特性
· 4156C提供4個內置的高分辨率的源/監控單元（HPSMUs），兩個電壓源單元（VSUs）和兩個電壓監控單元（VMUs）
· 1 fA 和0.2?UV的測試精度可滿足開發新工技術和評價材料
· 全Kelvin，每個HRSMU有激勵源、感應和接地端
· 完成準靜態的電容對電壓測試
· 自動提取處理參數而不需要人工操作屏幕光標
· 用極低泄漏的SMUs測量特有泄露特性
· 用集成的脈沖發生器和選擇開關自動完成器件表征
· 用內置的應力模式完成晶片的可靠性測試
· 用圖形用戶界面完成“點擊”測試
· 基于Windows環境的圖形數據分析能力
· 旋鈕掃描功能可以快速檢驗探針是否接觸正常
· 待機模式不需要外部電源
· 觸發模式可以同步AC/DC測試。
· IBASIC 用戶功能可以繪圖和分析數據。
Agilent4156C精密半導體參數測試儀
Agilent4156C精密半導體參數測試儀是Agilent下一代的精密半導體參數測試儀，4156C為高級器件表征提供了高精
頂 ji 參數分析的實驗室平臺。
較高的低電流、低電壓分辨率和內置準靜態CV測量能力，4156C還為以后和其他的測量儀器的擴展使用提供了堅實基礎。
41501B擴展測量能力到1A/200V，并給Agilent4156C增加一個低的噪聲接地單元和雙脈沖發生器。
