯片SoC)設(shè)計(jì)帶來(lái)的優(yōu)點(diǎn),業(yè)界需要一種可以擴(kuò)展的驗(yàn)證解決方案,解決設(shè)計(jì)周期中各個(gè)階段的問(wèn)題,縮短驗(yàn)證鴻溝。本文將探討可擴(kuò)展驗(yàn)證解決方案為何能夠以及如何解決SoC設(shè)計(jì)目前面臨的功能方面的嚴(yán)峻挑戰(zhàn),以達(dá)到提高設(shè)計(jì)生產(chǎn)力、保證設(shè)計(jì)質(zhì)量、縮短產(chǎn)品上市時(shí)間以及提高投資回報(bào)率的目的。
2018-06-04 03:13:00743

5G設(shè)備五大測(cè)試挑戰(zhàn)成功

寬帶5G設(shè)備的設(shè)計(jì)工程師和測(cè)試工程師亟需快速、準(zhǔn)確且經(jīng)濟(jì)高效的測(cè)試解決方案來(lái)確保新型芯片設(shè)計(jì)的可靠性。了解寬帶5G IC測(cè)試的最大測(cè)試挑戰(zhàn)及其解決方案
2019-07-24 11:24:055905

剖析車(chē)載SoC芯片測(cè)試挑戰(zhàn)

智能駕駛越來(lái)越進(jìn)入大眾生活的同時(shí),汽車(chē)芯片的類(lèi)型從之前的成熟封裝向先進(jìn)封裝演進(jìn),同時(shí)對(duì)測(cè)試的要求也愈加復(fù)雜。在保證芯片功能安全性的條件下如何優(yōu)化測(cè)試的方法是其中重要的挑戰(zhàn)。 月芯科技(ISE
2021-06-01 10:37:253916

soc芯片如何測(cè)試 soc是處理器嗎 soc是數(shù)字芯片還是模擬芯片

測(cè)試SoC芯片需要專(zhuān)業(yè)的測(cè)試設(shè)備、軟硬件工具和測(cè)試流程,同時(shí)需要一定的測(cè)試經(jīng)驗(yàn)和技能。并且在測(cè)試過(guò)程中需要注意安全問(wèn)題,避免對(duì)芯片造成損壞。
2023-05-03 08:26:003600

SoC芯片設(shè)計(jì)中的可測(cè)試性設(shè)計(jì)(DFT)

隨著半導(dǎo)體技術(shù)的飛速發(fā)展,系統(tǒng)級(jí)芯片SoC)設(shè)計(jì)已成為現(xiàn)代電子設(shè)備中的主流。在SoC設(shè)計(jì)中,可測(cè)試性設(shè)計(jì)(DFT)已成為不可或缺的環(huán)節(jié)。DFT旨在提高芯片測(cè)試的效率和準(zhǔn)確性,確保產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。
2023-09-02 09:50:101513

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