CHOTEST中圖儀器SJ5730粗糙度輪廓測量儀一體機具有12mm-24mm的粗糙度輪廓一體式測量范圍，分辨率達到0.1nm，一次測量可同時評定粗糙度及輪廓參數，分析評定R參數、P參數、W參數等微觀粗糙度參數及倒角、R角、直線度、位置尺寸、角度的宏觀輪廓參數。適合測量大曲面高精密零部件的輪廓參數測量，同時具備球面、弧面、非球面輪廓參數評價功能，能夠滿足各種高精密輪廓粗糙度加工行業的測量需求。
SJ5730粗糙度輪廓測量儀一體機同時可廣泛應用于精密機械加工、汽車、軸承、機床、模具、精密五金等行業。該儀器可以對零件表面的輪廓度、波紋度、粗糙度實現一次掃描測量，尤其是大范圍曲面、斜面進行粗糙度檢測，如圓弧面和球面、異型曲面進行多種粗糙度參數、微觀輪廓度參數的測量。同時儀器還可對各種精密零件輪廓度、波紋度進行測量，對形狀參數進行分析。是大曲面測量（軸承、人工關節、精密模具、齒輪、葉片、光學鏡片）領域精細粗糙度測量的利器。
產品功能
1.SJ5730粗糙度輪廓測量儀一體機一次測量可同時評定粗糙度及輪廓參數，分析評定R參數、P參數、W參數等微觀粗糙度參數及倒角、R角、直線度、位置尺寸、角度的宏觀輪廓參數；
2.表面粗糙度評定： R參數、P參數、W參數、核心粗糙度Rcore、Motif等微觀粗糙度參數評定；
3.圓球類零件輪廓及粗糙度參數測量評定；
4.表面輪廓評定：評定任何點/線間距、兩線夾角、圓弧半徑、直徑等幾何量尺寸參量，并可對輪廓進行直線度、圓度、輪廓度、平行度、位置度、垂直度等分析，重新分析和測量的操作簡潔高效；
5.尺寸標注：半徑、兩圓中心距離、X/Z尺寸、斜邊、兩線夾角、直線相交、直線與圓弧相交、圓弧與圓弧相交、尺寸標注線大小修改、線偏移、局部輪廓放大和調平等；
6.測量記錄采用集中式數據庫管理，可按被測件類型、生產單位、出廠編號、檢測員、送檢單位、設備編號、檢定日期和有效日期等查詢和管理測量記錄；
7.輸出多種格式報表(.doc，.docx，.xlsx，.pdf)，并支持自定義報表，定制測量記錄報表，可批量打印記錄表，具有數據備份和還原數據庫功能；
8.具備自動找拐點功能，能按照程序設置進行X軸自動找拐點；
9.成熟簡單的標定，儀器自帶高精度組合標定臺，可對儀器的精度和測針磨損進行精確補償；
10.可進行DXF（CAD）格式圖紙導入，進行理論圖紙與測量結果比對分析，可提供直觀圖形對比；
11.可導出坐標點數據（.TXT）等格式，可讀取到Excel或者CAD軟件內進行數據分析及標準輪廓比對；
12.可對多次測量的輪廓曲線匹配后進行分析測量重復性。
高精度、高穩定性、高重復性：滿足被測件測量精度要求
1)系統掃描軸采用特殊的超高耐磨材質復合材質摩擦片，耐磨性能優良，穩定性高，能保障系統長時間的穩定的直線度精度；
2)高精度轉軸采用特殊的高剛性、低慣量、超低摩擦系數的紅寶石轉軸系統，確保了轉動的超高靈敏度及測量精度；
3)超高穩定的驅動設計，確保了驅動運行過程中不產生任何的振動及干擾，保障了系統掃描運動精度；
4)高精度的納米級光學轉軸測量系統，保障了儀器超高的分辨率及全程納米級粗糙度測量精度；
5)一體式拔插式碳纖維測桿、高剛性、低慣量，一鍵拔插，特殊設計的高剛性拔插結構，無需鎖螺釘，方便快捷、穩定可靠；
技術參數
| 型號 | SJ5730-100 | ||
輪廓參數 |
測量范圍 | X軸 | 0~100mm |
| 立柱軸 | 0~300mm | ||
| Z軸 | ±6mm（標準測桿）（±12mm：兩倍標準測桿） | ||
| 分辨率 | X軸：10nm，Z軸：1nm、0.1nm | ||
測量精度 | 角度精度 | ≤0.5’ *備注：精度驗證以測量多面棱體角度為準 | |
| Z軸輪廓精度 | ≤±（0.5+0.03Z）μm（H，mm） | ||
| 標準圓弧Pt精度 | Pt≤0.4μm *備注：25mm以下標準球Pt測試 | ||
| 標準球測量誤差 | ≤±1μm（R≤10mm），≤±（0.17+R/12）μm（10 *備注：精度驗證以測量標準球弧度超過90度為準 | ||
| 移動速度 | X軸 | 0~20mm/s | |
| 立柱軸 | 0~20mm/s | ||
掃描速度（掃描軸） | 0.05～5mm/s | ||
| 直線度（掃描軸） | ≤（0.05+1.5L/1000）μm *備注：≤0.2μm/100mm | ||
| 測量力 | 0.5mN、0.75mN、1mN、2mN、3mN（電子檔位可調） | ||
粗糙度參數 | 適用Ra測量范圍 | Ra0.012μm~Ra12.5μm（可選更大范圍） | |
| 示值誤差 | Ra： ≤±(3nm+2.0%A)（A：測量Ra標稱值） | ||
| 重復性(1δ) | 1δ≤1nm *備注：0.1-0.2μm方波粗糙度樣塊、標準臺階塊測試 | ||
| 殘值噪聲 | Rq≤2nm *備注：1納米級粗糙度樣塊、平晶測試 | ||
粗糙度測量參數 | R粗糙度： Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,RzJ； Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc,Rmr； 核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo； P輪廓參數： Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax； W波紋度輪廓參數： Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc； Motif參數：R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte； 符合標準： GB/T3505-2009,ISO4287:1997,ISO 13565-2:1996,ASME B46.1-2002, DIN/EN/ISO 4287:2010,JIS B 0601:2013,JIS B 0601-1994JIS B 0601-1982, ISO 1302:2002； | ||
| 濾波器 | 高斯濾波器、2RC濾波器，相位修正濾波器 | ||
| 濾波長度 | 0.08、0.25、0.8、2.5、8.0、25mm可選 | ||
| 濾波長度 | λc×3、4、5、6、7、8可選 | ||
儀器尺寸（長×寬×高） | 600×350×850（mm） | ||
| 儀器總重量 | 約95Kg | ||
環境條件
溫度：20±5℃；
相對濕度：10%~80%；
電源/功率：220V，50Hz，≤1.5KW（含電腦及顯示器）；
振動：按照三坐標振動要求標準，振動速度均方根≤5um/s，振動頻率8~100Hz；
校準室內應無影響測量的灰塵、震動、噪音、氣流、腐蝕性氣體和較強磁場；
